Способ определения концентрации примеси в инертном газе, содержащем примесь одного вида

 

Изобретение относится к области анализа высокочастотных веществ, в частности к ог1ределен1ро содержания npHbieceii в инертных газах. Пель - рас 1ирение класса анализируемых примесей . Способ реализ п-от в два этапа, Иа первом определяют коэффициент пропорциональности между скоростью деполяризации мюонов в эталонной смеси и концентрацией пришей, втором этапе помещает п сосуд анализируемьй газ, облучают tly чкo положительных NjiooHon, определяют скорость .Л деполяризации мюонов Б газе. Загем через ранее онределенный копс у ициент пропорциональности К , определяют коицентрацшо си X А/К ,. Способ чувстпителен ко I всем примесям, вза№ одейств ч тошим химически 1ШИ магнитно с aTObfapiniiN водородом или его ионом. SS

СВОЗ СОНЕТСНИК

СООИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (51) 5 G О1 V 23/02 ((ОПИ6АМИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АБ ГСРСЯОЫУ СВКДЕТЕЛЬСТВУ дородом или его ионом.

ГОСУДЛРСТБЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛЛА ИЭОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (46) 23. 09, 90. Бюл. II 35 (2I) 4.111 095/31 -25 (22) 13.06.86 (71) Московскип инженерно-физический институт (72) A.A. Иялолетнев, A.Ë. Иикаэлян и Б.П. Протасов (53) 661,939(088.8) (56) Лнваер Б,И. и др, Газовая хроматография неорганических веществ, 1 976, II., Госятсмиздат, с. 34-41.

Барабаш Л.С. и др. Исследование процессой применения низкоэнергетичных электронов к молекул.-,м 0; в не—

i(oTopbD газах и жидкостях.

Пример для измерения концентрации электроотрицятельньвл примесей в газах. И.; !ИИ AH СССР, Препринт, П-0230, 1982.

„„SU„„14419 I 9 А1 (54) СП000li Oli РЕВЕЛЕ .И И11 КОИ I K HT ÐË ÖÈÈ

ПРИ711 СИ В И11ЕРТ110 ГЛБЕ, СОДЕРЖЛП1ЕМ

ПРИИГ.С.1. О,11!ОГО БИ71Л (57) Изобретен1те с тнс сится к области анализа Bblcoi(o÷ÿñòîòíbõ вешеств, в частности к определению содержания примесей в инертньгх газах . !Iель расширение класса анализируемых примесей. Способ реализуют в двя эа япя.

Ия первом определяют коэффициент пропорционя,ности между скоростью деполярнзяпин мюонов в эталонной смеси и концентрацией примеси. Ия втором этапе помешяюг в сосуд янялизируемнв1 газ, облучяют пучком положительных мюонов, îпредeляют скс рость Л деполяризации

Й мюонов в газе. 3я;ем через ранее опре— деленный козф",èöi åнт пропорциональности К, определяют концентрацию примеси Х =-, /К,. пособ чувствителен ко всем примесям, взяимодействуюшнм химически или мяг:;итно с атомярньм воИзобр»ТPíè» относится к облас ги анализа высоч истых ттеще с тр, I3 ч а с т(!ОСтн К ОПРЕДЕЛЕН(»Ю СОДЕРжаНИЛ ПРИмесей н инертных газах. Otto 3»o)(eT быть эффективно использовано длл контроля чистоты благородных газов, а также в сфере метрологического обеспечения таких способов анализа газов, как хроматографический, сттект(рат(т.— т»ьп», кульнометрснческий и др.

Цель изобретения состоит в расщирении класса анализируемых примесей.

При реализации способа предварительно определяют коэффициент пропорциональности между скоростью деполяризации мюона Л и концентрацией примеси вида Х по формуле

A Эт) (Xt где Л и (Х 1 — соответственно ско

31 - 31 рость де»оллризации v!ooF(a и сод(ржание примеси и )", эталопттой с: еси, При этом существенно, что зависиMOCTb СКОРОСТИ ВэаИМОДЕйСтВПЛ !!r;0!I» с молекулами при»еси от «>; !c<)I »от-рации линeih(a. Поэтому граду(po— вочные измерения могут быть вып<с<лнены на эталонных смеслх, соде рж(Ил((к достаточно высокие концентраци»»!)è— месей, IcoTopblP могут быть с хоров(ей точностью измерены независимыми ciio— собами.

Посл» ниям в aItaël»a èpóeìobi газе . 1 l з»с мсщают в сосуд и облу.-(ают»у (ком»0 io— жительных поляризованных мюо (OF., предварительно вкл(очин при необходи-. мости перпендикулярное направлс (141(о поляризации магнитное поле. ((алее определяют зависимость Г(оллризап(»>Г

oT времени, à по ней — скорос ть деполяризации мюонов ; После этого

ПО фО РМУГ! Е < — Л / i(„В Ьtrt!» C.!l H:() !. концентрацию примеси вида Х.

