Способ измерения двойного лучепреломления веществ

Авторы патента:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано, например, в производстве полимерных пленок и волокон при исследовании нелинейно-оптических и лазерных кристаллов. Целью изобретения является повышение точности и упрощение измерений. Рабочий и компенсационный пучки пропускают через вращающийся анализатор и деполяризатор, с помощью общего фотоприемнка регистрируя их интенсивность. Поворотом поляризатора компенсационного канала и выравнивающих поляризаторов устанавливают величину переменной составляющей сигнала фотоприемника, равную нулю. Величину двойного лучепреломления определяют по углу поворота поляризатора компенсационного канала. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)4 G О1 N 21/23

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ПЛАНТ СССР (21) 4092615/31-25

{22) 22.07.86 (46) 23.07.89. Бюл, Ф 27 (71) Алтайский политехнический институт им. И.И.Полэунова (72) Б.В.Старостенко и А.Н.Старостенко (53) 535.242(088 .8) (56) Александров А.Я., Ахметзя. нов М.Х. Поляризационно-оптические методы механики деформируемого тела, М., 1973;.с, 141-144.

Авторское свидетельство СССР

М 380170, кл. G 01 N 21/23, 1969. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДВОЙНОГО ЛУЧЕПРЕЛОМЛЕНИЯ ВЕЩЕСТВ (57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения двойного лучепреломления веществ, например, при производстве полимерных пленок и волокон и исследовании нелинейно-оптических и лазерных кристаллов.

Целью изобретения является повышение точности и упрощение измерений.

На чертеже приведена схема, реализующая предлагаемый способ, Схема для осуществления способа содержит источник I света, монохроматор 2, делительное зеркало 3, разделяющее пучок на рабочий и компенсационный каналы, поляризаторы 4 и 5, установленные в рабочем канале, исследуемое вещество 6, четвертьволновую пластину 7, установленное в рабо„„SU„„1495689 А 1

2 быть использовано, например, в производстве полимерных пленок и волокон при исследовании нелинейно-оптических и лазерных кристаллов. Целью изобретения является повышение точности и упрощение измерений. Рабочий и компенсационный пучки пропускают через вращающийся анализатор и деполяризатор, с помощью общего фотоприемника регистрируя их интенсиввЂ” ность. Поворотом поляризатора компенсационного канала и выравнивающих поляризаторов устанавливают величину переменной составляющей сигнала фотоприемника, равную нулю. Величину двойного лучепреломления определяют по углу поворота поляризатора компенсационного канала ° 1 ил. чем канале зеркало 8; поляризаторы

9 и 10, анализатор 11, деполяризатор

12 линзу 13, фотоприемник 14, измеритель 15.

Измерение двойного лучепреломления осуществляется следующим образом.

Пучок света от источника 1, монохроматиэированный после прохождения монохроматора 2, разделяют делительным зеркалом 3 на рабочий и компенсационный пучки. Поляризатор 5 и четвертьволновую пластину 7 ориентируют таким образом, что плоскость поляризации поляроида и одна из главных осей четвертьволновой пластинки составляют угол 45 с главной осью исследуемого вещества 6, а плоскость поляризации.поляризатора 10 устанав-, ливают перпендикулярно плоскости

Способ измерения двойного лучепреломления веществ позволяет повысить точность измерений, а также упростить и автоматизировать измерения, в связи с чем может быть использован для исследования полимерных

3 1495689 поляризации поляризатора 5. После прохождения исследуемого вещества 6 и четвертьволновой пластинки 7 плоскость поляризации излучения рабочего канала поворачивается на угол, определяемый величиной двойного лучепреломления псспедуемого вещества.

Так как свет рабочего и компенсационного каналов пропускают через общий 10 вращающийся анализатор 11 и регистрируют с помощью общего фотоприемника

14, вследствие исключения возможной интерференции пучков, достигаемой прохождением деполяриэатора 12, пере-15 менная составляющая сигнала, регистрируемого измерителем 15, равна нулю только в том случае, когда интенсивности рабочего и компенсационного пучков равны, а плоскости их поляри- 20 эации взаимно перпендикулярны. Для установления равенства нулю переменной составляющей регистрируемого измерителем 15 сигнала поворачивают поляризаторы 4, 9 и 10. Угол поворота поляризатора 10 относительно первона-.ального положения равен углу поьорота плоскости поляризации излучения рабочего канала после прохождения исследуемого вещества и чет- 30 вертьволновой пластинки 7, т ° е. определяется величиной двойного лучепреломления исследуемого вещества. пленок и материалов, используемых в лазерной технике.

