Способ контроля качества линз и объективов

 

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для контроля качества линз и объективов. Целью изобретения является повышение чувствительности путем устранения влияния величины сдвига исследуемого объекта на частоту ийтерференционных полос. Фиксируют на регистрирующей среде спекл-структуру прошедшего через объект излучения. После смещения объекта в его плоскости , параллельной плоскости регистрирующей среды, на величину а регистрирующую среду смещают на величину b, определенную из соотношения , где f - фокусное расстояние исследуемого объекта; 1 - расстояние от объекта до регистрирующей среды, выбрав направление смещения регистрирующей среды в зависимости от фокусирующих свойств объекта, фиксируют на регистрирующей среде спекл-структуру, фильтрацией в Фурье-плоскости спеклинтерферограммы получают интерференционную картину, по которой судят о качестве исследуемого объекта. ( (Л О5 00 05 ел СО

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСГ)УБЛИН

А1 (19) (11) (51) 4 G 01 В 9/021

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4020871/24-28 (22) 12,02.86 (46) 15.09.87. Бюл. ))- 34 (71) Сибирский физико-технический институт им. В,Д.Кузнецова при Томском государственном университете им.В.В.Куйбышева (72) В.Г,Гусев (53) 531 ° 717.2 (088.8) (56) Гусев В.Г., Баландин С.Ф. — Оптико-механическая промышленность. 1985, .1(6. с.40-44. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ЛИНЗ И

ОБЪЕКТИВОВ (57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для контроля качества линз и объективов. Целью изобретения является повышение чувствительности путем устранения влияния величины сдвига

I исследуемого объекта на частоту интерференционных полос. Фиксируют на регистрирующей среде спекл-структуру прошедшего через объект излучения.

После смещения объекта в его плоскости, параллельной плоскости регистрирующей среды, на величину а регистрирующую среду смещают на величину Ь, определенную из соотношения Ь=а 3/f, где f — фокусное расстояние исследуемого объекта; 1 — расстояние от объекта до регистрирующей среды, выбрав направление смещения регистрирующей среды в зависимости от фокусирующих свойств объекта, фиксируют на регистрирующей среде спекл-структуру, фильтрацией в Фурье-плоскости спеклинтерферограммы получают интерференционную картину, по которой судят о качестве исследуемого объекта.

Формул а изобретения

Составитель В,Бахтин

Редактор Н.Горват Техред M.Õoäàíè÷ Корректор Л.Бескид

Заказ 4117/35 Тираж 676 Подписное

ВНИ!ИП1 Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д, 4/5

Прои в лственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4

113

Изобретение относится к измери-. тельной технике и предназначено для контроля качества линз и объективов, Целью изобретения является повышение чувствительности путем устранения влияния величины сдвига контролируемого объекта на чистоту интерференционных полос.

Способ осуществляют следующим образом.

Освещают объект пучком когерентного рассеянного излучения и спеклструктуру прошедшего через объект излучения фиксируют на регистрируемой среде, Смещают исследуемый объект в его плоскости, параллельной плоскости регистрирующей среды, на величину а. После этого смещают регистрирующую среду на величину Ь, определяемую соотношенисм

Ь=а !f, где f - величина фокусного расстояния исследуемого объекта;

1 — расстояние от исследуемого объекта до регистрирующей среды.

Направление смещения выбирают в зависимости от фокусирующих свойств объекта для объектов с отрицательным знаком направление смещения регистрирующей среды одинаково с направлением смещения объекта, а для объектов с положительным знаком направления смещений противоположны. После этого повторно фиксируют на регистрирующей среде спекл-структуру прошедшего через объект излучения. Восстанавливают запись путем фильтрации спекл-интер7651 ? ферограммы I Фурье-и осK()(ти и II()вучают интерференцпонную карч ину, flo которой судят о качестве исследуемого объекта, 5

Способ контроля качества линз и объективов, заключающийся в том, что освещают исследуемый объект когерентным рассеянным излучением, фиксируют на регистрирующей среде спекл-структуру, смещают исследуемый объект в его плоскости параллельно плоскости регистрирующей среды, повторно фиксируют на регистрирующую среду спеклструктуру и получают интерференционную картину, по которой судят о качеэп стве объекта, о т л и ч а ю щ и й— с я тем, что, с целью повышения чувствительности контроля, перед повторным фиксированием спекл-структуры смещают регистрирующую среду в ее

25 плоскости на величину b удовлетворяющую условию

Ь=а /f, где а — величина смещения исследуемого объекта, ЭО f — величина его фокусного расстояния, 1 — расстояние от исследуемого объекта до регистрирующей среды, 35 направление смещения выбирают в зависимости от фокусирующих свойств объекта, а интерференционную картину получают путем фильтрации спекл-инерферограммы в Фурье-плоскости.

Способ контроля качества линз и объективов Способ контроля качества линз и объективов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерению макрорельефа поверхности объекта

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения радиусов кривизны зеркальных сферических отражателей и контроля их качества

Изобретение относится к измерительной технике, преимущественно к способам определения параметров диффузных объектов методами голографической и спекл-интерферометрии

Изобретение относится к области голографической интерферометрии

Изобретение относится к измерительной технике и позволяет повысить точность измерения смещений путем увеличения контраста интерференционных полос

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к двухэкспозиционной голографической интерферометрии, и может быть использовано при исследовании вибраций объектов, в том числе вращающихся, и других процессов

Изобретение относится к области оптических измерителей перемещений и может быть использовано для высокоточного бесконтактного интерференционно-голографического измерения перемещений объектов

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к области бесконтактного оптического измерения формы поверхности оптических изделий, например, сферических и асферических зеркал или линз в условиях оптического производства и лабораторных исследований

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле и испытаниях оптических изделий и исследованиях оптических неоднородностей в прозрачных средах, в частности в газодинамических и баллистических экспериментах, в широком спектральном диапазоне от вакуумного ультрафиолета до дальнего инфракрасного

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано, в частности, для определения напряженно-деформированного состояния магистральных газопроводов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может найти применение для бесконтактного определения рельефа поверхности, например, при контроле деталей на производстве, при исследовании различных физических и медико-биологических объектов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для определения перемещений методом голографической интерферометрии
Наверх