Патент ссср 153514

 

Класс Н Olj; 21е, 361в

¹ 153514

СССР

НИЕ И Б НИ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подписная группа М 95

И. С. Бакалейник

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ

ЭЛЕКТРОННЫХ ЛАМП

Заявлено 19 февраля 1960 г. за № 655625(26 в Комитет по делам изобретенг i и открытий при Совете Министров СССР с присоединением заявки № 655626/26

Опубликовано в «Бюллетене изобретений и товарных знаков» № 6 за 1963 г.

Известные устройства для измерения параметров электронных ламп по способу переменных приращений, содержащие электронный стабилизатор, включенный последовательно с испытуемой лампой, источник эталонного напряжения и индикаторный прибор, проградуированный в единицах измеряемого параметра, не обеспечивают высокой точности измерения коэффициента усиления и внутреннего сопротивления электронных ламп, так как измерительный элемент электронного стабилизатора включен в цепь анода исследуеь:ой лампы, вследствие чего паразитные емкости устройства и входное сопротивление индикаторного прибора шунтируют лампу.

В предлагаемом устройстве эти недостатки устранены включением измерительного элемента электронного стабилизатора в цепь катода, и источника эталонного напряжения в цепь се -кн испытуемой лампы. Для измерения внутреннего сопротивления лампы источник эталонного напряжения включен в цепь катода лампы последовательно с измерительным элементом электронного стабилизатора.

На фиг. 1 изображена принципиальная схема устройства для измерения коэффициента усиления; на фиг. 2 — принципиальная схема устройства для измерения внутреннего сопротивления испытуемой лампы.

В цепь сетки испытуемой лампы 1 подается переменное напряжение

U от источника 2 эталонного напряжения.

Электронный стабилизатор 8 по постоянной составляющей выполняет функции стабилизатора напряжения, а по переменной составляю¹ 153514 щей — функции стабилизатора тока и снабжен измерительным элементом 4, в качестве которого могут быть использованы активное сопротивление пли индуктивность (дроссель).

Испытуемая лампа включена последовательно со стабилизатором тока; поэтому переменная составляющая анодного тока I, равна нулю. и„

Как известно, коэффициент усиления p = — при 1„= const u

/ при 1,=-- О.

Переменное напряжение на аноде L „. измеряется прибором 5, отградуированным в значениях коэффициента усиления. При этом устройство некритично к величин сопротивления измерительного элемента, поскольку ток стабилизируется автоматически. Паразитные емкости анода лампы 1 относительно точки В, а также входное сопротивление индикаторного прибора 5 не шунтируют лампу, так как паразитный ток не проходит через измерительный элемент 4, что повышает точность измерения устройства.

На сетке лампы 1 (фиг. 2) устанавливается напряжение смещения.

В цепь катода лампы (последовательно с измерительным элементом 4 электронного стабилизатора включен источник эталонного напряжения, в качестве которого используется генератор 2, что дает возможность производить измерения внутреннего сопротивления этой лампы, Переменное напряжение на участке АВ (вход стабилизатора тока) должно равняться нулю. Для выполнения этого условия необходимо, чтобы на сопротивлении Z измерительного элемента 4 выделялось переменное напряжение, .равное напряжению генератора 2 и обратное ему по фазе, т. е.

1,— Z= — Г„„откуда I — =

Ток 1,, протекая через внутреннее сопротивление лампы R;, создает на нем падение напряжения U ", пропорциональное R,.

l не зависит от R,, и при постоянных У„„ и Z I„ — = const.

Отсчет внутреннего сопротивления осуществляется непосредственно по прибору 5 с линейной шкалой.

У предлагаемом устройстве можно предусмотреть калибровку. При этом вместо испытуемой лампы включается эталонное сопротивление и изменением напряжения генератора 2 добиваются по прибору 5 показания истинной величины этого сопротивления.

Описанное устройство для измерения параметров электронных ламп может найти применение в автоматических испытательных устройствах.

Предмет изобретения

1. Устройство для измерения параметров электронных ламп по способу переменных приращений, содержащее электронный стабилизатор, включенньш последовательно с испытуемой лампой, источник эталонного напряжения и индикаторный прибор, проградуированный в единицах измеряемого параметра, о т л н ч а ю щ е е с я тем, что, с целью снижения влияния на точность измерения паразитных емкостей устройства и входного сопротивления индикаторного прибора при измерении коэффициента усиления, измерительный элемент электронного стабилизатора включен в цепь катода, а источник эталонного напряжения — в цепь сетки измеряемой лампы.

Ха 1535l4

2. Устройство по и. 1, отличающееся тем, что, с целью йзмерения внутреннего сопротивления лампы, источник эталонного напря- жения включен в цепь катода лампы последовательно с измерительным элементом электронного стабилизатора.

Фие 1

Фиг 2

Редактор В. М. Парнес Техред В. П. Краснова Корректор Ю. N1. Федулова

Поди, к печ. 20/Ч11 — 63 r. Формат бум. 70Р, 108 / 6 Объем 0,26 изд. л.

Зак, i 1915(6 Тираж 1!75 Цена 4 коп, НИЙПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типографии, пр. Сапунова, 2

Патент ссср 153514 Патент ссср 153514 Патент ссср 153514 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано в процессе ресурсных испытаний газоразрядных ламп (ГЛ) при их производстве и эксплуатации

Изобретение относится к испытаниям электровакуумных приборов, в частности к электрическим испытаниям высоковольтных мощных титронов в импульсных квазидинамических режимах, и может найти применение при разработке и производстве мощных электровакуумных приборов

Изобретение относится к контролю характеристик электровакуумных приборов и может быть использовано при разработках и производстве вакуумных катодолюминесцентных индикаторов и люминофоров

Изобретение относится к микроэлектронике, измерительной технике, может быть использовано при производстве, проектировании электролюминесцентных индикаторов (ЭЛИ), а также их научных исследованиях

Изобретение относится к области квантовой электроники, в частности к газоразрядным лазерам

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при производстве вакуумных люминесцентных индикаторов (ВЛИ) и люминесцентных материалов

Изобретение относится к электротехнической промышленности, в частности к производству разрядных ламп

Изобретение относится к области электротехники, а именно к устройствам для испытания электровакуумных приборов

Изобретение относится к области электронной техники и приборостроения, в частности к способам контроля термоэмиссионного состояния поверхностно-ионизационных термоэмиттеров ионов органических соединений, используемых для селективной ионизации молекул органических соединений в условиях атмосферы воздуха в газоанализаторах типа хроматографов и дрейф-спектрометров

Изобретение относится к области проведения испытаний приборов и может быть использовано при изготовлении мощных генераторных ламп
Наверх