Микроскоп

 

Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных частиц и может быть испол 13овано в техтрековых детекторов для наблюдения следов частиц в фотоэмульсии. Цель изобретения заключается в том, чтобы увеличить отношение сигнала к шуму при наблюдении и считывании следов. Микроскоп включает источник 1 коллимированного пучка света, первое зеркало 2 в форме конуса, второе зеркало 3 с аксиально-симметричной отражающей поверхностью и с разрушающей в виде параболы, иммерсионную ванну 4, объектив 5, окуляр 6, Сущность изобретения заключается в том, что поверхность второго зеркала 3 выполнена с образующей в виде параболы, а. фокусировка света от источника 1 освещения осуществлена в окружность, а не в точку посредством выбора определенного фокусного расстояния . этого зеркала в зависимости от среднего расстояния от второго зеркала до оптической оси микроскопа, от толщины ядерной фотоэмульсии и высоты этого зеркала вдоль оптической оси микроскопа, t ил, о (Л

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН (19) (11) А1 (g1) 4 С 01 Т 5/10

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 4215528/31-25 (22) 24,03,.87, (46) 15,10,88. Бюл. М 38 (71) Объединенный институт ядерных исследований (72) Л.М,.Сороко. (53) 539. 1.073,2(088,8) (56) Цасняк Л.С, и др, Металлическое зеркало, - М.: Машиностроение, 1983, с. 85-92, Кулагин С,В. и др, Оптико-механические приборы, - М,: Машиностроение, 1984, с. 15-16, (54) МИКРОСКОП (57) Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных час-. тиц и может быть использовано в технике трековых детекторов для наблюдения следов частиц в фотоэмульсии, Цель изобретения заключается в том, чтобы увеличить отношение сигнала к шуму при наблюдении и считывании следов.

Микроскоп включает источник 1 колли-, мированного пучка света, первое зеркало 2 в форме конуса, второе зеркало

3 с аксиально-симметричной отражающей поверхностью и с разрушающей в виде. параболы, иммерсионную ванну 4, объектив 5, окуляр 6, Сущность изобретения заключается в том, что поверхность второго зеркала 3 выполнена с образующей в виде параболы, а фокусировка света от источника освещения осуществлена в окружность, а не в точку посредством выбора определенного фокусного расстояния этого зеркала в зависимости от среднего расстояния от второго зеркала до оптической оси микроскопа, от толщины ядерной фотоэмульсии и высоты этого зеркала вдоль оптической оси микроскопа ° 1 ил, 1430920

Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных частиц и может быть использовано в технике трековых детекторов при исследовании свойств короткоживущих частиц, Цель изобретения — повышение отношения сигнала к шуму при наблюдении следов частиц, идущих параллельно оптической оси микроскопа, путем 10 изменения конструкции второго зеркала с аксиально симметричной отражающей поверхностью.

На чертеже схематично изображен предлагаемый микроскоп, 15

Микроскоп, преимущественнб для наблюдения следов частиц в ядерной фотоэмульсии (ЯФЭ), содержит источник 1 коллимированного пучка света, первое зеркалб 2 в форме конуса, 20 второе зеркало 3 с аксиально-симметричной отражающей поверхностью и с образующей в виде параболы, иммерсионную ванну 4, объектив. 5 и окуляр 6. 25

Параллельный пучок света из источника 1 коллимированного пучка света падает на коническое зеркало 2 и преобразуется вторым зеркалом 3 в систему лучей света, которые про- 30 ходят через протяженную область на оптической оси высотой h и далее фокусируются в окружность, которая располагается над иммерсионной ванной

4. Лучи света, дифрагированные на следе частиц, идущем параллельно оптической оси и попавшем в освещенную область, захватываются объективом 5 с уменьшенной апертурой. Благодаря этому увеличенное изображение ука- 40 занного следа частицы рассматривается при помощи окуляра 6 на всю толщину слоя ЯФЭ.

