Способ идентификации калиевого и натриевого полевых шпатов

 

Изобретение относится к области минералогии, в частности к способам идентификации полевых шпатов. Целью изобретения является повышение надежности идентификации кристаллов полевых шпатов. Делают выколки по плоскости спайности второго пинакоида, получают спектр отражения и идентифицируют кристаллы по положению наиболее интенсивных полос в спектрах отражения при волновых числах 1195 см<SP POS="POST">-1</SP> - для натриевого шпата и 1160 см<SP POS="POST">-1</SP> - для калиевого шпата. 2 ил.

(51)5 G 01 N 21/35

ГОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

Г!РИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ !

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

0с 4

0д

„ СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

Т (21) 4618281/25 (22) 12.12,88 (46) 23.08.91. Бюл. N. 31 (71) Петрозаводский государственный университет им. О.В. Куусинена (72) С.В. Кузнецов (53) 548.0(088.8) (56) Лазарев А.Н. Колебательные спектры и строение силикатов. — Л.: Наука, 1968, с. 24. (54) СПОСОБ ИДЕНТИФИКАЦИИ КАЛИЕВОГО И НАТРИЕВОГО ПОЛЕВЫХ ШПАТОВ

Изобретение относится к минералогии, а более конкретно к способам идентификации полевых шпатов.

Целью изобретения является повышение надел ности идентификации кристаллов полевых шпатов, На фиг 1 приведен спектр отражения натрvleeofli шпата; на фиг. 2 — калиевого шпата.

Способ может быть реализован на любом серийном ИК-спектрометре или спектрофотометре с. приставкой для измерения зеркального огражения.

Пример. Берут кристаллы полевых шпатов натриевых и калиевых. Приготавливают выколки по плоскостям спайности и идентифицируют их на предмет установления второго пинакоида известным кристаллографическим способом. Затем получают

ИК-спектры отражения на спектрометре

ИКС-21 с приставкой ИПО-22, По полученным спектрам отражения производят идентификацию полевых ш патов следующим. Ж,, 1672310 А1 (57) Изобретение относится к области минералогии, в частности к способам идентификации полевых шпатов. Целью изобретения является повышение надежности идентификации кристаллов полевых шпатов. Делают выколки по плоскости спайности второго пинакоида. получают спектр отражения и идентифицируют по ним кристаллы по положению наиболее интенсивных полос в спектрах отражения при волновых числах 1195 см — для натриевого шпата и 1160 см для калиевого шпата. 2 ил. образом. Натриевый полевой шпат имеет в области 880-1250 см чаще всего пять полос отражения и наиболее отличительной является полоса с максимумом 1 =

1195 см . Кроме того, характерна и форма контура пяти полос (фиг, 1).

Калиевый полевой шпат обычно имеет четыре полосы в том же интервале и наиболее характерная полоса с v = 1160 см и также специфическую форму этих полос (фиг. 2).

Формула изобретения

Способ идентификации калиевого и на триевого полевых шпатов, включающий облучение ИК-лучами и регистрацию спектра, отличающийся тем,что,с целью повышения надежности идентификации, делают выколки вдоль плоскости второго пинакоида, регистрируют ИК-спектры отражения и идентифицируют натриевый и калиевый шпаты по наличию максимумов в полосах

1195 см и 1160 см соответственно.

1672310

Составитель Д,Пахомов

Редактор А.Шандор Техред М.Моргентал Корректор О.Ципле

Заказ 2834 Тираж 384 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва. Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

))elf-1

8m ЯЯ 1ОЯ vX Za0

ФИГ 7

М

ЮО 950 ЮО 1130 1280

Фиг.2