Устройство для измерения параметров объектива

 

Изобретение относится к фотоэлектрическим устройствам. Цель изобретения - повьшение точности и расширение области применения. Изображение сетки 4 анализируется фотоэлектрическим анализатором 6 с обработкой информации в электронном блоке 10. Установка дополнительных диафрагм между испытуемым объектом 16 и коллиматором 1 с последующим измерением кружков рассеяния и продольных перемещений фотоэлектрического анализатора 6 позволяет оценить величину продольной и поперечной сферических аберраций . Замена сетки 4 на миру ГОИ и переключение ПЗС-матрицы 9 на режим телевизионного приемника дают возможность визуального контроля качества объектива по всему полю по изображению миры ГОИ на-кинескопе. 2 ил. &

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

4 Ai (19) (11) (51) 4 С 01 M 11 02

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

9(Г л () 7л 1 кт 4 «4Р. с с

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ

H АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4108647/24-10 (22) 18.06.86 (46) 29,02.88. Бюл. Ф 8 (72) И.И. Зарва, Г.А. Зорин, В,A.Куринько и В.Н. Кононенко (53) 535.317.7(088,8) (56) Авторское свидетельство СССР (623124, кл. G 01 M 11/02, 1976.

Патент Японии У 46-23655, кл. 106 С 1, 1971. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ОБЪЕКТИВА (57)Изобретение относится к фотоэлектрическим устройствам. Цель изобретения — повышение точности и расширение области применения. Изображение сетки 4 анализируется фотоэлектрическим анализатором 6 с обработкой информации в электронном блоке 10.

Установка дополнительных диафрагм между испытуемым объектом 16 и коллиматором 1 с последующим измерением кружков рассеяния и продольных перемешений фотоэлектрического анализатора 6 позволяет оценить величину продольной и поперечной сферических аберраций. Замена сетки 4 на миру ГОИ и переключение ПЗС-матрицы 9 на режим телевизионного приемника дают возможность визуального контроля качества объектива по всему полю по изображению миры ГОИ на кинескопе, 2 ил.

1377644

Изобретение относится к фотоэлектрическим устройствам измерения фокусного расстояния и аберраций объективов, Целью изобретения является повышение точности и расширение области применения, На фиг. 1 изображена принципиальная схема устройства для измерения параметров объектива; на фиг. 2 — вид штрихов сетки и соответствующих им эпюр видеоимпульсов на выходе формирователя видеоимпульсов и сигнала образцовой частоты синхрогенератора. 15

Устройство для измерения параметров объективов содержит коллиматор 1, в состав которого входят осветитель

2 с набором оптических фильтров 3, сетка 4 с центральным и полезным 20 штрихами и объектив 5. Объектив 5 может быть как зеркальным, так и линзовым.

Фотоэлектрический анализатор 6 установлен на каретке 7 механизма пере- 25 мещения и отсчета по координатам Х, Y H Z. Привод 8 обеспечивает перемещение анализатора 6 вдоль оптической оси коллиматора 1. Чувствительный элемент фотоэлектрического анализа- 30 тора 6 выполнен в виде фотоприемной матрицы 9 с зарядовой связью (ПЗСматрицы).

Электронный блок 10 состоит из формирователя 11 видеоимпульсов,счетчика 12 импульсов, вычислительного устройства (вычислителя) 13, синхрогенератора 14, цифрового индикатора

15 информации. Причем формирователь

11 видеоимпульсов, счетчик 12 импульсов и вычислительное устройство 13 последовательно подключены к ПЗСматрице 9, а к каждому из них подключены выходы синхрогенератора 14.

Выход вычислительного устройства 13

45 подключен к индикатору 15 информации и приводу 8 механизма продольных перемещений фотоэлектрического анализатора 6.

Формирователь 11 видеоимпульсов представляет собой электронный блок, содержащий схему формирования огибающей видеосигнала и схему формирования из огибающей видеоимпульса, которые в свою очередь состоят из устройства выборки — хранения и фильтра нижних частот (не показаны).

Вычислительное устройство 13 выполнено иэ известных элементов вычислительной техники . сумматоров, цифровых компараторов, регистров (не показаны).

Устройство для измерения фокусного расстояния работает следующим образом, Испытуемый объектив 16 устанавливается на оптической оси объектива 5 коллиматора 1. В фокальной плоскости коллиматорного объектива 5 расположена сетка 4 с двумя или несколькими штрихами, центральным 17 (фиг, 2) и полевыми — 18.

Изображение сетки формируется в фокальной плоскости испытуемого объектива 16.

Это изображение анализируется фотоэлектрическим анализатором 6 с обработкой информации в электронном блоке

10. Перемещениями вдоль осей Х, У и Z фотоэлектрический анализатор (чувствительная площадка ПЗС-матрицы 9) устанавливается в фокальной плоскости испытуемого объектива 16. Признаком размещения чувствительной площадки

ПЗС-матрицы 9 в фокальной плоскости является информация, снимаемая с цифрового индикатора 16 о минимальной ширине видеоимпульса 19, вызываемого центральным прозрачным штрихом 17 сетки 4.

