Устройство для градуировки спектрофотометров по длинам волн

 

Изобретение относится к спектрометрии и может быть использовано для повышения точности спектральных приборов, а также в метрологии - для градуировки и поверки спектрометров и спектрофотометров по длинам волн. Цель изобретения - повышение точности. Устройство включает лазер и эталон Фабри-Перо. Эталон Фабри-Перо выполнен на сферическом отражателе с диффузно отражающим покрытием, имеющим окно для ввода внутрь него лазерного излучения. Диффузный отражатель может быть выполнен из цельного материала, оптические характеристики которого совпадают с оптическими характеристиками материала окон. 1 з.п. ф-лы, 3 ил.

СОЮЗ СО8ЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) щ)5 С 01 И 21/01

ГОСУД А

ПО ИЗО

ПРИ ГК

) с,, (}

КАВ

Из спект вано рал ьн гии,— спект по дл

Ц ности по дл пени и сел испол град шение

На жено полне (21) (22) (46) (71) униве (72)

А.И.С (53) (56)

Метод

ГОСТ

На вах г спект

Тр уды

СССР, (54)

СПЕКТ

ТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

РЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

Т СССР

ОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

4 2546 7/3 1-25

6.05,88

3.11.90. Бюл. Ф 43 овосибирский государственный . ситет .С,Найденов, А.M.Ражев, мсиков и В.Н.Старинский

43.432 (088.8) пектрофотометры инфракрасные. и средства поверки. .229-77. денов А,С. О методах и средстадуировки шкалы волновых чисел ометров и,спектрофотометров. метрологических институтов вып. 236 (296), с. 17-27.

СТРОЙСТВО ДЛЯ ГРАДУИРОВКИ

ОФОТОМЕТРОВ ПО ДЛИНАМ ВОЛН бретение относится к области ометрии и может быть использоля повышения точности спектр приборов, а также в метролодля градуировки и поверки ометров и спектрофотометров нам волн (волновым числам) . ь изобретения — повышение точградуировки спектрофотометров нам волн путем уменьшения стеространственной когерентности кции мод излучения лазера, зуемого в качестве репера в ровочной шкале, а также повынадежности устройства. фиг. 1 и 2 схематически изобрастройство с незаполненным и заным отражателями соответствен2 (57) Иэобретение относится к спектрометрии и может быть использовано для повышения точности спектральных приборов, а также в метрологии для градуировки и поверки спектрометр о в и спектр офотометро в по длинам волн, Цель изобретения — повышение точности. Устройство включает лазер и эталон Фабри-Перо. Эталон ФабриПеро выполнен на сферическом отражателе с диффузно отражающим покрытием, имеющим окно для ввода внутрь него лазерного излучения, Диффузный отражатель может быть выполнен из цельного материала, оптические характеристики которого совпадают с оптическими характеристиками материала окон 1 3 ° ï ° ф лы 3 ил, но, на фиг. 3 — функциональная схема сп ектрофотометра.

Устройство содержит лазер 1, длина волны излучения которого лежит в рабочем диапазоне поверяемого спектрофотометра, и эталон Фабри-Пе-. ро, образованный двумя зеркалами 2 и 3, выполненными в окнах сферического отражателя 4, Выбором расстоя— ния между зеркалами 2 и 3 осуществляется селекция мод лазера 1.

Внутренний объем сферического отражателя 4 вакуумирован, а ее внутренняя поверхность имеет диффуэно отражающее покрытие 5. Для ввода лазерного излучения внутрь отражателя

4 в ней имеется окно 6, изготовленное из материала, прозрачного для излучеΠ— 2d

3 160 ния лазера 1. Сферический отражатель

7 изготовлен из материала, прозрачного в рабочем диапазоне градуируемого прибора. Поверхность шара 7 покрыта диффузно отражающим слоем 8, например, окисью магния. На противоположных сторонах шара 7 имеются две параллельные плоскости, представляющие собой зеркала 9 и 10 эталона

Фабри-Перо. На сферической поверхности шара 7 имеется окно 10 для ввода внутрь него излучения лазера 11. Окно 10 может быть плоским (фиг.2) или сферическим. B последнем случае это просто полированный и свободный от диффузного слоя участок поверхности шара. Зеркала эталона Фабри-Перо могут иметь полупрозрачное отражающее покрытие, увеличивающее контраст интерфер енционной картины.

Работа устройства иллюстрируется схемой, приведенной на фиг. 3. Блоксхема типичного спектрофотометра имеет осветительную часть 12 с источником 13 (глобаром), кюветное отделение 14, монохроматор 15 и приемно-регистрирующую систему 16. Эталон Фабри-Перо 17, выполненный на сферической оболочке или на шаре 7, установлен в измерительном тракте кюветного отДеления 14 так, что оптические оси эталона Фабри-Перо и измерительного пучка совпадают, при этом свет от глобара 13 равномерно освещает входное зеркало эталона

Фабри-Перо. Одновр еменно излучение лазера 18 через входное окно шара направляется внутрь него и в результате многократного отражения от диффузного слоя, покрывающего поверхность шара, ослабленным также попадает на внутренние поверхности зеркал эталона Фабри-Перо. Вследствие снижения пространственной когерентности лазерного излучения, отраженные от зеркал эталона Фабри-Перо лазерные лучи слабо взаимодействуют между собой, что уменьшает интерференционные явления и позволяет получить на регистрограмме максимум контура излучения лазера более узким, а его положение на градуировочной шкале более четким и стабильным.

В результате при прохождении света через эталон Фабри-Перо от глобара !

