Патент ссср 152742

 

У, № 152742 ссср, у7

Xgyi ill .. -- ".,)

ОПИСАНИЕ ИЗОБ ЕТЕНИ 1

Класс G 01b; 42b, 12аз

Подписная группа № 1б4

П. У. Марков

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МАЛЫХ ВНУТРЕННИХ РАЗМЕРОВ

Заявлено 10 марта 1962 г. за № 768247/25-8 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» № 2 за 1963 г.

Известные способы измерения малых внутренних размеров or 1 мм путем контакта измерительных наконечников с поверхностями эталонной меры и измеряемой детали дают погрешность измерения не менее

+3 мк.

Описываемый способ отличается от известных тем, что для получения более высокой точности измеряют расстояния от поверхностей установочного приспособления до эталонной меры и до отверстия детали и по разности сумм отсчетов двух шкал определяют действительный диаметр отверстия.

Сущность описываемого способа состоит в том, что диаметр измеряемого отверстия определяется, как

d = М + ((0; + 0 ) — (О," + О, ) ), где М вЂ” размер эталонной меры;

0 и 0 — отсчеты по шкалам на эталонной мере;

0" и Π— отсчеты по шкалам на размер детали.

Размер эталонной меры М не должен отличаться от размера детали более суммарной величины расхода шкал оптиметровых трубок.

Предмет изобретения

Способ измерения малых внутренних размеров путем контакта измерительных наконечников с поверхностями эта,лонной меры и измеряемой детали, отличающийся тем, что, с целью получения более высокой точности, измеряют расстояния от поверхностей установочного приспособления до эталонной меры и до отверстия детали и по разности сумм отсчетов двух шкал определяют действительный диаметр отверстия.

Патент ссср 152742 

 

Похожие патенты:
Наверх