Измерения или испытания в процессе изготовления (H01J9/42)
H01J9/42 Измерения или испытания в процессе изготовления(289)
Изобретение относится к электронной технике, в частности к способам, предназначенным для прогнозирования эмиссионной долговечности металлопористого катода (МПК) с косвенным накалом при его работе в составе электровакуумных изделий.
Изобретение относится к электронной технике, в частности к способам, предназначенным для измерения температуры катода при изготовлении в составе пушки и эксплуатации в составе готового прибора. Технический результат - повышение точности измерения температуры катода в составе пушечного узла или электронного прибора, в том числе имеющего непрозрачный корпус, особенно в условиях временных ограничений.
Изобретение относится к индикаторной технике и может быть использовано при исследовании характеристик газоразрядных индикаторов и разработке схем управления для них. Способ оценки параметров распределения времени запаздывания возникновения разряда газоразрядных индикаторов заключается в циклическом формировании на электродах газоразрядного индикатора стимулирующих сигналов N раз в течение времени Т в каждом цикле и измерении времени запаздывания возникновения разряда ti.
Изобретение относится к способам измерения низких давлений газа в газоразрядных камерах, в которых образуется плазменный фокус (ПФ) - нецилиндрический Z-пинч, токовая оболочка которого имеет форму типа воронки, и может быть использовано в таких областях, как мощная импульсная электрофизика, физика плазмы, где необходимы измерения давления рабочего газа в газоразрядных камерах плазменного фокуса в диапазоне 1-50 мм рт.ст.
Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано при испытаниях и контроле качества люминесцентных ламп. .
Изобретение относится к электронной технике, а именно к способам определения расстояния между электродами электровакуумных приборов (ЭВП). .
Изобретение относится к области проведения испытаний приборов и может быть использовано при изготовлении мощных генераторных ламп. .
Изобретение относится к области электронной техники и приборостроения, в частности к способам контроля термоэмиссионного состояния поверхностно-ионизационных термоэмиттеров ионов органических соединений, используемых для селективной ионизации молекул органических соединений в условиях атмосферы воздуха в газоанализаторах типа хроматографов и дрейф-спектрометров.
Изобретение относится к области электротехники, а именно к устройствам для испытания электровакуумных приборов. .
Изобретение относится к электротехнической промышленности, в частности к производству разрядных ламп. .
Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при производстве вакуумных люминесцентных индикаторов (ВЛИ) и люминесцентных материалов. .
Изобретение относится к области квантовой электроники, в частности к газоразрядным лазерам. .
Изобретение относится к микроэлектронике, измерительной технике, может быть использовано при производстве, проектировании электролюминесцентных индикаторов (ЭЛИ), а также их научных исследованиях. .
Изобретение относится к контролю характеристик электровакуумных приборов и может быть использовано при разработках и производстве вакуумных катодолюминесцентных индикаторов и люминофоров. .
Изобретение относится к испытаниям электровакуумных приборов, в частности к электрическим испытаниям высоковольтных мощных титронов в импульсных квазидинамических режимах, и может найти применение при разработке и производстве мощных электровакуумных приборов.
Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано в процессе ресурсных испытаний газоразрядных ламп (ГЛ) при их производстве и эксплуатации. .
Изобретение относится к электронной технике, в частности к изготовлению вакуумных электронных приборов с доступным для визуального наблюдения оксидным катодом, и может быть использовано для определения эмиссионной активности последнего.
Изобретение относится к вакуумной электронике и электровакуумному производству и может быть использовано как средство контроля и улучшения качества катодов выпускаемых изделий с целью раннего обнаружения эмиссионных браков, прогнозирования долговечности и снижения рекламационного возврата.
Изобретение относится к зажиму для фиксации внутреннего экрана и рамы электронно-лучевой трубки. .
Изобретение относится к электронной технике, а именно к способам анализа и контроля качества термокатодов электровакуумных приборов, и предназначено для оценки неоднородности плотности тока эмиссии по эмиттирующей поверхности катода эмиссионной неоднородности (ЭН) катодов.
Изобретение относится к производству электровакуумных приборов, а именно к методам испытания и прогнозирования долговечности электроннолучевых трубок (ЭЛТ), в т.ч. .
Изобретение относится к электротехнической промышленности и может быть использовано при производстве газоразрядных ламп низкого давления, в частности люминесцентных ламп. .
Изобретение относится к электровакуумной технике. .
Изобретение относится к вакуумметрии и может быть использовано при измерении давления в электровакуумных приборах (ЭВП). .
Изобретение относится к светотехнике, в частности к производству разрядных ламп низкого давления. .
Изобретение относится к светотехнике, в частности к способам изготовления и контроля параметров газоразрядных ламп. .
Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при производстве отпаянных газоразрядных приборов дугового разряда с прямонакальными термокатодами, например мощных газовых лазеров.
Изобретение относится к оптико-электронной технике и может быть использовано при изготовлении оптических приборов, включающих электронно-оптические преобразователи (ЭОП). .
Изобретение относится к оборудованию для изготовления электронно-оптической системы кинескопа и позволяет повысить производительность путем автоматизации измерения толщины покрытия катода кинескопа . .
Изобретение относится к газоразрядным приборам, использующим разряд постоянного тока в инертных газах;и может быть применено при исследовани-t ях плазмы. .
Изобретение относится к электронной и к электротехнической промышленности. .
Изобретение относится к электровакуумной промышленности. .
Изобретение относится к вакуумной технике и может быть использовано для тепловакуумных испытаний изделий. .
Изобретение относится к электронным приборам, в частности к способам контроля их термокатодов. .
Изобретение относится к электровакуумной технике, в частности к способам контроля вакуума в рентгеновских трубках без применения манометрических датчиков. .
Изобретение относится к электроламповой промышленности и может быть использовано при испытаниях и контроле качества люминесцентных ламп. .
Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для исследования эмиссионных свойств сложных фотокатодов. .
Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано при испытании отклоняющих систем электронно-лучевых трубок (ЭЛТ). .