13 образуется интерференционная картина, в которую вписан контур излучения лазера 18. При сканировании

8502 4 спектра монохроматором 15 приемнорегистрирующая система 16 спектрофотометра регистрирует систему макси5 мумов и минимумов при этом расстояЭ ние. между интерференционными максимумами по шкале волновых чисел составляет 1/26, где д — известное расстояние между зеркалами эталона

Фабри-Перо. Одновр еменно приемнорегистрирующая система 16 регистрирует ослабленное и селектированное по модовому составу излучение лазера

18, введенное в полость шара, pesynbтатом чего является образование градуировочной шкалы, действительные значения волновых чисел которой рассчитываются по формуле

-1 где — волновое число репера, см

n — порядок интерференции в центре интерференционной картиньг, с. — дробное значение порядка интерференции в выбранном направлении по градуировочной шкале, считая от репера, d — расстояние между внутренними поверхностями зеркал эталона Фабри-Перо.

При использовании в поверке сцектрофотометра конструкции устройства по фиг. 2 учитывается дисперсия показателя преломления материала, из которого изготовлен шар, т.е. и:+K о «+ 26 п(1) (2)

4р где п(1) — дисперсия показателя прел омл ения мат ер иала шар а .

По результатам сравнения значений волновых чисел 1, рассчитанных по формулам (1) и (2) и зарегистрирован45 ных приемно-регистрирующей системой

16 спектрофотометра 1п, получают ряд знач ений Ь )

6Q = 1)пр - 4$ (3) используемых для построения градуировочного графика 61 = S(4) к шкале волновых чисел спектрофотометра.

Оценка погрешности градуировки спектрофотометра по волновым числам

Я с помощью устройства на основе обработки ряда многократных наблюдений позволила сделать вывод, что она не превьппает 10 см" для значений

1/2 d = 0,1 см, Погрешность воспро-I

1б 08502 из из

rp ни ци же по до сп в

70 риг. Г едения значения максимума реперного учения лазера мала и составляет т мкм, что не сказывается на.пошности градуировки с использовам предлагаемого устройства.

Предлагаемая шаровидная конструкэталона Фабри-Перо менее подвера температурным воздействиям, что

ышает надежность устройства и товерность градуировки. р мула и з обр ет ения

1 ° Устройство для градуировки ктр офотометр ов п о длинам волн, ючающее лазер и эталон Фабри-Перо, .о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности, в устрой-. ство введен сферический диффузный отражатель с двумя плоскими окнами, расположенными диаметрально противоположно, и дополнительным окном для. ввода внутрь него излучения лазера, при этом зеркала эталона

Фабри-Перо совмещены с диаметрально противоположными окнами.

2. Устройство по п.1, о т л и— ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения надежности, сферический отражатель выполнен из цельного материала, прозрачного в рабочем диапазоне устройства.

1608502

12 7 ф

Составитель P .Ïåòðîñÿí

Техред М. Ходанич Корректор С.Шевкун

Редактор Е.Папп

Заказ 3609 Тираж 512 Подписное

ВНИИПИ Государстве. tHoro комитета по изобретениям и открьггиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Устройство для градуировки спектрофотометров по длинам волн Устройство для градуировки спектрофотометров по длинам волн Устройство для градуировки спектрофотометров по длинам волн Устройство для градуировки спектрофотометров по длинам волн 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области измерения параметров волоконных световодов, а именно длины установления стационарного режима распространения излучения в волоконном световоде

Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано для исследования фазовых переходов в веществе при воздействии давления

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению

Изобретение относится к оптическим устройствам для изучения размеров, формы и электромагнитных свойств частиц по угловому распределению рассеянного ими света

Изобретение относится к устройствам для изучения кинетики химических реакций методом остановленной струи и позволяет увеличить быстродействие устройства

Изобретение относится к спектральному анализу веществ

Изобретение относится к области оптического спектрального приборостроения и может быть использовано , для исследования индикатрис рассеяния материалов

Изобретение относится к области измерения параметров лазерного излучения и может использоваться в адаптивной оптике

Изобретение относится к средствам оптического контроля

Изобретение относится к измерительной технике и средствам воздействия на органические и неорганические материалы и может быть использовано в различных областях науки и техники от обработки деталей в микромеханике и микроэлектронике до фотолитографии, медицины, химии, биотехнологии и генной инженерии

Изобретение относится к иммунологии, в частности к оценке результатов иммунологических анализов

Изобретение относится к средствам оптической диагностики пространственных динамических процессов, протекающих в различных многофазных средах, находящихся во множестве объемов, и может быть использовано в медицине, биологии, фармацевтической и химической промышленностях и т.д

Изобретение относится к области микрофлуидики, комбинаторной и аналитической химии, биотехнологии и фармацевтики и может быть использовано для бесконтактного дозирования и перемещения микрообъемов жидкости из микрорезервуаров, содержащих как истинные растворы, так и растворы, включающие транспортируемые объекты, такие как биологические, химические и другие материалы, например молекулы ДНК, бактерии, кровяные тельца, белки, живые клетки, споры, пептиды, протеины, коллоидные и твердые частицы, пигменты, микрокапельки жидкости, несмешивающейся с несущей жидкостью, и т.д., через сеть микроканалов к другим микрорезервуарам для проведения химических реакций либо анализа

Изобретение относится к устройствам анализа многокомпонентных, дисперсных сред и может быть использовано для экспресс-анализа наличия заданного объекта в биологической среде сложного состава

Изобретение относится к медицине, в частности к способам лабораторной диагностики, а именно к способу определения состава крови и автоматизированным техническим средствам, определяющим состав крови

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, а более конкретно к устройствам рентгеновской и/или изотопной дефектоскопии объектов, находящихся в труднодоступных полостях
Наверх