Способ получения информации с искровой камеры

Авторы патента:


 

О П И С А Н И Е l72469

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

СИа СоввтбКйх

Социалистических

Республик

Зависимое от авт, свидетельства №

Кл. 21g, 18/01

Заявлено 20.VII I.1963 (№ 853409/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 09.Х.1967. Бюллетень ¹ 21

МПК G 21

УДЫ 539.1,073(088.8) кбмитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Дата опубликования описания 8.Х11.1967

Авторы изобретения

Э. С. Беляков, А. С. Нанасян и В. М. Харитонов

Физический институт

Заявитель

СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ С ИСКРОВОЙ КАМЕРЫ

Предмет изобретения

Известные способы непосредственного определения положения искры в искровой камере (например, акустический) дают возможность преобразования информации только по линейному закону.

Предложенный способ позволяет получать информацию с искровой камеры с преобразованием координаты проходящей через камеру частицы по любому заданному закону, благодаря чему существенно упрощается получение сведений, например, оо энергии частицы, которая зависит от координаты прохождения ее в искровой камере по сложному закону.

Способ заключается в преобразовании координаты проходящей через камеру частицы в непрерывный или дискретный код при помощи световой маски, представляющей сооой ряд щелей переменной ширины, или полупрозрачную пластинку с переменной отпичсской плотностью, и приемника света (фотоэлемента, фотоумножителя, электронно-оптического преобразователя и т. п.).

Для исключения влияния неоднородности свечения искры от раза к разу используется второй (опорный) фотоприемник, регистрирующий световой импульс от искры непосредственно, минуя маску, Прн этом измеряется сигнал, получаемый как отношение сигнала от световой маски к опорному сиг5 налу.

1. Способ получения информации с нскро10 вой камеры, зависящей от положения искры в камере, от.шчающайся тем, что, с целью д скретного преобразования данных о координате искры по произвольному заданному закону, осуществляют модуляцию света искры

15 прн помощи световой маски, состоящей из одной нли нескольких щелей необходпмой формы н переменной ширины.

2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что, с целью непрерывного преобразования дан20 ных о координате искры по произвольному заданному закону, осуществляют модуляцию света искры прн помощи пластинки, прозрачность которой изменяется от точки к точке по заданному закону, с применением цветных илн

25 поляризационных фильтров или без них.

Способ получения информации с искровой камеры 

 

Похожие патенты:

Способ определения энергетического порога чувствительности ядерной эмульсиипри известных способах оценки значения энергетического порога чувствительности фотоэмульсий по средней плотности проявленных зерен на следе частицы с определенной ионизирующей снособиостью онираются на 5 произвольные предложения о величине флюктуации в передаче энергии частицей мнкро- 'кристаллу agbr. это не дает возможности быть уверенным в достоверности способов.по предлагаемому способу можно прямо 10 'получить кривую распределения лппфокрнсталлов agbr ядерной эмульсии по их чувствительности.способ основан на изучении фотографической эффективности результата попадания в 15 микрокристалл отдельного электрона известной энергии, тормозяи1.егося внутри мнкрокристалла до остановки. при этом миниг^итльная энергия электро]1а, которая сообщает микрокристаллу способность к проявлению может 20 быть отождествлена с чувствительностью микрокристалла.заключается способ в том, что на однослойном препарате исследуемой эмульсии экспонируют под электронным пучком последова- 25 тельность полей, отличающихся энергией электронов, но при постоянстве экспозиций. после нроявления препарата определяют плотность проявленных зерен в полях облучения и строят зависимость выхода нроявлен- 30 ных зерен от энергии электронов.нов выбирают такими, чтобы можно было пренебречь вероятностью кратных попаданий электронов в микрокристалл и выходом электронов за пределы микрокристаллов. этим условиям соответствуют экспозиции 0,1—0,2 электрона на микрокристалл и эпергия электронов при экспозиции, не превыщающая 2000 эв (максимальиый пробег в agbr~ -^10^0 см).тогда нолучеииая зависимость выхода проявленных зерен от энергии электронного пучка будет показывать долю микрокристаллов с норого>&.! чувствнтельности не выще заданного значення энергии, а дифференцированная кривая — распределенне микрокристаллов по чувствительности.предмет изобретенияспособ онределення энергетического порога чувствительности ядерной эмульсни по плотности проявленных зерен, находящихся в ноле облучення, отличающийся тем, что, с целью нолучення сведеннй о распределепи'и мнкрокрнсталлов agbr по чувствительности, изучают выход проявленных зерен на последовательности полей однослойного препарата, экспонированных npii постоянной экспозиции электронами с различной энергней в условнях эксноннровання, когда вероятность кратных попаданнй электронов в микрокристалл и выход электронов за нределы микрокристалла нренебрежимо малы. // 172407

Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано в экспериментах на ускорителях
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано при регистрации заряженных частиц на ускорителях
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано в экспериментах с применением твердотельных трековых детекторов
Изобретение относится к области электрометаллургии и может быть использовано для плавки в вакуумно-дуговых печах слитков из титана и его сплавов, легированных изотопом углерод-14, в частности для проведения авторадиографических исследований

Изобретение относится к оптике, а именно к разделу оптических материалов для управления параметрами электромагнитного излучения: направлением распространения, интенсивностью, поперечными размерами пучка, длиной волны и частотой излучения

Изобретение относится к оптике, а именно к устройствам-светофильтрам, изменяющим свои оптические характеристики при изменении своего молекулярного состава под действием электромагнитного излучения

Изобретение относится к электрохромным индикаторным системам с токовой записью и стиранием информации
© Патентный поиск, поиск патентов на изобретения - FindPatent.RU 2012-2024
Политика конфиденциальности 2013-04-01T05:35:33
Наверх