Видеоимпульсы 19 и 20 формируются из видеосигналов, поступающих с ПЗСматрицы 9, формирователем 11 видеоимпульсов.

Расстояние между прозрачными штрихами сетки 4 и размеры штрихов

Ы = Ы можно измерить заранее на универсальном микроскопе или компараторе с высокой точностью.

После установки ПЗС-матрицы 9 (фиг. 1 и 2) в фокальной плоскости испытуемого объектива 16 с цифрового индикатора 15 (фиг. 1) снимают инl формацию о расстоянии М между видеоимпульсами 19 и 20, вызываемыми изображениями прозрачных штрихов 17, 18 сетки 4.

Фокусное расстояние испытуемого объектива f равно

f об

f = — f аз кт где f — фокусное расстояние коллиматора.

Измерение ширины видеоимпульсов и расстояния между ними производится с помощью известного способа заполнения измеряемых интервалов N N

1377644 го (но уже интегрального) контроля качества объектива по всему полю по изображению миры ГОИ на кинескопе.

Фие. й

Составитель В. Архипов

Техред М. Ходанич

Корректор М. Максимишинец

Редактор Л, Повхан

Заказ 860/35 Тираж 847 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4

N, N (фиг. 2) импульсами 21 образцовой частоты синхрогенератора 14 с последующим их подсчетом счетчиком

12. Причем расстояние между видео5 импульсами определяется между их центрами. Нри выдаче информации с вычислителвного устройства 13 о размерах центрального видеоимпульса поступают команды на привод 18 механиз-10 ма продольных перемещений фотоэлектрического анализатора 6 на перемещение анализатора до момента фиксации в вычислительном устройстве 13 минимальной ширины центрального видеоимпульса 19. Сравнением величин Ы и

I о с учетом увеличения системы объектив — коллиматор определяют дисторсию.

Установка дополнительных диафрагм между испытуемым объективом 16 и коллиматором 1 с последующим измерением кружков рассеяния и продольных перемещений фотоэлектрического анализатора 6 позволяет оценить величину 25 продольной и поперечной сферических аберраций.

Замена сетки 4 с прозрачными штрихами по миру ГОИ и переключение ПЗСматрицы 9 на режим телевизионного приемника дают возможность визуально формула изобретения

Устройство для измерения параметров объектива, содержащее коллиматор с осветителем, сеткой и объективом, фотоэлектрический анализатор, установленный с возможностью перемещения и отсчета перемещения вдоль оптической оси испытуемого объектива с помощью привода, и электронный блок,. соединенный с фотоэлектрическим анализатором,о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности и расширения области применения, фотоэлектрический анализатор выполнен в виде фотоприемной матрицы с зарядовой связью, а электронный блок выполнен из формирователя видеоимпульсов, счетчика, вычислителя, индикатора, последовательно соединенных между собой, и синхрогенератора,выход которого подключен к формирователю видеоимпульсов, счетчику и вычислителю, при этом выход вычислителя подключен к приводу фотоэлектрического анализатора.

Устройство для измерения параметров объектива Устройство для измерения параметров объектива Устройство для измерения параметров объектива 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптическому приборостроению и позволяет расширить область регулировки контраста тест-изображения

Изобретение относится к оптике и позволяет повысить точность юстировки исследуемого зеркала путем улучшенной визуализации положения его оптической оси

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано при разработке устройств контроля качества оптических деталей и определения фазовых искажений в прозрачных оптических средах

Изобретение относится к технической физике и может быть использовано в энергетической фотометрии

Изобретение относится к области оптического приборостроения и может быть использовано для определения фотографической разрешающей способности

Изобретение относится к волоконной оптике и позволяет повысить точность измерений затухания путем обеспечения идентичности мощности возбуждаемой в противоположных потоках излучения

Изобретение относится к измерительной технике и позволяет повысить точность измерения за счет увеличения отношения сигнал/шум

Изобретение относится к оптическому приборостроению и позволяет ПОВЫСИТЬ точность и расширить эксплуатационные возможности устройства за счет снижения ограничения на размер испытуемых объективов

Изобретение относится к интегральной оптике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения расстояния до места повреждения оптического кабеля и, в частности, для определения расстояния до места повреждения оболочки оптического волокна, для оценки зоны повреждения кабельной линии, длины кабельной вставки

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения места повреждения кабеля с металлическими элементами

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения потерь оптической мощности в соединении оптических волокон при монтаже оптического кабеля при проведении аварийно-ремонтных работ на линии связи, в процессе строительства волоконно-оптических линий передачи

Изобретение относится к контролю характеристик волоконно-оптического кабеля, используемого в системах связи, для измерения распределенной температуры и напряжения вдоль оптических волокон
Наверх