Электрический пробник

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для проверки целостности электрических цепей и контроля напряжения. Цель изобретения расширение области применения за счет обеспечения возможности применения для оперативного диагностирования релейных цепей с повышенным переходным сопротивлением контактов и двухпорогового контроля наличия напряжения достигается введением диодов 3 7. Пробник также содержит светодиоды 8, 9, p n p -транзисторы 10, 11, n p n -транзисторы 12, 13, 14, резисторы 15 24, источник питания 25. 1 ил.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для проверки целостности электрических цепей и контроля напряжения. Цель изобретения расширение области применения за счет обеспечения возможности применения для оперативного диагностирования релейных цепей с повышенным переходным сопротивлением контактов и двухпорогового контроля наличия напряжения. На чертеже приведена принципиальная схема электрического пробника. Электрический пробник содержит щупы 1, 2, диоды 3, 4, 5, 6 и 7, светодиоды 8, 9, p-n-p-транзисторы 10, 11, n-p-n-транзисторы 12, 13, 14, резисторы 15, 16, 17, 18, 19, 20, 21, 22, 23, 24, источник питания 25. Катод диода 3 соединен с щупом 2, анод диода 3 соединен через диод 4 с эмиттером n-p-n- транзистора 13 и через резистор 15 с базой p-n-p-транзистора 10, эмиттер которого через резистор 16 соединен с его базой и через резистор 22 с эмиттером p-n-p-транзистора 11, катодом диода 7 и положительной клеммой источника питания 25, коллектор p-n-p-транзистора 10 через резистор 17 соединен с базой n-p-n-транзистора 12, коллектор которого через резистор 19 соединен с базой n-p-n-транзистора 13 и через последовательно соединенные светодиод 8 и резистор 18 с эмиттером p-n-p-транзистора 11, эмиттер и база n-p-n-транзистора 13 через резистор 20 и через последовательно соединенные диоды 5, 6 соответственно соединены с щупом 1, эмиттером n-p-n-транзистора 14, анодом диода 7, отрицательной клеммой источника питания 25 и эмиттером n-p-n-транзистора 12, база p-n-p-транзистора 11 соединена с коллектором n-p-n-транзистора 13 и через последовательно соединенные резисторы 21, 22 с положительной клеммой источника питания 25, база n-p-n-транзистора 14 через резистор 24 соединена с коллектором p-n-p-транзистора 11, коллектор через последовательно соединенные светодиод 9 и резистор 23 соединен с эмиттером p-n-p-транзистора 11. Электрический пробник работает следующим образом. В режиме индикации целостности электрических цепей диагностируемая цепь подключается к щупам 1, 2. При этом часть тока через диод 4 ответвляется в цепь диода 3, падение напряжения на резисторе 20 уменьшается, открывается транзистор 13, открывая транзисторы 11 и 14, и включается светодиод 9. Максимальное сопротивление внешней цепи, индицируемое пробником, устанавливается подбором сопротивления резистора 20. В режиме индикации напряжения между щупами 1, 2 к щупу 1 приложен положительный потенциал, а к щупу 2 отрицательный. При обратном подключении состояние пробника не изменяется. При правильном подключении ток от внешнего источника напряжения проходит по цепи щуп 1 источник питания 25 резистор 22 резистор 16 резистор 15 диод 3 щуп 2. При разности потенциалов на щупах 2, 3 выше 3, 5. В падение напряжения на резисторе 16 достаточно для открывания транзистора 10, коллекторным током которого открывается транзистор 12, шунтирующий цепь базового смещения транзистора 13, что предотвращает его открывание и сопровождается включением светодиода 8. В режиме индикации высокого напряжения ток, протекающий через резистор 22 от внешнего источника питания, достаточен для открывания транзистора 11, приводя к открыванию транзистора 14 и включению светодиода 9. Одновременное включение светодиодов 8, 9 свидетельствует о наличии напряжения, превышающего порог срабатывания второй ступени контроля напряжения. Таким образом, введение второй ступени контроля напряжения и расширение диапазона сопротивлений диагностируемых цепей позволяет расширить область применения электрического пробника.

Формула изобретения

ЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ПРОБНИК, содержащий первый и второй щупы, источник питания, отрицательная клемма которого соединена с первым щупом и эмиттером первого n-p-n транзистора, коллектор которого через последовательно соединенные первый светодиод и первый резистор соединен с положительной клеммой источника питания, база через второй резистор соединена с коллектором первого p-n-p транзистора, база которого соединена с первым выводом третьего резистора, эмиттер соединен с положительной клеммой источника питания, второй p-n-p транзистор, база которого соединена с первым выводом четвертого резистора и через пятый резистор с его эмиттером, коллектор через шестой резистор соединен с базой второго n-p-n -транзистора, эмиттер которого соединен с первым щупом, коллектор через последовательно соединенные второй светодиод и седьмой резистор соединен с эмиттером первого p-n-p транзистора, третий n-p-n транзистор, база которого соединена с первым выводом восьмого резистора, девятый резистор, первый вывод которого соединен с первым щупом, десятый резистор, первый вывод которого соединен с эмиттером первого p-n-p - транзистора, отличающийся тем, что, с целью расширения области применения за счет обеспечения возможности применения для оперативного диагностирования релейных цепей с повышенным переходным сопротивлением контактов и двухпорогового контроля наличия напряжения, в него введены первый, второй, третий, четвертый и пятый диоды, катод первого диода соединен с вторым щупом, анод соединен с вторым выводом четвертого резистора и анодом второго диода, катод которого соединен с вторым выводом девятого резистора и эмиттером третьего n-p-n транзистора, коллектор которого соединен с базой первого n-p-n транзистора, база через восьмой резистор соединена с коллектором второго n-p-n транзистора и через последовательно соединенные третий и четвертый диоды соединена с первым щупом, эмиттер второго p-n-p транзистора соединен с вторыми выводами третьего и десятого резисторов, анод и катод пятого диода соединены соответственно с отрицательной и положительной клеммами источника питания.

РИСУНКИ

Рисунок 1