Способ определения намагниченности насыщения ферритов на свч

 

Изобретение относится к технике контроля намагниченности насыщения ферритов на СВЧ. Цель изобретения 2 расширение фут мконаг.ъпых .гостей способа - достигается одновременным воздействием посте 1:жог- v 1гнитного поля, лежащего в плоскости пленки электромагнитного поля на двух частотах, и фиксацией выходного сигнала . В пленке создаются условия для формирования ловеочиос гп ч магнитостатической волны и элекгромагччтной волны на каждой стгте. На основании интераереггдчоьноь картины взаимодействия этих BOTH дл двух частот определяют постоянные распространения этих волн, а нама ничейноеTI пасищения рассчитывают го Формуле, ПРНБЙ денной в описании изобретения. 2 ил. Q 8

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (11) (g)g G 01 R 33/05

1: ( (., ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

flO ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4708194/21 (22) 20.06 ° 89 (46) 15.12.91. Бюл. Р 46 (7 1) Научно-исследовательский институт механики и физики при Саратовском государственном университете (72) В.В.Грузо, В.Н.Прокушкин и Ю.П. Иараевский (53) 621.317.44(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

Ф 1433209, кл. G 01 R 33/05, 1986.

° (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАИАГНИЧЕН= НОСТИ НАСЪИЦЕНИЯ ФЕРРИТОВ НА СВЧ (57) Изобретение относится к технике контроля намагниченности насыщения . ферритов на СВЧ. Цель изобретения—!

Изобретение относится к радиоизмерениям на СВЧ, точнее к измерениям параметров пленок феррита.

Целью изобретения является расширение диапазона измеряемых пленок.

На фиг. 1 изображена функциональная схема устройства, реализующего способ измерений; на фиг. 2 — интерференционная картина, снимаемая с приемной антенны регистрирующим устройством.

СВЧ сигнал подается на возбудитель 1 в виде микрополосковой линии,. который возбуждает в ферритовой пленке 2 поверхностную магнитостатическую волну (ИСВ) и одновременно быструю электромагнитную волну наводки.

Приемное устройство 3 в виде метки на коаксиале перемещается вблизи поверхности ферромагнитной пленки и принимает суммарный сигнал, который

2 расширение функционах ьаых возможностей способа — достиг.-ьзтся одновременным воздейств! ем пасто. нного У31ННТ» ного поля, лежащегс в плоскости пленки электромагнн;ного поля на двух частотах, и фиксацией выходного сигнала. В пленке создак|тся условия для формирования поверхностной магнитостатической волны и электромагнитной волны на каждой -:астсте . На основании интерференционной картины взаимодействия этих волн для (вух частот определяют постоянные распространения

I этих Волн q а намни нича ннос ть насьице ния рассчитывают го, ормуле, приве-денной в описании изобретения. г ич. передается на регистрирующее устрой- Я

/ ство i например, самописец) °

В результате определяется интерференционная картина взаимодействия ф . быстрой электромагнитной и магнитоста- Я ) тической волн (фиг. 2). (;ф

Из этой картины определяют посто- (,ф

--янную распространения ИСВ следующим ф образом. (,Д к =- 7/и, где 1 — расстояние между соседними интерференционными минимумами (максимумами).

Дисперсионнс:е уравнение для поверхностной МСВ записывают следующим обзом.

1+грсж;: + -р,=- 0, где р =(Ьце Ие +е!е) — !Е ) /(Ые -Ы 1 i

1698855

2() Где о

K42 =

A1)g25 () >®2 з („=Qg(0! („сд );

Яи = f н "о им= 4 i f Pо о — намагниченность насыщения;

Р

d — толщина пленки феррита

Ю = 2(Н вЂ” частота сигнала; . (†:гиромагнитное отношение.

Подавая сигнал на возбудитель на 2 разных частотах и измеряя соответ ствующие постоянные распространения (из интерференционной картины, можно ,измерять намагниченность насыщения, :4Ф„, 1 2((dl. и, )/(1/(1 + Ю !!+ с.hk< d) -1/(ethkd))

1Формула изобретения

Способ определения намагниченнос. ти насыщения Ьерритов на СВЧ, вклю.чающий одновременное воздействие постоянного магнитного поля, лежаще го в плоскости пленки, и электромаг нитных полей, последовательно подаваемьм на двух частотах, и измерение выходных сигналов, о т л и ч а юшийся тем, то, целью расширения диапазона измеряемйх пленок, на каждой частоте возбуждают в ппенке магнитостатическую поверхностную волну,и электромагнитную волну, по интерференционной картине для каждой часто-. ты при взаимодействии этих волн BpoJIb поверхности ппе нки определяют расстояние между двумя соседними интерферендионными максимумами или минимумами, а намагниченность насыщения рассчитывают по формуле

-l0 2иу

+ cthK

У

2((й ii.ã, гиромагнитное.- отношение; расстояние между соседними интерференционными минимумами (максимумами); частоты входного сигнала.

698855 фиг. 2

Составитель А. Романов

ТекРед А. Кравчук Корректор C- Шекмар

Редактор А. Калениченко

Заказ 4395 Тирах Подписное

ВЯИИПИ Государственного ко а тета по изобретения s открытиям пра ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раувская наб., д. 4/5

« » «4В» аЮа»а »» «««««»«» »»»» «»»»»»»

Производственно-пагиграфическое предприятие, г. Ухгород, ул. Проектная, 4

Способ определения намагниченности насыщения ферритов на свч Способ определения намагниченности насыщения ферритов на свч Способ определения намагниченности насыщения ферритов на свч 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике магнитных измерений и может быть использовано для изготовления сенсоров

Изобретение относится к технике измерения магнитных параметров и может быть использовано для неразрушающего локального экспресс-контроля намагниченности насыщения пленок с осью легкого намагничивания , расположенной в плоскости пленки Цель изобретения - повышение точности измерений - достигается тем, что переменное магнитное поле направлено в плоскости пленки, а регистрацию переменной составляющей оптического сигнала проводят при использовании тангенциального магнитооптического эффекта

Изобретение относится к технике измерений параметров магнитных материалов и может быть использовано для измерения параметров магнитных ферритовьгх пленок

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано при изготовлении запоминающих устройств на цилиндрических магнитных доменах

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля параметров магнитных пленок

Изобретение относится к магнитным измерениям

Изобретение относится к магнитометрам и может быть использовано для измерения напряженности магнитного поля и вектора магнитной индукции в науке, промышленности, медицине

Изобретение относится к электроизмерительной технике и, прежде всего, к магнитометрии

Изобретение относится к области электротехники, в частности к магниторезистивным считывающим элементам, и может быть использовано в компьютерной технике для считывания информации с магнитных носителей с высокой информационной плотностью, а также в сенсорной технике и автоматике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения напряженностей магнитных полей, например, в геофизических исследованиях

Изобретение относится к электроизмерительной технике

Изобретение относится к приборостроению и может быть использовано для определения полей рассеяния микроскопических объектов, в частности магнитных головок

Изобретение относится к способам измерений параметров тонких магнитных пленок (ТМП) и может найти применение при научных исследованиях и технологическом контроле образцов ТМП, например, гранатовых эпитаксиальных структур

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для измерения характеристик магнитных пленок
Наверх