Способ определения качества изображения

 

ОПИСАН ИЕ l45667 ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советокиз

Социзлистическиз

Республик

К АВТОРСКОА4У СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства ¹â€”

Кл. 21, 13/25

2)о, 29/40

Заявлено 22.Н.1961 (¹ 721316/40-23) с присоединением заявки ¹

Приоритет

МГ)К Н 011

Н Oll

QTJ К

Комитет по делом изооретеиий и открытий при Совете Министров

СССР

Опубликовано 09.V1.1967. Бюллетень !¹ 13

Дата опубликования описания 25Х111.)967

Авторы изобретения

В. И. Руфанов и К. Ф. Прокофьева

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА ИЗОБРАЖЕНИЯ

ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ

ПО ЧАСТОТНО- КОНТРАСТНЫМ ХАРАКТЕРИСТИКАМ

ЭКРАНОВ костного потенциометра 10, служащего для регулировки напряжения, подаваемого на электронную линзу 6. Световое изображение миры с экрана 8 посредством объектива II, 5 укрепленного в трубке 12, проектируется через щель 18 и ограничитель 14 на катод 15 фотоумножителя 16. Выход фотоум ножителя

16 через усилитель постоянного тока 17 подключен к измерительному прибору 18. Для

10 визуального наблюдения миры служит оптическая система, содержащая поворотное зеркало 19 и линзы 20 и 21. Для перекрытия светового потока служит подвижная заслонка 22.

Перл1ещая щель 18 при помощи ручного

15 привода 28 или двигателя 24, снабженного кулачком 2д, на катод 16 умножителя 16 п130ектируют световые потоки от светлых и темных полос изображения миры и, фотометрируя эти изображения при помощи измерительного

20 прибора 18 определяют значения микроконтрастов на участке частот формирования изображения в электронно-оптическом преобразователе. По значениям микроконтрастов производят оценку разрешающей способности

25 преобразователя.

П р едм ет из о бр ет ения

Известные способы определеш1я качества изображения электронно-оптически; преобра=-ователей (ЭОП) по разрешающей способности их экранов не обеспечивают полу IeIIIIs однозначных результатов, так как в ряде случаев качество изображения у преобразователей с экраном, обладающим высокой разрешающей способностью, получается более низким, чем у преобразователей, снабженных экраном, имеющим относительно низкую разрешающую способность.

Согласно предложенному способу повышение точности оценки качества изображения

ЭОП достигнуто использованием в качестве критерия ожидаемого качества изображения значения микроконтрастов исследуемых экранов.

Для пояснеш1я описываемого способа на чертеже 11зображена схема gcT;1110131ilI д 111 пО луче 1ия значений микроконтрастов.

На пути электронного пучка 1, создаваемого катодом 2 и фомируемого электронной сптикой, содержащей управляющий электрод

8, анод 4, диафрагму б и электронную линзу 6, размещают металлическую миру 7. Теневое изобрахкение миры проектируется на исследуемый люминесцирующий экран 8. Электронная оптика, мира и экран размещены в вакуумированном объеме 9. Масштаб изображения миры плавно меняется посредством жидСпособ определения качества изоораже30 ния электронно-оптических преобразователей

145667

4 д ц

Редактор Е. А. Кречетова Texpeä А. А. Камышиикова Корректоры: Н. И. Быстрова и В. В. Крылова

Заказ 2801 2 Тираж 535 Подиисиос

Ц1111ИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Мииисзров CCCI

Москва, Цеитр, пр. Серова, д. 4

Типография, ир. Сапи ова, 2 (ЭОП) по частотно-контрастным характеристикам экранов, отличающийся тем, что, с целью получения данных об ожидаемом пределе разрешения ЭОП, миры разли ных час. тот проектируют электронной оптикой на люминесцирующий экран, фотометрируют изображения миры и по значениям микроконтрастов па участке частот формирования изображения в ЭОП оценивают величины разрешаю5 щей способности ЭОП.

Способ определения качества изображения Способ определения качества изображения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электронной технике, в частности к электронно-оптическим преобразователям, используемым для временного анализа быстропротекающих процессов, сопровождающихся оптическим излучением

Изобретение относится к электронным вакуумным приборам, в частности к эмиссионным микроскопам и видеоусилителям, и раскрывает способ визуализации и увеличения изображений исследуемых объектов

Изобретение относится к электронным приборам, работающим в электронографическом режиме с пико-фемтосекундным временным разрешением, и может быть использовано для изучения структурных превращений вещества при проведении исследований в области физики, химии, биологии, медицины, в приборо- и машиностроении

Изобретение относится к вакуумной фотоэлектронике и может быть использовано при изготовлении инверсионных микроканальных электронно-оптических преобразователей (ЭОП)

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано в наблюдательных и прицельных приборах

Изобретение относится к области электронных приборов, в частности к эмиссионным видеоустройствам

Изобретение относится к электровакуумной технике, в частности к изготовлению ЭОП с прямым переносом изображения

Изобретение относится к электронной технике, конкретно к электронно-оптическим преобразователям изображения

Изобретение относится к электронной оптике и может быть использовано в электронно-оптических преобразователях (ЭОП)
Наверх