Устройство для наблюдения следов частиц в ядерной фотоэмульсии

 

Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных частиц и может быть использовано в технике наблюдения треков ядерных частиц в фотоэмульсии. Цель изобретення заключается в упрощении устройства для наблюдения следов частиц в ядерной фотоэмульсии. Устройство содерж15т S систему ocBeaieiiHR 1 , собирающую ци линдрическуто линзу 2, прямоугольную призму 3, объектив 4 микроскопа окуляр 5 микроскопа,, систему 6 ния и контроля положения ядерной фотоэмульсии. Сущность изобрете1 ия заключается в том, что используют одну ПрЯМОуГОЛЬН та призму, при ЭТОЬ5 объектив микроскопа наколится в нк- MspcffoHHoM контакте с одной малой гранью этой призь;ы5 в то время как система освещекит построена через другую малую грань призмь, а большая грань находятся в имь ерсиоииом кон-такте с фотоэмульсией. Это позволяет упростить конструкщгю путем использования только одной призмы и, кроме того, ycKTs;HTb процесс наблюден{1Я следов. 1 .и- 1, с У . f

„.,SU„143 9 О

А1 (51) 5 G 01 Т 5/10 ееОвмц 1 - цт (, д",1:,.", r . 1

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

1(:„

ГОСУДАРСТ8ЕННЫИ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (46) 15 ° 09.90. Бюл. Ф 34 (21) 4215530/31--25 (22) 24.03,87 (») Объединенный институт ядерных исследований (72) Л.И.Сороко (53) 539.1.073.7 (088.8) (56) Кулагин С.В. и др. Оптико-механические приборы. И.: Машиностроение, 1984, с. 18-19.

Авторское свидетельство СССР

Ф 1352430, кл. С 01 Т 5/10, 1986. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ НАБЛЮДЕНИЯ СЛЕДОВ

ЧАСТИЦ В ЯДЕРНОЙ фОТОЗМУЛЬСИИ (57) Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных частиц и может быть использовано в технике наблюдения треков ядерных частиц в фотоэмульсии. Цель изобретения захлю чается в упрощении устройства для наблюдения следов частиц в ядерной фотоэмульсии. Устройство содержит систему освещения f, собирающую цилиндрическую линэу 2, прямоугольную призму 3, объектив 4 мнкроско а, окуляр 5 микроскопа, систему 6 перемещения и контроля положения ядерной фотаэмульсии. Сущность иaîáðåòåèèÿ заключается в том, что используют одн; прямоугольну-о призму, при этом объектив микроскопа находится в иммерсионном контакте с одной малой гранью этой приaìû,. в то время как система освещения построена .ерез другую малую г;..ань призмы, а бельгая грань наход тся в нммерсионном контакте с фотоэмульсией. Это позволяет упростить конструкцию путем ИСBQJIbзования т лько одной призмы и, крома того, уск-.,:ить процесс наблюдения следов.! }13(990

Иэо(}ре reit}te Относится )(-.KcпериMeHT«rI Jt}>}1O }f! фИЭИК Е ЭПЕМЕН "аРНbliK ЧЯГтиц и может быть испопьэ<)ВЯВО в методике ядер}}ой Ф<)тоэмульси}; при иссле .) дав анни ксроткоживущих «) f

На чертеже схематически изображено предлагаемое устройство.

YCTp0ACTB0 J!JI}EI Наблюд<зния Гче}(013 частиц в ядерной фотозмульсии соде э)t(HT систему освещения !} ..Оби})ающую цилиндрическую линзу 2} }ря}-}оугольную призму 3, объектив < микроскогпа, окуляр 5 микроскопа, с с ему b перамещения и контроля положэния ядер}<ой фаТОЭМУЛЬ(ИИ.

Лучи света из систем.:: Освещения

}1 прохОДят чЕрЕЗ собирующую цилиндрическую линзу 2, входят н прямоугольную призму типа АР-90 3 и сжи- 25 маются в ленточ}3ь}й пучок н области слоя Яде рнОА фотоэмульс}}и «Л)(чи cR та > д?}фряГHpOВHнные на )}ре)явленне.гх зернах в ядерной фотоэм ) "<}bc} } попадают н об)ьектив J) микроскопа При

" «< пОмощи Окуляр<э 3 микроскоп < наблк)дают увеличенные изображения =.å:=,ðåí се— ребра, которыс находятся н тО?}ком слое освещенной области., }>ла:.-Одаря наличию иммерсионного Kr? T-àк;гя лу -}и

3 ) све га распространяются (: ез преломления H B rp B}IHL<,e аздела I р?}змь} THH}3.