Формула и з о б р е т е н и я

Способ измерения двойного луче4

r.:ðåëoìëåHHÿ веществ, заключающийся в том, что монохроматический пучок света расщепляют на рабочий и компенсационный пучки, рабочий пучок пропускают через установленные последовательно поляризатор рабочего канала, исследуемое вещество, четвертьволновую пластину, а опорный пучок вЂ” через поляризатор опорного канала, ориентируют плоскость поляризации поляризатора рабочего канала и одну иэ главных осей четвертьволноО вой пластинки под углом 45 к главной оси исследуемого вещества, устанавливают плоскость поляризации поляризатора опорного канала перпендику-лярно плоскости поляризации поляризатора рабочего канала, о т л ивЂ” ч а ю щ и Й с я тем, что, с целью повышения точности и упрощения измерений, рабочий пучок после прохождения четвертьволновой пластины и опорный пучок после прохождения поляризатора опорного канала пропускают через вращающийся анализатор и деполяризатор, направляют на общий фотоприемник, вращают выравнивающие поляризаторы, установленные перед поляризаторами рабочего и опорного каналов, и поляризатор опорного канала до установления равенства нулю переменной составляющей сигнала фотоприемника, а двойное лучепреломление определяют по углу поворота поляризатора опорного канала.

1495689

Составитель А.Шепелев

Техред Л.Олийнык Корректор Э.Лончакава

Редактор С.Пекарь

Заказ 4258/41 Тираж 789 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Способ измерения двойного лучепреломления веществ

Изобретение относится к оптике и предназначено для измерения поляризационных характеристик веществ

Способ измерения двупреломления в полупроводниках // 1413490

Изобретение относится к оптике и может быть использовано в полупроводниковой и электронной промышленности

Способ измерения двойного лучепреломления веществ // 1383162

Устройство для измерения двулучепреломления // 1365898

Изобретение относится к области поляризационно-оптических исследований и может быть использовано для бесконтактного контроля внутренних упругих напряжений в изотропных материалах

Способ измерения температуры // 1290097

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в дистанционных устройствах

Датчик температуры // 1182279

Способ измерения величины двойного лучепреломления полимерных материалов // 1141315

Устройство для измерения величины двулучепреломления // 1099256

Устройство для измерения полей микронапряжений в монокристалле // 1067416

Фотометрический клин // 1013828

Способ определения суммарного содержания ароматических углеводородов в нефтяных фракциях и светлых нефтепродуктах // 2163717

Изобретение относится к области нефтехимии

Устройство для измерения оптической активности и двойного лучепреломления, наведенного магнитным или электрическим полем в светлых нефтепродуктах // 2308021

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а точнее к поляризационным приборам, предназначенным для измерения поляризационных характеристик света, прошедшего оптически активные и двулучепреломляющие вещества

Способ определения дефектов кварцевой кристаллической линзы // 2379656

Изобретение относится к области оптического приборостроения, в частности к приборам и оптическим системам, в которых кварцевая линза является одним из основных элементов: в оптической литографии, поляризационной технике

Способ определения оптической анизотропии горных пород и руд // 2031398

Изобретение относится к геолого-минералогическим методам исследования горных пород и руд и может быть использовано для восстановления термодинамических условий образования и последующих деформаций рудных и других геологических тел, а также для решения различных структурно-петрологических задач

Способ лазерной поляризационной спектроскопии // 2039351

Изобретение относится к лазерной спектроскопии и может быть использовано в спектрально аналитическом приборостроении и газоанализе

Способ измерения величины двулучепреломления зарецкого // 2046315

Изобретение относится к способам измерения оптических свойств материалов, в частности оптической анизотропии, и может быть использовано для изучения свойств оптически прозрачных сред, например полимерных пленок, кристаллов природных и искусственных материалов и др

Способ определения полной разности хода при измерении параметров двупреломления кристаллов // 1518729

Изобретение относится к изменениям в оптике и может быть использовано для определения абсолютных значений двупреломлений кристаллов при исследовании их физических свойств

Способ определения оптической анизотропии горных пород // 1543307

Изобретение относится к геолого-минералогическим методам исследования горных пород и может быть использовано для восстановления динамической обстановки образования и деформации геологических тел, решения различных структурно-петрологических задач

Способ определения трикритической точки // 1679298

Изобретение относится к исследованию сегнетоэлектрических материалов с помощью оптического метода и может быть использовано для определения трикритической точки при атмосферном давлении в результате частичного замещения собственных ионов кристаллами ионами примеси, что открывает возможность создавать сегнетоэлектрические вещества с заранее заданными свойствами

Устройство для контроля полупроводниковых материалов // 1746264