Микроскоп работает следующим образом. 45

ЯФЭ устанавливают на иммерсионную ванну 4 слоем вниз так, что между слоем ЯФЭ и иммерсионной жидкостью образуется оптический контакт. Включают источник 1 коллимированного пучка света. Зеркала 2 и 3 вместе с иммерсионной ванной 4 формируют область с высокой плотностью освещенности в виде цилиндра высотой h, Если след частицы, идущий параллельно оп-:.5 тической оси, попадает в освещенную область, то он виден на всю глубину при помощи объектива 5 и окуляра 6 с высокой эффективностью, Для того, чтобы освещенная область в форме цилиндра имела заданную глубину h необходимо, чтобы образующая второго зеркала имела вид параболы, а фокусное расстояние параболы

КН где R — среднее расстояние

Н-h от второго зеркала до оптической оси микроскопа, h — толщина слоя ЯФЭ, Н - высота второго зеркала вдоль оптической оси микроскопа. Кроме того, надо уменьшить апертуру объектине л Ла величины oL, - 2 -,7Ь, rye Ъ, — средняя длина волны источника коллимированного пучка света, который должен быть полихроматическим, чтобы достигаемое повышение отношения сигнала к шуму не ухудшалось нежелательными когерентными эффектами. Для ф, = 0,5 мкм, h = 200 мкм, Ы. = 0 1, Только при соблюдении условия уменьшения апертуры объектива 5 до о, = 0,1 след частицы, идущей параллельно оптической оси микроско.— па, виден на всю глубину, Результирующее разрешение микроскопа равно диаметру цилиндра освещенной области, который может быть равным 1 мкм.

Пример. Первое зеркало в виде конуса имеет высоту 10 мм и угол конусности 90 . Среднее расстояние от второго зеркала до оптической оси

R = 40 мм, высота второго зеркала

Н = IO мм, Фокусное расстояние параболы — образующей второго зеркала системы освещения и = 40,8 мм. Первое и второе зеркала системы освещения изготавливают из,металла методом прецизионного алмазного точения.

Формула изобретения

Микроскоп, преимущественно для наблюдения следов частиц в ядерной фотоэмульсии, содержащий последовательно расположенные вдоль оптической оси микроскопа источник коллимированного пучка света, первое зеркало в форме конуса и второе зеркало с аксиально-симметричной отражающей поверхностью, иммерсионную ванну, объектив и окуляр, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью повышения отношения сигнала к шуму при наблюдении следов частиц, идущих парал-. лельно оптической оси микроскопа, 1430920 где R — - среднее расстояние от второго зеркала до оптической оси микроскопа; второе зеркало с аксиально-симметричной отражающей поверхностью выполнено с образующей в виде параболы, фокусное расстояние которой f выбрано из условия

RH

f «

Н-h

hтолщина ядерной фотоэмульсии; высота второго зеркала вдоль оптической оси микроскопа.

Составитель А. Шадрин редактор Л. Пчолинская Техред Л.Олийнык КорреК Top:0, Кравцова

Заказ 5341/49

Тираж 522

Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Микроскоп Микроскоп Микроскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к экспериментальной ядерной физике элементарных частиц и может быть использовано в технике трековых детекторов для наблюдения следов частиц в ядерной фотоэмульсии

Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных частиц и может быть использовано в технике наблюд.ения следов ядерных частиц в фотоэмульсии

Изобретение относится к экспериментальной ядерной физике, и в частности к способам трековой регистрации ионизирующего излучения с помощью эмульсий

Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных частиц и может быть использовано в технике трековых детекторов при исследовании свойств элементарных частиц

Изобретение относится к устройствам для регистрации следов заряженных частиц и может быть использовано в физике элементарных частиц в экспериментах на ускорителях

Изобретение относится к фотографическим методам регистрации заряженных частиц

Изобретение относится к устройствам для просмотра ядерной фото эмульсии

Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных частиц и может быть использовано в методике ядерной фотоэмульсии при исследовании короткоживущих элементарных частиц
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано в экспериментах на ускорителях
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано при регистрации заряженных частиц на ускорителях
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано в экспериментах с применением твердотельных трековых детекторов
Изобретение относится к области электрометаллургии и может быть использовано для плавки в вакуумно-дуговых печах слитков из титана и его сплавов, легированных изотопом углерод-14, в частности для проведения авторадиографических исследований

Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных частиц и может быть использовано в технике наблюдения треков ядерных частиц в фотоэмульсии

Изобретение относится к экспериментальной ядерной физике и может быть использовано в технике для просмотра следов ядерных частиц в фотоэмульсии

Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных частиц и может быть использовано для
Наверх