AP-90 3 и объектива (}. }Прот:=()}(е}1:acòb освещенной области вдо}11-. (оптической оси c?tcteMb} освещения у:тро:-..(стна !i;IB 30 на 1 }1 } 2, где }} — то<пщин" слоя ядерной фотоэмупьсии, Для i =- 0„? }и>

0,3 мм и -.Олщина ленточного пуч-. ка в месте расположения ядер;}ой фото-= эмульсин вдоль эп<тическ(«й ()ся микро-г 7 скопа составит Л Е = — ) .1 или dZ

2 6 мкм, Весь лентОчный пучОК на ука з анную толщину будет нахсдитьсЯ и <зб50 ласти резкого изображения микроскопа, если числовая апертура объектива микроскопа составит не более А =- 0,4.

В этих условиях разрешении микроскопа

ДХ равно около О,я икм, и проблемь}

55 перефокусировки па глубине не ВОзни" кает. Угол между оптической осью системы освещения и оптической осью микроскопа должен составлять 90

У(рой чF!o }.: I ня(). 1} .: "k! }я с. . n В

Ч Я Г T 1! i t В ЯД Е . () r I O l i ф и Т 0 . «M ". i ?> " 1! H ":; Я <1 . )—

ТЯ(. Т; Л Pд)<ЮП<}1}«OI } I) (1 1 ОМ, БК..П "}ЯЮТ С: ГТ: М" .".СВЕЩЕ< ИЯ < И

CHC ТЕМУ 1) ГIЕ1) < 1!Р}цp II)tR и К < fiТ:.>ОЛ В::.) лежения Яде рн<.!I !)()т<:эму.< ВГН<.. !!.

)313(«>ЕЯТ В i!K!I«< () ИО IВ}t}f i<Îfl < В -т слоем Ядерной ф» -o-) .}ул В-.} и, )бп,- кти В

<< М И K. Р < ) (K O l! I В < > !, <1 Т 1 1< IM Е> ) r <) < l- >

КОИ т(3 кт Г itр} 1 - I o I } . }1p}! и Ом«)п;,и <} 1 .-,—

ГВ!) Я ) ПРОИЗВ(,}Я " (), 1110", Я. 3ОВ Vl(< }IЯП >П

Y . }Я <(}ОКУС УВ < li и l (3 I ki0 i O И 3 С <>РЯл(<. и ИЯ (Л ВДОВ ЧЯГ ТИЦ 11 ) ИЯ <П}ИХ 13 П Е I I TO l}> b! I и",.

С }ЕДОВ Ч Я(. ТИIЕ "3 Я.. 1 ЯH kIОЙ ОРИ(k: ТЯ}(ИИ по всpMv Объе" I я:lepной фот<)э"--)у;I:.: <

MинуR on(ряl(I<1

Т(Х111IЧ Е(KО Р f" !)ЕИ -1 y }ПPГ ТВ ;; П i)ЕД .-1

iaeM()t устрой:.тия "ncòonт В ТоМ, чтг} era ко}(струKit}(я прон}е Kok! r-póK—

ЦИИ И >RЕГТ},ОГО УСТPOй< ТRЯ, i MÅ!! --IL<ЕHО

ЧИСЛО ОИЕРЯЦИй liп С ГЯ<;ИИ вЂ”:<}}!Г< -;.RKИ ус l ройстВЯ K p;If) o

1}Я сТ }дии 1!3MPpe I}I?I. ПОГ.:Iе,!i!?(й фактО;, СВЯ Э Я}» (ТЕМ }Т«) (, (К }Я;< },;> r! »r) rr! O)?— Ка ДЛЯ Г,ЧОЯ ЯДПP IГ и фОТОЭ}(r!}-,PИИ ОДИ } }} В <ЯПОЯЯCHHOM »? И> <(Е

