Способ определения эмиссионной неоднородности термокатодов электровакуумных приборов

 

Изобретение относится к электронным приборам, в частности к способам контроля их термокатодов. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей способа определения эмиссионной неоднородности путем расширения номенклатуры исследуемых катодов. Цель достигается тем, что снимают наканальную характеристику катода, включая область перехода от режима пространственного заряда к режиму насыщения, и из нее определяют коэффициент вариации плотности тока по эмиттирующей поверхности катода по математическому соотношению, приведенному в описании изобретения. Коэффициент вариации, определенный из накальной характеристики, не зависит от условий измерений (электрического поля у поверхности катода и первеанса прибора), а потому тождественно равен коэффициенту, определенному из вольт-амперной характеристики, снятой при той же температуре. Способ позволяет сопоставлять катоды, измеренные в различных типах приборов, что было невозможно известными способами, также основанными на анализе эмиссионных характеристик. 1 ил.

Изобретение относится к электронной технике, а именно к способам анализа и контроля качества термокатодов при разработке и производстве электровакуумных приборов (ЭВП), и предназначено для определения и оценки неоднородности плотности тока эмиссии по эмиттирующей поверхности катода эмиссионной неоднородности. Известные способы имеют ограниченные функциональные возможности и целесообразны для применения при анализе и контроле эмиссионной неоднородности однотипных катодов в однотипных приборах (диодах). Целью изобретения является расширение функциональных возможностей способа за счет расширения номенклатуры исследуемых катодов. Цель достигается тем, что снимают накальную характеристику и из нее определяют коэффициент вариации плотности тока по эмиттирующей поверхности катода по соотношению k где IA и IB полный и измеренный токи при характеристической температуре катода. Из анализа закономерностей изменения тока на вольт-амперной и накальной эмиссионной характеристиках следует, что коэффициент вариации не зависит от условий измерений электрического поля у поверхности катода и первеанса прибора (диода). Поэтому коэффициент вариации, определенный по накальной характеристике при характеристической температуре катода, будет тождественно равен определенному по точкам вольт-амперной характеристики, снятым при той же температуре. Применение способа иллюстрируется примером определения эмиссионной неоднородности катода, поясняемым чертежом, на котором представлена накальная характеристика катода со следующими обозначениями: Тк температура катода; Uн напряжение накала; I ток катода; характеристическая температура; A точка перехода из режима насыщения в режим пространственного заряда, соответствующая полному току при характеристической температуре, B точка, соответствующая измеренному току при характеристической температуре. На чертеже отмечены полный ток IA 550 мА и измеренный ток IB 480 мА при характеристической температуре. Коэффициент вариации плотности тока по эмиттирующей поверхности катода равен 0,32, что позволяет составить суждение об эмиссионной неоднородности исследуемого катода. Расширение функциональных возможностей предлагаемого способа за счет расширения номенклатуры исследуемых катодов обусловлено сопоставимостью получаемых оценок эмиссионной неоднородности различных катодов в различных приборах (диодах), а также применимостью способа для различных типов эмиттеров катода, отсутствием необходимости устанавливать для различных типов катодов и конструкций приборов (диодов) соответствующие им особые условия и фиксированные точки измерений катодного тока, а также применимостью способа для комплексной оценки качества катода в приборе, адекватностью показателя эмиссионной неоднородности физическому определению свойства неоднородности эмиссии и математическому определению числовой характеристики рассеяния статистических распределений.

Формула изобретения

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭМИССИОННОЙ НЕОДНОРОДНОСТИ ТЕРМОКАТОДОВ ЭЛЕКТРОВАКУУМНЫХ ПРИБОРОВ путем снятия эмиссионной характеристики и определения коэффициента вариации плотности тока по эмиттирующей поверхности катода по соотношению где IА и IВ- полный и измеряемый токи в области перехода эмиссионной характеристики из режима пространственного заряда к режиму насыщения, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей способа за счет расширения номенклатуры исследуемых катодов, в качестве эмиссионной характеристики снимают накальную характеристику, а значения IА и IВ определяют при характеристической температуре катода.

РИСУНКИ

Рисунок 1



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электровакуумной технике, в частности к способам контроля вакуума в рентгеновских трубках без применения манометрических датчиков

Изобретение относится к электроламповой промышленности и может быть использовано при испытаниях и контроле качества люминесцентных ламп

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для исследования эмиссионных свойств сложных фотокатодов

Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано при испытании отклоняющих систем электронно-лучевых трубок (ЭЛТ)

Изобретение относится к электротехнике и может использоваться при изготовлении светосигнальных установок, в которых лампы накаливания эксплуатируются в режиме частых включений

Изобретение относится к светотехнике и предназначено для проверки прочности крепления цоколей к трубке-колбе люминесцентной лампы

Изобретение относится к радиоизмерительной технике

Изобретение относится к вакуумметрии и может быть использовано при измерении давления в электровакуумных приборах

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано в процессе ресурсных испытаний газоразрядных ламп (ГЛ) при их производстве и эксплуатации

Изобретение относится к испытаниям электровакуумных приборов, в частности к электрическим испытаниям высоковольтных мощных титронов в импульсных квазидинамических режимах, и может найти применение при разработке и производстве мощных электровакуумных приборов

Изобретение относится к контролю характеристик электровакуумных приборов и может быть использовано при разработках и производстве вакуумных катодолюминесцентных индикаторов и люминофоров

Изобретение относится к микроэлектронике, измерительной технике, может быть использовано при производстве, проектировании электролюминесцентных индикаторов (ЭЛИ), а также их научных исследованиях

Изобретение относится к области квантовой электроники, в частности к газоразрядным лазерам

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при производстве вакуумных люминесцентных индикаторов (ВЛИ) и люминесцентных материалов

Изобретение относится к электротехнической промышленности, в частности к производству разрядных ламп

Изобретение относится к области электротехники, а именно к устройствам для испытания электровакуумных приборов

Изобретение относится к области электронной техники и приборостроения, в частности к способам контроля термоэмиссионного состояния поверхностно-ионизационных термоэмиттеров ионов органических соединений, используемых для селективной ионизации молекул органических соединений в условиях атмосферы воздуха в газоанализаторах типа хроматографов и дрейф-спектрометров

Изобретение относится к области проведения испытаний приборов и может быть использовано при изготовлении мощных генераторных ламп
Наверх