Способ магнитографического контроля сварных швов

 

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано для обнаружения внутренних дефектов сварных швов магнитографическим методом . Цель изобретения - повышение чувствительности за счет отстройки от помех, обусловленных поверхностными неоднородностями сварного шва, - достигается благодаря тому, что после совместного намагничивания изделия и магнитной ленты, размещенной на поверхности шва, постоянным магнитным полем, магнитную ленту убирают, размещают на поверхности шва вторую магнитную ленту и воздействуют на изделие полуволной переменного магнитного поля с полярностью, противоположной полярности постоянного поля, и с частотой, определяемой глубиной неровностей поверхности сварного шва, а магнитограмму получают при совместном считывании с обеих лент. 4 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (si)s 6 01 и 27/85

ГОСУДАРСТВЕ ННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4492714/28 (22) 10.10.88 (46) 15.09.91. Бюл, М 34 (71) Могилевский машиностроительный институт (72) А.А.Давыдков и А.М.Шарова (53) 620.179.14 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

N. 1532862, кл. G 01 N 27/85, 1987.

Авторское свидетельство СССР

N 564583, кл. G 01 N 27/85, 1975, (54) СПОСОБ МАГНИТОГРАФИЧЕСКОГО

КОНТРОЛЯ СВАРНЫХ ШВОВ (57) Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано для обнаружения внутренних дефектов сварных швов магнитографическим метоИзобретение относится к области магнитной дефектоскопии и может быть использовано для обнаружения внутренних дефектов сварных швов магнитографическим методом.

Цель изобретения — повышение чувствительности эа счет отстройки от помех, обусловленных поверхностными неоднородностями сварного шва.

На фиг.1 представлена принципиальная схема реализации способа магнитографического контроля сварных швов; на фиг.2— магнитограмма, записанная на магнитной ленте при намагничивании сварного шва постоянным полем; на фиг.3 — магнитограмма, записанная на второй ленте при намагничивании сварного шва переменным

„„5U 1677600 Al дом. Цель изобретения — повышение чувствительности эа счет отстройки от помех, обусловленных поверхностными неоднородностями сварного шва, — достигается благодаря тому, что после совместного намагничивания изделия и магнитной ленты, размещенной на поверхности шва, постоянным магнитным полем, магнитную ленту убирают, размещают на поверхности шва вторую магнитную ленту и воздействуют на изделие полуволной переменного магнитного поля с полярностью, противоположной полярности постоянного поля, и с частотой, определяемой глубиной неровностей поверхности сварного шва, а магнитограмму получают при совместном считывании с обеих лент. 4 ил.

° Ъ полем; на фиг.4 — магнитограмма. полученная при совместном считывании двух лент.

На схеме реализации способа показаны изделие 1 с контролируемым сварным швом

2 и внутренним дефектом 3, размещенная О" на сварном шве 2 магнитная лента 4 и на- С1 магничивающий блок 5. На фиг. 2 — 4 им- С} пульсы 6 обозначены от краев ленты, импульсы 7 от.краев шва и импульсы 8 от дефекта.

Способ магнитографического контроля сварных швов осуществляется следующим образом.

На контролируемый сварной шов 2 накладывают магнитную ленту 4. Намагничивают магнитную ленту 4 совместно с иэделием 1 постоянным магнитным полем

Н. В результате действия постоянного маг1677600 нитного поля на магнитограмме. полученной при считывании с этой магнитной ленты (фиг.2), видны импульсы 7 полей рассеяния от краев шва, импульсы 8 от дефектов 3, импульсы 6 от краев ленты, а также импульсы, обусловленные неровностями поверхности сварного шва (на фиг.2 не показаны).

Затем снимают ленту 4 с поверхности шва, накладывают на шов другую ленту и воздействуют на изделие полуволной переменного магнитного поля Н, полярность которого выбирают противоположной полярности поля Н,а частоту определяют в зависимости от глубины неровностей поверхности сварного шва. При этом в частном случае

IH — I= IH I, Поскольку благодаря выбранной частоте переменное поле не проникает вглубь металла шва, поле рассеяния отдефектов не возникает и магнитограмма с этой ленты имеет вид, показанный на фиг.3, Поскольку импульсы на магнитограммах от обеих лент (фиг,2 и 3), импульсы от краев ленты, краев сварного шва и от неровностей поверхности, имеют противоположное направление, на магнитограмме, полученной при совместном считывании с обеих лент, видны только импульсы 8, обусловленные внутренним дефектом 3, т.е. происходит компенсация помех.

5 Формула изобретения

Способ магнитографического контроля сварных швов, заключающийся в том, что ленту накладывают на сварной шов, намагничивают ее совместно с изделием

10 постоянным магнитным полем, затем прикладывают к изделию переменное магнитное поле, считывают магнитограмму и по ней судят о качестве сварного шва, о т л ич а ю шийся тем, что, с целью повышения

15 чувствительности за счет отстройки от помех, обусловленных поверхностными неоднородностями сварного шва, перед приложением переменного магнитного поля первую магнитную ленту снимают, на по20 верхность изделия накладывают вторую магнитную ленту, прикладывают к изделию полуволну переменного магнитного поля с полярностью, противоположной полярности постоянного поля, и с частотой, опреде25 ляемой глубиной неровностей поверхности сварного шва, а магнитограмму получают при совместном считывании с обеих лент.

1677б00

Составитель И.Кесоян

Редактор О.Спесивых Техред M.Ìîðãåíòàë Корректор O,Êðàâöîâà

Заказ 3110 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035. Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101

Способ магнитографического контроля сварных швов Способ магнитографического контроля сварных швов Способ магнитографического контроля сварных швов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающему контролю магнитографическим методом

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества шва

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при считывании магнитограмм в процессе контроля качества изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для неразрушающего контроля и определения толщины изделий, имеющих доступ с одной стороны

Изобретение относится к неразрушающему контролю изделий магнитографическим методом дефектоскопии, в частности к конструкциям намагничивающих устройств гусеничного типа для магнитографической дефектоскопии

Изобретение относится к неразрушающему контроле и может быть использовано для магнитографической дефектоскопии изделий, а также для исследования доменной структуры ферромагнитных материалов

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества протяженных изделий из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий и протяженных сварных швов из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к неразрушающему контролю магнитографическим методом дефектоскопии при контроле качества изделий и их сварных соединений

Изобретение относится к области магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов, например гибов труб, шеек коленчатых валов, фасонных изделий, несущих конструкций и т.д

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и может быть использовано для дефектоскопии ферромагнитных лент и пластин

Изобретение относится к области неразрушающего магнитографического контроля труб и изделий трубчатой формы, в частности литых чугунных заготовок гильз цилиндров автомобилей

Изобретение относится к дефектоскопии магнитографическим методом и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля стыковых сварных соединений
Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля стыковых сварных швов

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля

Изобретение относится к магнитографическому контролю изделий с поверхностью малой кривизны и сварных швов со снятым усилением из магнитомягких сталей (с коэрцитивной силой меньше 10 А/см)
Наверх