Способ регистрации и измерения потока ик излучения

 

Использование: в полупроводниковой технике и для регистрации и измерения потока ИК излучения. Сущность изобретения: в способе регистрации и измерения потока ИК-излучения фоторезистором на основе кремния, легированного селеном, включающем приложение к его контактам постоянного напряжения, освещение фоторезистора и регистрацию сигнала с резистора нагрузки, прикладывают напряжение U(В) в диапазоне 1,4 103 d <U <1,7 103 d, регистрируют частоту колебаний тока f (Гц) в резисторе нагрузки и определяют величину потока ИК-излучения Рф (Вт/см2) из соотношения: Pф = f U/b, где d - длина образца между контактными областями, см; b - постоянная величина для данного фоторезистора, определяемая по приведенному соотношению в указанном диапазоне напряжений хотя бы при одном известном значении Рф. Технический результат заключается в получении усиленного переменного фотосигнала, пропорционального потоку ИК-излучения непосредственно с фоторезистора без применения модуляции потока. 1 табл.

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для регистрации и измерения потока ИК-излучения.

Известный способ регистрации и измерения потока ИК-излучения примесным фоторезистором [1] включает приложение к его контактам постоянного напряжения, освещение фоторезистора через оптический модулятор и регистрацию сигнала с резистора нагрузки, включенного последовательно с примесным фоторезистором.

Данный способ, несмотря на широкое использование, обладает рядом недостатков. Наиболее существенным является необходимость использования оптического модулятора и затем усиления переменной составляющей фотосигнала до необходимой величины с помощью узкополосных измерительных усилителей.

Наиболее близким к предлагаемому способу является способ регистрации и измерения потока ИК-излучения примесным фоторезистором на основе кремния, легированного селеном [2]. Этот способ включает приложение к контактам примесного фоторезистора на основе кремния, легированного селеном, постоянного напряжения, освещение фоторезистора через оптический модулятор и регистрацию сигнала с резистора нагрузки, включенного последовательно с примесным фоторезистором.

Основными недостатками являются также использование оптического модулятора и затем усиление переменной составляющей фотосигнала до необходимой величины с помощью узкополосных измерительных усилителей. Это приводит к усложнению измерительной системы, добавлению дополнительных шумов измеряемого тракта и использованию дорогостоящего оборудования.

Техническим результатом изобретения является получение усиленного переменного фотосигнала, пропорционального потоку ИК-излучения непосредственно с фоторезистора без применения модуляции потока.

Технический результат достигается тем, что в способе регистрации и измерения потока ИК-излучения на примесном фоторезисторе на основе кремния, легированного селеном, включающем приложение к его контактам постоянного напряжения, освещение фоторезистора и регистрацию сигнала с резистора нагрузки, прикладывают напряжение U (B) в диапазоне 1,4103d<U<1,7103d регистрируют частоту колебаний тока f (Гц) в резисторе нагрузки и определяют величину потока ИК-излучения Pф (Вт/см2) из соотношения Pф = fU/b где d - длина образца между контактными областями, см; b - постоянная величина для данного фоторезистора, определяемая по приведенному соотношению в указанном диапазоне напряжений хотя бы при одном известном значении Pф.

Сущность предлагаемого изобретения состоит в следующем.

Известно, что селен в кремнии является донором с энергией основного состояния Eс - 0,29 эВ и возбужденного Eс - 0,03 эВ. При частичной компенсации мелкой акцепторной примесью (например, бором) образуются положительно заряженные ионы селена, которые служат центрами захвата (ловушками) для электронов.

В случае низкой температуры, когда термических обмен с зоной проводимости затруднен, такой полупроводник имеет большое сопротивление и, следовательно, большое среднее время диэлектрической релаксации, значительно превосходящее другие характерные времена (время жизни и время пролета), определяющие релаксацию фотопроводимости в традиционном способе. При этом распределение электрического поля в фоторезисторе в основном определяется зарядом электронов, захваченных на ловушки и суммарный заряд которых много больше концентрации носителей в зоне проводимости.

Под действием ИК-засветки в фоторезисторе происходит однородная генерация электронов с основного состояния уровня Eс - 0,29 эВ в зону проводимости. Обратный процесс захвата в основное состояние происходит через имеющиеся возбужденные состояния. При приложенном напряжении, за счет быстрого выноса электронов, большая часть носителей заряда захватывается вблизи анодной области фоторезистора. В результате образуется локально связанный заряд, приводящий к перераспределению электрического поля в образце. В следующий момент времени электроны, замедляя движение вблизи связанного заряда, будут захватываться более эффективно у его левой границы, сдвигаясь к области катода. Одновременно генерация светом приводит к освобождению связанного заряда на ловушках правой границы. Таким образом, в стационарном состоянии происходит непрерывное движение связанного заряда по ловушкам против направления дрейфа электронов в зоне проводимости.

При возрастании приложенного напряжения в фоторезисторе формируется дрейфовое электрическое поле, в котором происходит разогрев носителей заряда. Разогрев носителей приводит к уменьшению эффективности захвата свободных носителей и возрастанию вероятности ударной ионизации захваченного на ловушки заряда. Ударная ионизация носителей с возбужденного состояния примеси нарушает описанное выше стационарное состояние и в фоторезисторе формируется новое, автоколебательное состояние, регистрируемое в виде колебаний тока в нагрузочном резисторе.

