Способ калибровки магнитных дефектоскопов и устройство для его осуществления

 

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов. Цель изобретения - расширение области использования за счет калибровки также и дефектоскопов, предназначенных для контроля сварных соединений из закаливающихся сталей. В способе калибровки магнитных дефектоскопов , заключающемся в том, что на бездефектный контрольный образец укладывают имитатор сварного шва в виде электропроводящей пластины, размещают на нем имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, намагничивают образец постоянным полем, пропускают по имитаторам то к во взаимнопротивоположных направлениях, считывают сигнал от дефекта и по величин этого сигнала проводят калибровку дефектоскопа , одновременно с двух сторон имитатора сварного шва укладывают имитатор зоны термического влияния в &иде электропроводящих пластин и пропускают по ним ток в том же направлении, что и по имитатору дефекта. Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов, содержащее бездефектный контрольный образец, закрепленный на нем имитатор сварного шва и расположенный на нем имитатор дефектов, выполненные каждый в виде электропроводящей пластины, ширина имитатора шва больше ширины имитатора дефекта, и два источника тока. Имитаторы сеэрного шва и дефекта подключены соответственно к источникам тока так, что направления токов в них противоположны. Устройство снабжено п реостатами и имитатором зоны термического влияния в виде п пар электропроводящих пластин, расположенных с двух сторон имитатора шва, пластины имитатора зоны термического влияния попарно подключены через реостаты параллельно имитатору дефекта к источнику тока имитатора дефекта. 2 ил. ел с 00 XI о ел

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)л G 01 N 27/82

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

В (21) 4916961/28 (22) 07.03.91 (46) 23.05.93. Бюл. ¹ 19 (71) Могилевский машинострдительный институт (72) А.М. Шарова, А.Н. Синица и Г.А. ЛехноВич (56) Авторское свидетельство СССР

N 911305, кл. G 01 N 27/82, 1982.

Авторское свидетельство СССР № 1589190, кл, G 01 N 27/82, 1990, (54) СПОСОБ КАЛИБРОВКИ МАГНИТНЫХ

ДЕФЕКТОСКОПОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ

ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (57) Изобретение относится к средствам нераэрушающего контроля и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов, Цель изобретения — расширение области использования за счет калибровки также и дефектоскапов, предназначенных для контроля сварных соединений из закаливающихся сталей. В способе калибровки магнитных дефектоскопов, заключающемся в том. что на беэдефектный контрольный образец укладывают имитатор сварного шва в виде электропроводящей пластины, размещают на нем имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, намагничивают образец постоянным полем, Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов.

Целью изобретения является расширение области использования эа счет калиб„„ (3„„1817015 А1 пропускают по имитаторам ток во взаимнопротивоположных направлениях, считывают сигнал от дефекта и по величина этого сигнала проводят калибровку дефектоскопа, одновременно с двух сторон имитатора сварного швэ укладывают имитатор зоны термического влияния в виде электропроводящих пластин и пропускают по ним ток в том же направлении, что и по имитатору дефекта. Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов. содержащее бездефектный контрольный образец, закрепленный на нем имитатор сварного шва и расположенный на нем имитатор дефектов, выполненные каждый в виде электропрбводящей пластины, ширина имитатора шва больше ширины имитатора дефекта, и два источника тока, Имитаторы сварного шва и дефекта подключены соответственно к источникам тока так, что направления токов в них противоположны. Устройство снабжено и реостатами и имитатором зоны термического влияния в виде и пар электропроводящих пластин, распбложенных с двух сторон имитатора шва, пластины имитатора зоны термического влияния попарно подключены через реостаты параллельно имитатору дефекта к источнику тока имитатора дефекта, 2 ил, ровки, так же и дефектоскопов, предназначенных для контроля сварных соединений из закали вающихся сталей, На фиг.1 представлено устройство для калибровки магнитных дефектоскопов на контрольном образце без дефекта на фоне

1817015 магнитных полей, созданных имитатором зоны термического влияния в виде электропроводящих пластин; на фиг,2 — распределение магнитного поля имитатора дефекта, сварного.шва и зоны термического влияния на фоне намагничивания полем Но

Устройство (см,фиг.1) для осуществления способа содержит бездефектный контрольный образец 1, электропроводящие пластины 2-4, служащие имитаторами шва, дефекта и зоны термического влияния, соответственно, источники тока 5,6, подключенные соответственно к пластинам 3 и 2, Кроме того пластины 4 подключены к источнику 5 через реостаты 7. Пластины 4 закреплены на поверхности образца 1 у краев пластины 2. Изменяя сопротивление реостатов 7, можно добиться заданной величины тока в каждой из пластин 4.

