Просветляющее покрытие для оптических элементов с показателем преломления 1,45-1,8



 

Изобретение относится к технологии оптических покрытий, и может быть использовано в оптическом приборостроении для просветления деталей. Изобретение позволяет упростить процесс нанесения покрытия. На подложку с показателем преломления 1,45-1,8 наносят четыре диэлектрических слоя из материалов с высоким (пв 1,95- 2,05) и низким (пн 1,45-1,47) показателями преломления,причем слой, прилегающий к подложке, выполнен из вещества с высоким показателем преломления . Оптические толщины слоев связаны следующим отношением: 2пв d 2nh de 2ne-d5 ne-d 0,,rfle d, ,d2, геометрические толщины слоев, начиная от подложки , пв - длина волны , соответствующая середине диапазона просветления. 1 табл.о

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

„SU„„16494

А1

yg)g G 02 В 1/10, 5/28

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

H А ВТОРСКОМЪГ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Длина волны, Ф, нм

Коэффициент отражения, R %, при показателе преломления подложки, 1. 76

1,52

1100

0,5

0,6

0,3

0,2

0,4

0 2

2,5

0,3

0,3

О,2

0,2

0 5

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЭ06РЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4701822/10 (22) 05. 06.89 (46) 15. 05.91. Бюл. 11- 18 (72) H.Ï.Áóãàeíêî (53) 535.345.67 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

Р 1398636, кл. G 02 В 5/28.

Авторское свидетельство СССР

Г 1083144, кл. G 02 В 1/10, 1984. (54) ПРОСВЕТЛЯИР1ЕЕ ПОКРЫТИЕ ДЛЯ ОПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ С ПОКАЗАТЕЛЕМ ПРЕЛОМЛЕНИЯ 1,45-1,8 (57) Изобретение относится к технологии оптических покрытий, и может быть использовано в оптическом приборостроении для просветления деталей.

Изобретение относится к технологии оптических покрытий и может быть ис-. пользовано в оптическом приборостроении для просветления деталей.

Целью изобретения является упрощение процесса нанесения покрытия.

В таблице приведены примеры конкретного выполнения изобретения.

Изобретение позволяет упростить процесс нанесения покрытия. На подложку с показателем преломления 1,45-1,8 наносят четыре диэлектрических слоя из материалов с высоким (ns 1,952,05) и низким (пя = 1,45-1,47) показателями преломл ения, причем .слой, прилегающий к подложке, выполнен из вещества с высоким показателем преломления. Оптические толщины слоев связаны следующим отношением: 2пв й»

=2п„й =2п d>=n>d<=,0,25.л,где 4,Л

d>,Д4 — геометрические тщины слоев, начиная от подложки, п — длина волны, соответствующая середине диапазона просветления. 1 табл .

Я е

Покрытия изготавливались электрон- Я но-лучевым испарением в вакууме по обычной технологии с использованием фотометрического контроля оптических толщин„ слоев.

Формула и зобр ет ения

QO

Просветляющее покрытие для .оптичес- ©} ких элементов с показателем преломления,1,45-1,8, состоящее из четырех диэлектрических слоев, выполненных из материалов с высоким п и низким n < показателями преломления, причем слой, прилегающий к подложке, выполнен из вещества с высоким показателем преломления, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью упрощения процесса нанесения покрытия, оптические толщины слоев, считая от подложки, связаны соотношением

1649486

2п й, = 2n d = 2пв 1ъ пв 1Ф

= 0,25%о, Составитель А. Гуров

Редактор Н.1Пвьщкая Техред ц,дидык Корректор Н.Ревская

Тираж 339

Подписное

Заказ 1520

РЧИИЛИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r.Yærîðîä, ул. Гагарина,101 где d,,d,d>,d — геометрические толщины слоев,. 1 — длина волны, соответствующая середине диапазона просветления, при этом n„= 1,45-1,47, n = 1,952,05.

Просветляющее покрытие для оптических элементов с показателем преломления 1,45-1,8 Просветляющее покрытие для оптических элементов с показателем преломления 1,45-1,8 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для просветления оптических элементов эксимерных лазеров, осветительных систем, объективов с большими апертурами, работающими в УФ-области спектора

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для просветления оптических элементов эксимерных лазеров, осветительных систем объективов с большими апертурами, работающих одновременно в ультрафиолетовом и видимом диапазонах спектра

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для фильтрации излучения в далекой инфракрасной области спектра

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к интерференционным оптическим покрытиям, и обеспечивает величину коэффициента отражения R≤0,2% для рабочей длины волны λ<SB POS="POST">раб</SB> при относительном изменении толщин слоев на ±10%

Изобретение относится к интерференционным фильтрам для коррекции спектральной чувствительности приемников излучения

Изобретение относится к оптике, преимущественно к цветной фотографии, и предназначено для конверсии (изменения) цветовой температуры падающего на фотопленку излучения

Изобретение относится к технологии оптических покрытий и может быть использовано при изготовлении светоделительных покрытий химическим методом

Изобретение относится к метеорологическим приборам и может использоваться для определения оптической плотности атмосферы и метеорологической дальности видимости

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано при производстве ламп накаливания с покрытиями на колбе, отражающими инфракрасное излучение

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано для получения многослойных интерференционных покрытий на колбах источников света и на деталях оптических приборов

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для просветления оптических элементов эксимерных лазеров, осветительных систем, объективов с большими апертурами, работающими в УФ-области спектора

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для просветления оптических элементов эксимерных лазеров, осветительных систем объективов с большими апертурами, работающих одновременно в ультрафиолетовом и видимом диапазонах спектра

Изобретение относится к анилинокрасочной промышленности, в частности к сульфокислотам замещенных N,N-дифенилдиимидов 3,4,9, 10-перилентетракарбоновой кислоты общей формулы где R - H, Br, Cl, OH, CH3, C4H9, OCH3, OC2H5; n = 1 или 2, используемым для формирования сверхтонких поляроидных пленок толщиной 0,1 - 0,6 мкм, селективных в области 480 - 550 нм, с повышенной термостабильностью до 350oС

Изобретение относится к органической химии, в частности к новым соединениям - сульфокислотам замещенных цис- или транс - дибензимидазолов 1, 4, 5, 8-нафталинтетракарбоновой кислоты общей формулы где R - H, CH3, C2H5, OC2H5, Cl, Br; n= 1 или 2, которые пригодны для формирования сверхтонких поляроидных пленок (с толщиной слоя 0,1 - 0,6 мкм) с повышенной термостабильностью (до 365 - 375oС)

Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к способам изготовления пленочных йодополивиниловых поляризационных светофильтров

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к интерференционным оптическим покрытиям, и обеспечивает величину коэффициента отражения R≤0,2% для рабочей длины волны λ<SB POS="POST">раб</SB> при относительном изменении толщин слоев на ±10%

Изобретение относится к оптике, в частности к поляризационным материалам, и может быть использовано при разработке очков для наблюдения стереоскопических изображений

Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к йоднополивиниловым поляризационным светофильтрам с высоким пропусканием света в видимой области поляризации, и может быть использовано в поляризационных микроскопах, в круговых поляризаторах в интерференционно-поляризационных фильтрах, в магнитометрах, в спектрополяриметрах и т.д
© Патентный поиск, поиск патентов на изобретения - FindPatent.RU 2012-2024
Политика конфиденциальности 2013-03-28T08:56:01
Наверх