Возникшее автоколебательное состояние поддерживается за счет механизмов внутреннего усиления флуктуаций тока с определенным отбором частот и характеризуется дисперсионным соотношением, связывающим частоту осцилляций тока f с приложенным напряжением U и примесной ИК-засветкой Pф f = bPф/U причем b = ed/20khc
где
e - заряд электрона;
d - длина фоторезистора между контактными областями;
- коэффициент поглощения;
0 - абсолютная диэлектрическая проницаемость кремния;
k - волновое число;
h - постоянная Планка;
- длина волны излучения;
c - скорость света.

Коэффициент b постоянен для данного фоторезистора и определяется по известному потоку ИК-излучения хотя бы в одной точке. Интенсивность измеряемого потока ИК-излучения определяется путем измерения частоты токовых осцилляций при известном приложенном напряжении и коэффициенте b.

Выбор диапазона напряжений обусловлен по минимуму необходимым достижением времени пролета и степенью разогрева, а по максимуму - ударной ионизацией с возбужденного состояния во всем объеме фоторезистора.

Проверка предлагаемого способа регистрации и измерения потока ИК-излучения проводилась экспериментально.

Пример. Образцы были изготовлены путем легирования кремниевой пластины марки КДБ-20 донорной примесью - селеном до концентрации ~1016 см-3. Омические контакты создавались путем подлегирования фосфором до концентрации 1020 см-3. Площадь фоторезистора составляла 3,1410-2 см2, а длина 1,610-2 см.

Измерения проводились при температуре 78 К, на образец подавалось постоянное напряжение U от 24,03 до 27,94 В и ИК-засветка с длиной волны 3,1 мкм с различными потоками Pф (для контроля потока ИК-излучения использовался эталонный фотоприемник). В результате с резистора нагрузки регистрировался периодический токовый сигнал с частотой f, пропорциональной Pф и обратно пропорциональный U. Результаты измерений сведены в таблицу. Определенное значение b составило ~ (1,7750,125)108 Втсм2/Втс. При проведении экспериментов c модулированным на разных частотах световым потоком выявлен резонансный характер выходного сигнала с максимумом на частоте генерации при постоянном потоке.

По сравнению с прототипом предлагаемый способ обладает следующими преимуществами.

1. Увеличивает чувствительность примесного фоторезистора за счет механизма внутреннего селективного усиления флуктуаций в узком частотном диапазоне.

2. Отсутствует необходимость использования оптического модулятора, поскольку необходимый для усиления на переменном токе периодический сигнал формируется за счет внутренних свойств фоторезистора.


Формула изобретения

Способ регистрации и измерения потока ИК излучения фоторегистром на основе кремния, легированного селеном, включающий приложение к его контактам постоянного напряжения, освещение фоторезистора и регистрацию сигнала с резистора нагрузки, отличающийся тем, что регистрируют частоту колебаний тока f (Гц) в регисторе нагрузки и определяют величину потока Рф (Вт/см2), связанную с f и приложенным напряжением U (B) в диапазоне
1,4103d<U<1,7103d,
соотношением
Рф=fU/b,
где d - длина образца между контактными областями, см;
b - постоянная величина, определяемая из приведенного соотношения хотя бы по одному известному значению Рф.

РИСУНКИ

Рисунок 1



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электротехнике, в частности к конструированию фотоэлектрических потенциометров для следящих систем, и может быть использовано при изготовлении датчиков угловых и линейных перемещений для устройств автоматики и вычислительной техники

Изобретение относится к усилителям оптических сигналов и может использоваться в системах оптической обработки информации и в волоконно-оптических линиях связи (ВОЛС)

Изобретение относится к полупроводниковым приборам, чувствительным к ИК-излучению

Изобретение относится к полупроводниковым детекторам ядерных излучений

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к оптическим первичным полупроводниковым преобразователям, предназначенным для преобразования оптической информации в электрический сигнал

Изобретение относится к области оптического приборостроения, более конкретно к осветителям и спектральным приборам на их основе

Изобретение относится к способам испытания блоков фотоэлементов, а точнее к способам испытания целостности или испытания на наличие вышедшего из строя элемента в матрицах фотоэлементов

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к способам измерения освещенности изображения, и может найти применение для обработки оптической информации, в том числе для бесконтактного измерения температуры

Изобретение относится к приборостроению, а более конкретно к устройствам регулирования экспозиции, и может быть использовано в микроэлектронике при проведении фотолитографического процесса

Радиометр // 1793272
Изобретение относится к фотометрии, изобретения - увеличение точности измерений

Изобретение относится к химическим исследованиям, а именно к атомно-абсорбционной спектроскопии Цель изобретения - повышение быстродействия с сохранением точности установкой длины волны Это достигается введением в устройство блока управления скоростью, блока анализа граничных частот, датчика импульсов ключей управления, блока переходов, блока анализа ситуаций и задатчика длины волны

Изобретение относится к метрологии пороговых характеристик фотоприемников и фотоприемных устройств и касается определения относительной спектральной чувствительности (ОСЧ)

Изобретение относится к технике оптических измерений и может быть использовано для определения формы волнового фронта оптического излучения, в частности для определения угловых координат источника оптического излучения

Изобретение относится к фотоэлектронике и может быть испольэовано для регистрации слабых световых потоков

Изобретение относится к технике измерения оптических характеристик атмосферы с целью определения метеорологической дальности видимости при метеообеспечении взлета и посадки воздушных судов, а именно к технике контроля линейности световых характеристик фотоэлектрических преобразователей светового коэффициента пропускания
Наверх