Способ осуществляется следующим образом, Бездефектный образец 1 намагничивают полем Но от источников 5 и 6 по пластинам пропускают электрический ток.

Распределение напряженности магнитного поля, образуемого пластинами 4 совместно с полем Чо (см.фиг.2), близко к распределению напряженности поля в зоне термического влияния реального сварного соединения из закаливающейся стали, если ширина каждой из пластин 4 равняется ширине участков с различной структурой и химическим составом в ЗТВ реального сварного соединения, После установки, необходимого значения электрического тока в пластинах 2 — 4 (см.фиг.1) на поверхность контрольного образца устанавливают датчик магнитного дефектоскопа (не показан) и перемещают в направлении, пересекающем пластины 2 — 4, При пересечении датчиком пластин 2 — 4 регулировкой чувствительности настраивают дефектоскоп на выявление дефекта с заданными размерами.

Устройство для осуществления способа (см.фиг.1) калибровки магнитных дефектоскопов работает следующим образом, От источников 5 и 6 по имитаторам сварного шва 2 и по имитаторам дефекта 3 и зоны термического влияния 4 пропускают электрический ток. При помощи реостатов 7 в каждой паре пластин 4 устанавливают величину тока такой, чтобы величина магнитного поля, создаваемого каждой парой пластин

4, была равна величине поля соответствующей зоны в 3ТВ.

Пример, Калибруют магнитографический дефектоскоп МД-11Г для контроля сварных соединений из стали 10ХСНД, толщиной 6 мм с шириной >усиления 15 мм.

20

Подлежат выявлению дефекты шириной более 0,5 мм.

Толщина бездефектного образца 6 мм.

На его поверхность укладывают друг на друга пластины шириной 15 мм и 0,5 мм. Затем с двух сторон пластины шириной 15 мм раз.мещают по 3 пластины шириной 0,9; 1,2; 1,2 мм каждая, имитирующие соответственно следующие участки ЗТВ: перегрева, полной перекристаллизации, неполной перекристаллизации, После этого укладывают на пластину магнитную ленту И-4701. Намагничивают образец магнитным полем Но =

250 А/GM, по имитаторам дефекта и шва пропускают ток 15 А и 100 А соответственно, а по пластинам, уложенным с двух сторон имитатора шва пропускают ток силой 10;

8; 6 А, Считывают магнитограмму с ленты, добиваются четкого выделения сигнала от дефекта на фоне сигналов от пластины имитирующих 3ТВ, Формула изобретения

1,Способ калибровки магнитных дефектоскопов, заключающийся в том, что на бездефектный контрольный образец укладывают имитатор сварного шва в виде электропроводящей пластины, размещают на нем имитатор дефекта в виде электропрово30 дящей пластины, намагничивают образец постоянным полем, пропускают по имитаторам ток во взаимнопротивоположных направлениях, считывают сигнал от дефекта и по величине этого сигнала проводят калиб35 ровку дефектоскопа, отличающийся тем, что, с целью расширения области использования путем обеспечения калибровки также и дефектоскопов, предназначенных для контроля сварных соеди40 нений из закаливающихся сталей, одновременно с двух сторон имитатора сварного шва укладывают имитатор зоны термического влияния в виде электропроводящих пластин и пропускают по ним ток в

45 том же направлении, что и по имитатору дефекта, 2.Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов, содержащее бездефектный контрольный образец, закрепленный

50 на нем имитатор сварного шва и расположенный на нем имитатор дефектов, выполненные каждый в виде электропроводящей пластины, ширина. имитатора шва больше ширины имитатора дефекта, и два источника тока, имитаторы сварного шва и дефекта подключены соответственно к источникам тока так, что направления токов в них противоположны, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью расширения области использования путем обеспечения калибровки также и

1817015

Фиг. Я

Составитель А. Синица

Техред М.Моргентал

Редактор Т. Шагова

Корректор О. Густи

Заказ 1719 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 дефектоскопов, предназначенных для контроля сварных соединений из закаливающихся сталей, оно снабжено и реостатами и имитатором зоны термического влияния в виде и пар злектропроводящих пластин, расположенных с двух сторон имитатора сварного шва. пластины имитатора зоны термического влияния попарно подключены через реостаты параллельно имитатору де5 фекта к источнику тока имитатора дефекта.