Дефектоскоп, работающий на микрорадиоволнах с8ч

 

382389

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

1 л. 42k, 46/04

21е, 37/Об

Заявлено 05, IV.1965 (№ 1002722j25-28) с присоединением заявки ¹

МПК G 01п

G 011

",ДК 620.179.142(088.8) Пр иоритет

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Опубликовано 25.Ч.1966. Бюллетень № 11

Дата опубликования описания 13Х11.19бб

Авторы изобретения

Заявитель

В, П. Ковалев и М. Г. Кузнецов

Ленинградский электротехнический институт имени В.. (Ленина) ДЕФБКТОСКОП, РАБОТАЮЩИЙ НА МИКРОРАДИОВОЛНАХ СВЧ

Известные дефектоскопы, работающие на микрорадиоволнах СВЧ и содержащие излучающую антенну, приемную антенну-зонд и детекторную головку, обнаруживают дефекты в изделиях из диэлектриков фиксацией дифракционных полей за включением.

Особенность описываемого дефектоскопа состоит в том, что в его систему введены приемная антенна-зонд для фиксации дифракционных полей, образующихся перед включением, и детекторная головка.

При такой конструкции дефектоскопа возможно не только обнаруживать присутствие дефектов в изделиях из диэлектриков, но и определять глубину залегания дефектов.

На черте>ке показана принципиальная схема описываемого дефектоскопа.

Схема дефектоскопа включает генератор 1 микрорадиоволн, излучающую антенну 2, два интерферометра, объединенные в один, приемные антенны-зонды 3, 4, направленные ответвители 5, б, аттенюаторы 7, 8, фазовращатели 9, 10, тройники 11, 12, детекторные головки 18, 14 и гибкий волновод 15.

Излучающую антенну 2 и приемные антенны-зонды 8, 4 закрепляют с помощью механических качающихся кронштейнов так, что они могут перемещаться как вдоль своих осей, так и по радиусам, что позволяет подбирать наиболее выгодные расстояния между антеннами

2, 3, 4 и объектом 16, подлежащим изученнк>, а также находить наиболее выгодные углы падения и отражения микрорадиоволн. Излучающая антенна 2 посылает пучок микрорэдиоволн, направленных в сторону изучаемого объекта 16. Микрорадиоволны частично отражаются от поверхности раздела воздуха и среды, из которой состоит изучаемый объект, а частично проникают в толщу этого объекта, lO где они диафрагируют на включениях, если таковые есть в исследуемом объекге.

Рассеянные на включениях волны попадают в обе антенны-зонды 3, 4 и вызывают изменения сигналов в детекторных головках 18, 15 14, соединенных с усилителями и соответствующими регистрационными аппаратами, Оое приемные антенны-зонды включены в мостовые схемы, позволяющие вести регистрацию сигналов не только по амплитуде, но н по

20 фазе. В тракт, передающий мощность от генератора 1 к излучающей антенне 2, включены два направленных ответвителя 5, 6, по которым часть мощности генератора направляется к трактам приемных антенн-зондов через атте25 нюаторы 7, 8, фазоврашатели 9, 10 и тройники 11, 12. В трактах приемных антенн происходит суперпозиция волн, идущих от приемных антенн-зондов 8, 4 и волн, поступающих непосредственно от генератора, что позволяет

30 прн соответствующей настройке аттенюаторов

182389 ф 1

Составитель В. Кузнецов

Редактор T. В. Данилова Техред Г. Е. Петровская Корректоры: В. В, Крылова и Г. Е. Опарина

Заказ 1929, 14 Тираж 2700 Формат бум. 60+90 7s Объем 0,16 изд. л. Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2

7, 8 и фазовращателей 9, 10 вести регистрацию сигналов по фазе. Изучаемому объекту 16 или системе антенн сообщается механическое движение, позволяющее получить построчну1о развертку. Оба сигнала от детекторных головок 18, 14 поступают на регистрирующие приспособления, позволяющие вести построчную фиксацию дефектограмм. По разности сигналов, поступающих от детекторных головок 18, 14, определяют глубину залегания дефекта.