Способ чувствителен ко всем тел<1 примесям, которые могут хн"tll:„pcки!м или магнитным способом взвит одей твовать с атомарным водородом 1(л) ионом. Пороговал ((yI!C T)3I»TPT!I,кость и

Точность способа может быть доведена до любого задан(того a»a<(et("»; путем увеличения врел«ени !tat«epoíHF., П )в»гтГ(« „(т» ri r р< (1

4 I < t t . P T t I IT! )C ;1 1 О В I i < И <1 P 4 3, I I I I «

i (л 1 FT!TCИО!.0 nî!fa да в» Р(«ОГО з т01««»(jë» K )in()4 „ил 4! 1» ci< с . т

c(T T»f3 — 0 б «(3 !(t«0 i(е с—

Н»Л МОЛРКУЛа Д «;!М»ГИ»тпа, nо С((О»С (!—

1 < Ifa ВСТ <11 "Tt- С:Ir!<)HOМ В ХИМИЧЕГf(0B О»дине!(ие, то де»с)ллрт запил ро— исходит»ри т;кл(Рч; 1(4<» а l»(лн»г() .IагИИТ 1(0 г О i To JI!T fl < рl-, Р)«д<3«TJJI FT T) "<О-- (<(а

ЧЛЛЬНС), «»rirtЛГН (3(\4»1(Мfa<)ira )-: С«» <

20 TOT О ., (То Л« ll <(>!ТН!,;0 МО (ГНТЬI Г;)С)()РД— ного мюс)ffа и образу«<)и(скося сс):"Г),»!IР—

tt Ил 1) 1 зл»ч ll ы, 11

lta Л !10:(Р:;:;.à i; ДИ»r !»Г((И <11<1 т 1 Р (В)() E!!1!» с (3 ",< .Т Г I" «Р!10«I To ii)() Л P! T—

) л

:1(; I!! i!T 1(с Tl ()< . Г«(Х 0;(1«Т „И Та((И -I II p!1

« .»Гл 1 (.tt cr)б:(с:; вс.с!Tи:. »л»», .);;I!;!Хо

< 0 (, 0 (1 ", f) - if« f ir;. » Г 1(0 ; < r r r < t <) (" r: (r T.; I j fir )

Г< j ) -/ ! (!, 1 с. . ., . < I i; ! « i i < i i .", л r "

<: )<) <« 1(а (" «((()((о() !, T ) код

З< r. !:. . r < ((Т(. !, 1 T I" "C Т:11:, !>; T)i (- С " r! 0 !Р»(!«Ь ((-«i fr»;r

") >

"Р:О«)(Il 1) j r(r (; T !(I)»!:» —,,<, ((;:--*.))»1(. <".(:! .)!< . I 0 C b 0 » r . Г <) !i i!;! а . ):! ;,!i ж; 1 С Л 1, г

r ! (« :, <Р ; (((0< (Р <;;(с < j *, () „<>1 -(° . (<) 1.< И f <; — ЕЛ(, (r ТС, „- 1-(»тт(.;<) ". (! j l! i! t r l «11 4! !(Г Г ):: I I

1<»ГГ r, )Таяolrr ii .i;<»TT!

0 Л (;-(К)Т Г (:Х()Л . i 0.!» ГОЛЬ-(.::-i>C

;1» !1(. 11«! J b !,!i 1 . (": <00 0 r В,! Е, 0

i !: 011, Г 0 < r!i )(Г <: «Iс (iлйТ с !! О(;01 "

Г, ti«-3!Iji>» io!; (,Ti(!» —, ri;C! .,;rc»1 р 3;(4«Г 1 (-1!, I fr)» С rli() () «УЛЕ, <. i, ) Б111ПЦП1 Заказ ЗЗ 28

Произв.-полит р. пр.-тие, .,r рО<" 1"<; 11< r-Р(- 1--,-, /! ) Г) Пац;т (с:ис)е

Способ определения концентрации примеси в инертном газе, содержащем примесь одного вида Способ определения концентрации примеси в инертном газе, содержащем примесь одного вида 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к физическим методам исследования структуры и свойств вещества, в частности к способам определения длины диффузии позитронов в веществе, и может быть использовано в научных исследованиях в промышленности, особенно в микроэлектронике при контроле технологии производства микросхем.Целью изобретения является расширение диапазона исследуемых веществ и повьш1ение точности измерений

Изобретение относится к области физических методов исследования структуры и свойств вещества, конкретнее к методам, основанным на регистрации характеристик аннигиляции

Изобретение относится к рентгеновской аппаратуре для неразрушающего контроля, в частности, сварных соединений

Изобретение относится к автомат тизированному контролю технологических процессов, состава и состояния неоднородньпс жидких и вязких сред и может быть использовано в пищевой, консервной, химической и других отраслях промышленности

Изобретение относится к неразрушающему контролю с использованием рентгеновского излучения и может быть использовано для контроля материалов и изделий радиационным методом в различных отраслях машиностроения

Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии объекта и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта контроля и идентификации веществ, его составляющих

Изобретение относится к области радиационной техники, в частности к способам поперечной компьютерной томографии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для оценки качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно - дефектоскопии с использованием радиоактивных источников ионизирующего излучения и коллимированных блоков детекторов

Изобретение относится к области дефектоскопии, в частности к неразрушающему контролю качества кольцевых сварных швов магистральных трубопроводов методом панорамного просвечивания проникающим излучением, и может быть эффективно использовано при строительстве газо- и нефтепроводов или их ремонте

Изобретение относится к компьютерной томографии, основанной на получении изображения объекта по малоугловому рассеянному излучению

Изобретение относится к устройствам для рентгеновских исследований с использованием малоуглового рассеянного излучения
Изобретение относится к области технологии коллиматоров, применяемых в гамма-камерах и других радиационных приборах

Изобретение относится к области дефектоскопии, в частности к неразрушающему контролю качества кольцевых сварных швов магистральных трубопроводов способом просвечивания проникающим излучением, и может быть использовано при строительстве газопроводов и нефтепроводов или их ремонте, находящихся под водой
Наверх