Фотоэлектрическое измерительное устройство

 

Изобретение позволяет измерять линейные размеры детали. Целью изобретения является упрощение устройства путем иного выполнения узла световой развертки. Формируют осветителем 1 коллимированный световой пучок, засвечивают им весь растр 4, представляющий собой периодически чередунчциеся прозрачные и непрозрачные штрихи. Перемещают вдоль штрихов растра 4 щелевую диафрагму, состоящую из двух частей 5 и 6, ширина щели которой равна ширине штриха растра, формируя узкий световой луч, обеспечивая его перемещение параллельно оптической оси устройства и одновременно модулируя его. Перемещающийся узкий световой луч, не экранируемый контролируемым объектом 12, принимают приемньм блоком. Преобразуют промодулированньй сигнал с приемного блока в импульсный сигнал в блоке 10 обработки, где затем подсчитьшают число импульсов , по которому судят б линейном размере контролируемого объекта 12. 1 ил. i (Л

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

„„SU„„449S4O А1 (51)4 G 01 В 11/02

И АBTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

Ао изОБРетениям и ОтнРытиям

ПРИ ГКНТ СССР (21) 3956091/24-. 28 (22) 24.09.85 (46) 07.01.89. Вюл. У 1 (71) Ленинаканский филиал Ереванского политехнического института им. К.Napкса (72) С. О. Варданян (53) 531.71(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

N9 1259107, кл. G 01 В 11/02, 13.05.85. (54) ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНОЕ

УСТРОЙСТВО (57) Изобретение позволяет измерять линейные размеры детали. Целью изобретения является упрощение устройства путем иного выполнения узла световой развертки. Формируют осветителем

1 коллимированный световой пучок, засвечивают им весь растр 4, представляющий собой периодически чередующиеся прозрачные и непрозрачные штрихи.

Перемещают вдоль штрихов растра 4 щелевую диафрагму, состоящую из двух частей 5 и 6, ширина щели которой равна ширине штриха растра, формируя узкий световой луч, обеспечивая его перемещение параллельно оптической оси устройства и одновременно модулируя его. Перемещающийся узкий световой луч, не экранируемьй контролируемым объектом 12, принимают приемным " блоком, Преобразуют промодулированный сигнал с приемного блока в им" пульсный сигнал в блоке 10 обработки, где затем подсчитывают число импуль- а сов, по которому судят о линейном размере контролируемого объекта 12.

1 ил.

С::

1449840 тираж 68О

ВНИИПИ Заказ 6957/41

Подписное

Произв.-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения линейных размеров деталей в машине и приборостроении.

Целью изобретения является упрощение устройства путем иного выполнения узла световой развертки.

На чертеже представлена принципиальная схема устройства.

Устройство содержит осветитель 1, включающий источник 2 света и линзу

3, в фокусе которой установлен источник, растр 4 из чередующихся црозрач- 15 ных и непрозрачных штрихов, щелевую диафрагму, выполненную из двух частей

5 и 6, установленную с возможностью перемещения параллельно растру, часть диафрагмы 6 выполнена эластичной, 2О приемный блок, включающий объектив 7 и фотоприемник 8 с усилителем 9, блок

10 обработки и механизм 11 перемещения щелевой диафрагмы.

На чертеже также показан контроли- 25 руемый объект 12, например вал.

Часть диафрагмы 6, выполненная из эластичной пленки, скреплена с корпусом (не показан) устройства, Устройство работает следующим об- 30 разом.

Предварительно устройство устанавливают относительно контролируемого объекта 12, например, в виде вала (установленного на шпинделе металлорежущего станка) так, что ось валка оказывается перпендикулярной к направлению перемещения диафрагмы и оптической оси устройства.

Осветителем 1 формируют параллель- щ) ный пучок лучей и направляют его на растр 4. Излучение, прошедшее растр

4, и часть 5 диафрагмы с помощью объектива 7 приемного блока проектируют \ на фотоприемник 8, в котором световое излучение преобразуют в электрический сигнал, усиливают его в усилителе и подают в блок 1О обработки:

При перемещении части 5 диафрагмы с помощью механизма 11 перемещения вдоль растра 4 она последовательно проходит вдоль чередуюшихся прозрачных и непрозрачных штрихов растра 4, в результате чего на выходе приемного блока формируется электрический синусоидальный сигнал. В блоке 10 обработки его преобразуют в импульсный сигнал и количество импульсов подсчитывают с помощью счетчика импульсов блока 1Р обработки.

Контролируемый объект 24 будет перекрывать световой пучок от осветителя 1, прошедший растр 4 и часть 5 диафрагмы. Величина перекрытия пучка контролируемым объектом 12 равна его проекции на поверхность растра 4.

Линейный размер контролируемого объекта 12 определяют как произведение линейной величины прозрачного штриха растра на количество импульсов равное (N-m), где N — общее число им". пульсов, формируемых растром при отсутствии объекта; m — - число зарегистрированных импульсов не экранируемых объектом.

Возвращение щелевой диафрагмы в исходное положение может обеспечиваться за счет упругих свойств ее эластичной части 6.

Формула изобретения

Фотоэлектрическое измерительное устройство, содержащее корпус, осветитель и последовательно расположенные по ходу излучения щелевую диафрагму, растр из чередующихся прозрачных и непрозрачных штрихов, приемный блок, блок обработки, электрически соединенный с приемным блоком, и механизм перемещения, о т л и ч а ю— щ е е с я тем, что, с целью упрощения устройства,. растр выполнен плоским и установлен неподвижно, диафрагма выполнена из двух соединенных между собой частей, первая из которых эластичная и скреплена с корпусом, а во второй со стороны соединения выполнена щель, ширина которой равна ширине штрихов растра, вторая часть соединена с механизмом перемещения и установлена с возможностью перемещения параллельно плоскости растра..

Фотоэлектрическое измерительное устройство Фотоэлектрическое измерительное устройство 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля деталей при механической обработке

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для контроля предельных отклонений линейных размеров изделий

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано ДЛЯ измерения перемещений

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения геометрических параметров отражающих объектов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля геометрических параметров изделий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано , в частности, для контроля качества .печатных плат и других плоских изделий с отверстиями произвольной формы, а также для сравнения любых бинарных транспарантов, например отпвчат1 ов пальцев, осциллограмм и т.д

Изобретение относится к измерительной технике, в частностк к оп- TOBonoKOHHbw датчикам

Изобретение относится к области измерительной техники

Изобретение относится к оптическому приборостроению

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении, черной и цветной металлургии при производстве проката, в резино-технической и химической промышленности при производстве трубчатых изделий без остановки технологического процесса

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах АСУ ТП промышленных предприятий

Изобретение относится к волоконно-оптическим системам передачи в измерительной технике и может быть использовано для измерения перемещений объекта

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть применено для измерения линейных размеров и профилей объектов в машиностроении, приборостроении, в автоматических линиях по производству проката
Изобретение относится к гистологии, касается морфометрической оценки тучных клеток мезометриальной брыжейки крыс

Изобретение относится к волоконно-оптическим системам измерения и может быть использовано для измерения перемещений объекта

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для широкого круга измерительных задач при оценке не плоскостности, не перпендикулярности, величин прогибов и др
Наверх