Предмет изобретения

Дефектоскоп, работающий на микрорадиоволнах СВЧ, содержащий генератор микрорадиоволн СВЧ, излучающую антенну и обьединенные в один интерферометры, приемную антенну-зонд, фиксирующую дифракционные поля за включением, направленный ответви5 тель, аттенюатор, фазовращатель, тройник и детекторную головку, отличающийся тем, что, с целью определения глубины залегания дефекта, в дефектоскопе установлен второй интерферометр с приемной антенной-зондом, 10 фиксирующей дифракционные поля перед включением, и детекторной головкой, причем по разности сигналов на выходе детекторных головок определяют глубину залегания дефектов.

Дефектоскоп, работающий на микрорадиоволнах с8ч Дефектоскоп, работающий на микрорадиоволнах с8ч 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для неразрушающего контроля состояния поверхности конструкционных материалов и изделий и может быть использовано в различных отраслях машиностроения и приборостроения
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к контролю поверхности металлических сооружений и объектов и может быть использовано для обнаружения и контроля развития дефектов на поверхностях металлических сооружений и объектов, установленных в коррозионных средах различной степени агрессивности в условиях подземного, атмосферного, морского или речного воздействия, в частности для обнаружения и контроля развития трещин на покрытых изоляций поверхностях нефте- или газопроводов

Изобретение относится к методам и технике неразрушающего контроля, например с помощью сверхвысоких частот, и предназначен для обнаружения дефектов в стенах и перекрытиях строительных сооружений при одностороннем доступе и может найти применение для обнаружения инородных металлических или диэлектрических предметов искусственного или естественного происхождения, в том числе расположенных за металлической арматурой, или закрепленных непосредственно на арматуре, или расположенных между прутками арматуры, со стороны противоположной направлению облучения электромагнитным сигналом, и в частности, в стенах строительных сооружений, выполненных по технологии цельнозаливных железобетонных конструкций

Изобретение относится к методам и технике неразрушающего контроля, например с помощью сверхвысоких частот, и предназначено для контроля дефектов в стенах и перекрытиях строительных сооружений, в частности армированных, при одностороннем доступе и может найти применение для обнаружения инородных металлических или диэлектрических предметов искусственного или естественного происхождения, расположенных за металлической арматурой, или закрепленных непосредственно на арматуре, или расположенных между прутками арматуры, со стороны противоположной направлению облучения электромагнитным сигналом, и в частности, в стенах строительных сооружений, выполненных по технологии цельнозаливных железобетонных конструкций

Изобретение относится к методам и технике неразрушающего контроля, например с помощью сверхвысоких частот, при одностороннем доступе к контролируемому объекту, и может найти применение для обнаружения в стенах и перекрытиях строительных сооружений инородных металлических или диэлектрических предметов искусственного и естественного происхождения, в том числе расположенных за металлической арматурой или закрепленных непосредственно на арматуре, или расположенных между прутками арматуры со стороны, противоположной направлению облучения электромагнитным сигналом, и, в частности, в стенах строительных сооружений, выполненных по технологии цельнозаливных железобетонных конструкций, а также скрытых дефектов в виде пустот и трещин, металлической арматуры, санитарно-технических коммуникаций, кабельных магистралей, электрических и телефонных проводок

Изобретение относится к области подповерхностной радиолокации

Изобретение относится к устройствам неразрушающего контроля и может использоваться для обнаружения неоднородностей в строительных конструкциях

Изобретение относится к области обнаружения локальных дефектов в проводниках с использованием акустической эмиссии и может найти применение для выявления скрытых локальных дефектов в различных металлических конструктивных элементах, находящихся в статическом состоянии или в процессе движения

Изобретение относится к дефектоскопии с помощью СВЧ-волн и может найти применение для обнаружения неоднородностей в различных твердых средах, определения их расположения и геометрических форм
Наверх