ПОЛОЖЕЕE!ÈH H 1<ИКСГДЯ ?1(. ЯРГЯ("< }r:! iOС" кОЙ. Скоро(.:ть дв}}жеиия <.ЛРя > лег<}Г =; фотОэмуле>с}}и О гранич еня . В ерху э:< в—

-1e?I}IeM " = 10 11-i/ C а про;!!»оди тел --.—

НОСТЕ»IРОС>}ОТ< :3 ПО ПЛОI;,ЯДI !)- 31«l;Я

Около (, мм"; с для п}ирин«,i : В -}пяе- <; и

) /

Области 4003 мкм.

Пример .ея-}и.":ации устрсй< т >я, кусное расстояние Гобиряю}1(ей;".,и}}«< е}— ры гризмы типа, -.Г- 90 . 8 " !! R

Диаметр 06bpK ги;-. ми; росК< }я О.-,.-,-ев () "«}3«1, ЯСC ТО Я.} и< 1((«ж;1)) g () },Е}: }. -,Е

И ЭКУПЯРО ) kib!(!P«l? O Р,I !Etbe!«

Ф О р I"1 у л а и э О б э

Устройство д.}я наблюдения следов частиц в ядерной фотоэмульсии, содержащее систему Освещения, со(1иряющую

ЦИЛИНДРИЧЕСКУЮ ЛИНЗУ, yrтЯНОВЛЕННУЮ так, что ее образующая пя}}гплельна плоскости ядерной фотоэмульсии и перпендикулярна оптической Оси Гнев

ТЕМЫ ОСВЕЩЕНИЯ, МИКРОСКОП, COCTO}IBIHA из Объектива и окуляра, систему пе90

Составитель А.Шадрин

Техред Л.Сердюкова Корректор Д.Пилипенко

Редактор Н,Коляда

Заказ 3326

Тираж 345 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Иосква, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r+,Уагород, ул. Проектная, 4 з 4349 ремещения и контроля положения ядерной фотоэмульсии, а также прямоугольную призму, одна из малых граней которой перпендикулярна оптической оси системы освещения, большая грань указанной призмы находится в иммерсионном контакте с ядерной фгтозмульсией, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью упрощения конструкции, объектив микроскопа находится н иммерсионном контакте с другой малой гранью призмы.

Устройство для наблюдения следов частиц в ядерной фотоэмульсии Устройство для наблюдения следов частиц в ядерной фотоэмульсии Устройство для наблюдения следов частиц в ядерной фотоэмульсии 

 

Похожие патенты:

Микроскоп // 1430920
Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных частиц и может быть испол 13овано в техтрековых детекторов для наблюдения следов частиц в фотоэмульсии

Изобретение относится к экспериментальной ядерной физике элементарных частиц и может быть использовано в технике трековых детекторов для наблюдения следов частиц в ядерной фотоэмульсии

Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных частиц и может быть использовано в технике наблюд.ения следов ядерных частиц в фотоэмульсии

Изобретение относится к экспериментальной ядерной физике, и в частности к способам трековой регистрации ионизирующего излучения с помощью эмульсий

Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных частиц и может быть использовано в технике трековых детекторов при исследовании свойств элементарных частиц

Изобретение относится к устройствам для регистрации следов заряженных частиц и может быть использовано в физике элементарных частиц в экспериментах на ускорителях

Изобретение относится к фотографическим методам регистрации заряженных частиц

Изобретение относится к устройствам для просмотра ядерной фото эмульсии
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано в экспериментах на ускорителях
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано при регистрации заряженных частиц на ускорителях
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано в экспериментах с применением твердотельных трековых детекторов
Изобретение относится к области электрометаллургии и может быть использовано для плавки в вакуумно-дуговых печах слитков из титана и его сплавов, легированных изотопом углерод-14, в частности для проведения авторадиографических исследований

Изобретение относится к экспериментальной ядерной физике и может быть использовано в технике для просмотра следов ядерных частиц в фотоэмульсии

Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных частиц и может быть использовано для

Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных частиц и может быть использовано в методике ядерной фотоэмульсии при исследовании свойств короткоживущих элементарных частиц
Наверх