Фотометрический способ определения высоты шероховатостей поверхности оптически прозрачных плоских деталей

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано , в частности, для контроля шероховатостей поверхности оптически прозрачных деталей. Цель изобретения - повышение точности определения за счет исключения погрешностей, связанных с нелинейностью фотоприемника . Направляют поочередно на рабочие поверхности детали монохроматический поток излучения и измеряют для каждой поверхности коэффициенты р, , р диффузного отражения и коэффициенты /ЕГ, , диффузного пропускания, а о высоте RCK ск-г. шероховатости каждой из повврхностей судят по формулам; RQK, ( А;41Г)(р,- с:.-Ь(р,-Я):(а -Ь ) ; R,, ()(ргг 1)-Ь(р.- г:,): ( ) ; где(2п+п5):2(п2 + О, 4п2 - / -(1-п)2 :2(п2 + 1); 7i - длина волны монохроматического потока излучения; п - показатель преломления исследуемой детали. 1 ил. Ь (Л с

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК уц 4 С О1 В 11/30

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н A ВТОРСКОМ .К СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4205526/24-28 (22) 12.12.86 (46) 23.05.88. Бюл. Ð 19 (72) Е.А.Несмелов, P.Ê.Hóõàìåäîâ, А.Г.Афанасьева и Н.П.Матшина (53) 531.715.27 (088.8) (56) Кучин А.А., Обрадович К.А.

Оптические приборы для измерения шероховатости поверхности. — Л.: Машиностроение, 1981, с. 111-115, 150-151 .

Авторское свидетельство СССР

Ф 872959, кл. G 01 В 11/30, 07 ° 09.79. (54) ФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЫСОТЫ ШЕРОХОВАТОСТЕЙ ПОВЕРХНОСТИ

ОПТИЧЕСКИ ПРОЗРАЧНЫХ ПЛОСКИХ ДЕТАЛЕЙ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для контроля шероховатостей поверхности оптически

„„SU„„1397727 A 1 прозрачных деталей. Цель изобретенияповышение то чно сти о пределе ния за счет исключения погрешностей, связанных с нелинейностью фотоприемника. Направляют поочередно на рабочие поверхности детали монохроматический поток излучения и измеряют для каждой поверхности коэффициенты р» р диффузного отражения и коэффициенты ь диффузного пропускания, а о высоте

R u R „ шероховатости каждой из ск, ск поверхностей судят по формулам: К „, =

=(М 4Ю» (n(Р«) (p )1

» с» =(:4» )» (a(p»-с,,)-Ъ(р -c, )j: (àã-Ъг ) ° где a=(2n+n ): 2 (n2+1), Ъ=п (4nг — (-(1-n)2):2(n +1); h — длина волны монохроматического потока излучения; п — показатель преломления исследуемой детали. 1 ил. С:

1397727

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для контроля шероховатостей поверхности оптически прозрачных деталей.

Цель изобретения — повышение точности определения за счет исключения погрешностей, связанных с нелинейностью фотоприемника. 10

На чертеже изображена принципиальная схема установки для реализации предлагаемого способа.

Установка содержит источник 1 монохроматического излучения (лазер), фотометрический шар 2 с отверстиями

3 — 4 и фотоприемник 6.

Способ осуществляют следующим образом. 20

Ионохроматический пучок излучения от источника 1 направляют перпендикулярно к поверхности 7 образца 8, 1 установленного за отверстием 4 так, что диффузно отраженное от поверхности 7 излучение без потерь попадает в фотометрический шар 2. Зеркально отраженная часть потока через отверстие 3 отводится в пространство вне фотометрического шара 2. Диффузно отраженное от поверхности 7 излучение попадает в фотометрический шар

2, где оно интегрируется и создает на приемной поверхности фотоприемника 6 через отверстие 5 освещенность, пропорциональную коэффициенту Р, диффузно отраженного от поверхности

7 излучения. Затем образец 8 переворачивают и аналогично определяют коэффициент О диффузно отраженного 40 излучения от поверхности 9.

Далее образец 8 помещают между источником 1 излучения и отверстием 3 параллельно первоначальному положе- 45 нию образца 8. При этом регулярно прошедшее через образец 8 излучение отводится через отверстие 4 в про-странство вне фотометрического шара

2. Диффузно проходящие через образец 50

8 потоки излучения раздельно с обеих поверхностей 7 и 9 интегрируются в фотометрическом шаре 2 и создают на приемной поверхности фотоприемника 6 через отверстие 5 освещенности, пропорциональные коэффициентам с,, Г диффузно проходящим через образец 8 излучением.

Высоты R u R „ шероховатостей

1 с«z определяют по формулам

4 «

% Га (P, — с ) -Ь (p — с, ) "г 4 к а -Ь

2+n+n

27п2+1) 3 и (4п — (1-и) ) где а =

2 (n +1) — длина волны монохроматичес.кого излучения источника;

n — - показатель преломления исследуемого образца.

Благодаря измерению величин р, и Т,, с одного порядка можно работать в сравнительно узком диапазоне чувствительности фотоприемника и уменьшить относительную погрешность определения.

Формула изобретения

R с«1 411

Я

R скz 4«

2+и+и

2 (и +1) Ь и f4n — (1-и) г)

2 (и +1) — длина волны монохроматичес-! кого потока излучения;

n — - показатель преломления исследуемой детали.

Фотометрический способ определения высоты шероховатостей поверхности оп" тически прозрачных плоских деталей, заключающийся в том, что направляют поочередно на обе поверхности детали монохроматический поток излучения, измеряют коэффициенты р, и р, диф- . фузного отражения и определяют высоты R „ и Rcк шероховатостей ск, ск поверхностей, о т л и ч а ю щ и и с я тем, что, с целью повышения точности определения, измеряют коэффициенты с, и С диффузного пропускания для этих поверхностей, а

Rñ« H В-ск опРеделяют по формулам

1397727

Составитель Л.Лобзова

Редактор И.Горная Техред А.Кравчук Корректор Г,Решетник

Заказ 2261/38 Тираж 680 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г ° Ужгород, ул, Проектная, 4

Фотометрический способ определения высоты шероховатостей поверхности оптически прозрачных плоских деталей Фотометрический способ определения высоты шероховатостей поверхности оптически прозрачных плоских деталей Фотометрический способ определения высоты шероховатостей поверхности оптически прозрачных плоских деталей 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля шероховатости поверхности по методу темного поля

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля изделий оптического приборостроения и позволяет выявлять локальные дефекты на внутренних поверхностях каналов микроканальных пластин по всей их длине Способ заключается в заполнении ьйскроканалов на всю их длину нематическим жидким кристаллом СНЖЙТ под действием капиллярных сил и наблюдении излучения торцов микроканалов с помощью поляризационного микроскопа

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано , в частности, для контроля качества поверхности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля чистоты радиусных поверхностей

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля шероховатости движущихся поверхностей

Изобретение относится к измери тельной технике, в частности к области оптического приборостроения

Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь- 39вано для контроля дефектов поверхности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля качества металли .-еских покрытий на технических изделиях в процессе их нанесения

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано Л.1Я контроля шеро.ховатости поверхности

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх