Способ выявления селективности тепловых преобразователей излучения

 

Изобретение относится к фотои радиометрии и может быть применено для измерения спектральных характеристик преобразователей излучения. Цель изобретения - упрощение и сокращение времени измерений . Селективность выявляется по измеренным величинам реакции преобразователей на излучение в исследуемом спектральном диапазоне и на интегральное излучение и. Для источника излучения с известным распределением энергии по спектру рассчитьгааются энергетические параметры: - для исследуемого спектрального диапазона и R.- для интегрального излучения. Селективность выявляется по отклонению величины (U)/U)/() от единицы. 1 ил. (Л с

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИА ЛИСТИЧЕСНИ Х

РЕСПУБЛИН

ÄÄS0Ä» I 3694 (51) 4 G 0 1 J 1/42

11 (ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Р"114" М " A

3 -88

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (4Ь) 07.09.88. Бюл. У 33 (21) 3811570/24-25 (22) 06.11.84 (72) И.И.Долгих (53) Ь21.383(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

11 717560, кл ° G 0 1 J 1/14, 1977, Hphn D. und Weidemann I. Zur Messung der relativen Spektralen Empfindl ichkeiten von photoelektronischen. Strahlungsempfangern. РТВ Mitteilungen Braunschweip, — Berlin, 31, August, 1965, S. 323-328. (54) СПОСОБ ВЫЯВЛЕНИЯ СЕЛЕКТИВНОСТИ

ТЕПЛОВЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ ИЗЛУЧЕНИЯ (57) Изобретение относится к фотон радиометрии и может быть применено для измерения спектральньж характеристик преобразователей иэлучения.

Цель иэобретения " упрощение и сокращение времени измерений; Селективность выявляется по измеренным величинам реакции преобразователей, на излучение в исследуемом сйектральном диапазоне V . и на интегральное иэ8 лучение U. Для источника излучения с иэвестным распределением энергии по спектру рассчитываются энергетичес" кие паРаметРы: К ь Л - длЯ исследУемого спектрального диапаэона и R.для интегрального излучения. Селективность выявляется по отклонению величины (Ць Л /U) /(кьЛ/R) от единицы. с

1 ил. l9

13Ь

Изобретение относится к фото- и радиометрии и может быть применено для измерения спектральных характеристик преобразователей излучения, в том числе приемников излучения.

Целью изобретения является упрощения способа и сокращение времени измерений.

На чертеже приведена схема устройства для осуществления способа.

Устройство содержит источник 1 излучения, набор 2 оптических фильтров и исследуемый преобразователь 3 (приемник) с измерительным прибором 4, Способ осуществляется следующим образом.

Излучение источника 1 стабилизируется по параметру Т, определяющему распределение излучения ио спектру (специальное устройство). В ход лучей от источника 1 на преобразователь 3 вводится i-ый оптический фильтр иэ набора 2, выделяющий исследуемый спектральный интервал дЛ„, с преобразователя 3 снимается сигнал U л h т1а падающее излучение R > h прн помощи измерительного прибора 4. Затем введенный фильтр выводится из хода лу чей. и на преобразователь падает интегральное излучение источника К и регистрируется сигнал

Далее находят отношение измеренных

U hh„ сигналов U --- — и отношение етн Ц

94 70 2 ственип сократить срок исследований, так как для всех преобразователей можно эаранее рассчитать отношения

К,„для всех фильтров.

Для осуществления способа может быть использован источник, выполненный либо в виде модели абсолютно черного тела, стабилизированной ио температуре, либо в виде светоиэмерительной лампы, а также набор дисперсионных, интерференционных и т.п. оптических фильтров с заранее известными спектральными коэффициентами пропускания.

1В Способ позволяет выявить наличие се1 лективности испытуемого преобразователя в любом интересующем спектральном интервале беэ расчета спектральной характеристики чувствительности

20 в целом, что особенно ценно для исследований в широкой области спектра.

Вся вычислительная работа по определению энергетического отношения R ети может производиться неэависимЬ от

25 результатов измерений соответствующих сигналов преобразователя, а эначит может быть выполнена однажды для целой группы фильтров и использоваться в дальнейшем для различных преобраэо-ЗО вателей, что существенно сокращает срок исследований.

Для i-ro фильтра иэ набора 2 величина R>h, рассчитывается по формуле лв

R», = ) г „7(Л)дЛ, 35 л„ где r — спектральная плотность л энергетического параметра излучения источника;

7(A) — спектральный коэффициент

40 иропускания i-го оптического фильтра, Л и л е — границы спектрального интерваЛа d1;, Энергетический параметр R интегрального излучения рассчитывается по формуле

R rhdh энергетических параметров, характеризующих падающее на преобразователь

Rishi излучение R = †--- иредварительотн R но рассчитав R dh, и R, По отклонению от единицы величины

1.1 ете 11 ahi /U судят о наличии се-! лективностй исследуемого преобразователя в любом спектральном диапазоне

dЛ;, выделяемом фильтром иэ набора

Источник излучения, фильтр и испытуее|1й преобразователь располагаются на одной оптической оси, причем взаимное расположение этих элементов должно сохраняться неизменным в течение всего периода измерений со всеми фильтрами.

Если есть необходимость в выявлении селективности несколькихт преобразователей, использование для этой цели одного устройства позволяет сущее 1 ет 1

Величина --л- определяет отноше50 отн ние коэффициента поглощения преобразователя излучения в спектральном интервале, выделяемом фильтром, к коэффициенту поглощения интегрального

Ы "-э"уч ння

Ф о р и у л а и з о б р е т е н и я

Способ выявления селективностн тепловых преобразователей иэлучення, 1369470 включающий выделение оптическими фильтрами излучения заданного спектрального интервала d4 от источника с известным непрерывным и неиэменяю5 щимся спектром, облучение этим излучением преобразователя и измерение сигнала U д p i преобразователя при регистрации этого излучения, о т л ич а ю щ н и с я тем, что, с целью 10 его упрощения и сокращения времени, дополнительно измеряют сигнал U npu облучении преобразователя интегральным излучением того же источника, а о наличии селективности судят по от- 15 клонению от единицы величины ния, проведшего через фильтр;

R -. г,1аЛ о энергетический параметр интегрального иэлу чения; . — спектральная плотность энергетического параметра излучения источника

С; (4) - спектральный коэффициент пропускания i-ro оптического фильтра

11л ié

Rah 11R где R л, 6 i „ ; (л>а1

ЛО

- границы спектрального интервала ah i.

20 — энергетический параметр иэлучеСоставитель В.Варнавский

Техред M.Õîäàíè÷ Корректор И.Иуска

Редактор Е. Кравцова

Тираж 499

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва ° Ж-35, гаушская 1яаб. ° д, 4/5

Подписное

Заказ 5159

Проиэводственно-полиграфическое предприятие, г,ужгород, ул.Проектная, 4