Интерференционный способ контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей

 

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при контроле радиуса кривизны вогнутых оптических сферических поверхностей , в частности пробных стекол. Цель изобретения - повышение точности контроля . Образцовую пропускающую осевую синтезированную голограмму устанавливают перед контролируемой поверхностью и освещают соосным с ней когерентным коллимированным пучком света. С помощью голограммы в ее симметричных порядках дифракции в проходящем свете из коллимированного пучка формируют два направленных на контролируемую поверхность гомоцентрических пучка света с центрами, расположенными на расчетном расстоянии 2Р один от другого, и по муаровой картине, возникающей при совмещении на голограмме двух пучков света, полученных отражением гомоцентрических пучков света, полученных отражением гомоцентрических пучков от контролируемой поверхности, определяют величину. и знак отступления контролируемого радиуса от расчетного расстояния 2Р между центрами гомоцентрических пучков, а также форму контролируемой поверхности. 1 ил. сл

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК ((9) () I) (5ц5 G 01 В 11/24

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 480 1.002/28 (22) 11.03.90 (46) 30.07.93. Бюл.) в 28 (71) Производственное объединение "Завод

Арсенал" им.В.И.Ленина (72) А.А.Курибко и Н.С.Селезнев (56) Авторское свидетельство СССР йв 557621, кл. 6 01 В 4/24, 1978. (54) ИНТЕРФЕРЕНЦИОНН61Й СПОСОБ

КОНТРОЛЯ РАДИУСА КРИВИЗНЫ ОПТИЧЕСКИХ СФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ (57) Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при контроле радиуса кривизны вогнутых оптических сферических поверхностей, в частности пробных стекол. Цель изобретения — повышение точности контроля. Образцовую пропускающую осевую синтезированную голограмму устанавливают

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей, в частности пробных стекол.

Цель изобретения — повышение точности.

Предлагаемый способ поясняется чертежом.

Располагают на общей подложке 1 соосно первую и вторую пропускающие образцовые осевыв синтезированные голограммы 2 и 3. устанавливают их перед контролируемой поверхностью 4, освещают коллимированным когерентным пучком 5 света. направляя его параллельно их общей перед контролируемой поверхностью и освещают соосным с ней когерентным коллимированным пучком света. С помощью голограммы в ее симметричных порядках дифракции в проходящем свете из коллимированного пучка формируют два направленных на контролируемую поверхность гомоцентрических пучка света с центрами, расположенными на расчетном расстоянии

2Р один от другого, и по муаровой картине, возникающей при совмещении на голограмме двух пучков света, полученных отражением гомоцентрических пучков света, полученных отражением гомоцентрических пучков от контролируемой поверхности, onределяют величину и эйак отступления контролируемого радиуса от расчетного расстояния 2Р между центрами гомоцентрических пучков, а также форму контролируемой поверхности, 1 ил. оси ОХ, формируют иэ пучка 5 эталонный пучок 6 отражением от эталонной поверхности 7, образуют иэ коллимированного пучка

5 в проходящем свете с помощью голограмм

2 и 3 в их отличных от нулевых порядков дифракции, соответственно, первый и второй гомоцентрические пучки 8, 9 света, у которых центры 10, 11, соответственно. расположены на расчетном расстоянии Рр-Р1, один от другого на общей оси OX голограмм

2, 3 и. по меньшей мере, один из которых, например, 8 — сходящийся. Направляют пучок 8 света на поверхность 4 и полученный из него отражением от нее пучок 12 света с центром 11 направляют на голограмму 2, с

1830445 помощью которой преобразуют его в прошедшей сквозь голограмму 2 в обратном свете ходе лучей квазиколлимированный пучок 14 света, Направляют пучок 9 на поверхность 4 и получают из него отражением от поверхности 4 пучок 15 с центром 16 направляют на голограмму 3, с помощью которой преобразуют его в прошедший сквозь голограмму 3 в обратном ходе лучей квазиколлимированный пучок 17 света, Совмещают с эталонным пучком 6 света оба пучка 14, 17 и регистрируют с помощью светоделителя 18 и объектива 19 на экране 20 одновременно две интерференционные картины 21, 22 сопоставляют их и по взаимному искривлению интерференционных полос судят о величине и знаке отступления неконтролируемого радиуса R от расчетного расстояния Pz-P> между центрами 10, 11 пучков 8, 9, образованных голограммами в прямом ходе лучей, т.е. определяют Л = R - (Pz - Р1), Формула изобретения

Интерференционный способ контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей, заключающийся в том, что освещают образцовую осевую синтезированную голограмму, расположенную на подножке, освещают контролируемую поверхность и судят о несоответствии радиуса кривизны контролируемой поверхности параметру синтезированной голограммы, о т.л и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности, предварительно размещают на подложке соосно с первой образцовой осевой голограммой вторую пропускающую образцовую осевую синтезированную голограмму и устанавливают голограммы перед контролируемой поверхностью на одной оси, голограммы освещают коллимированным пучком когерентного излучения, параллельно их оси формируют из коллимированного пучка

10 эталонный пучок, контролируемую поверхность освещают двумя гомоцентрическими пучками, соответствующими нулевым порядкам дифракции соответственно первой и второй голограммы, центры которых распо15 ложены на расчетном расстоянии друг от друга на оси голограмм и по крайнем мере один из которых является сходящимся, при сравнении радиуса кривизны с параметром синтезированной голограммы направляют

20 отраженные от контролируемой поверхности первый и второй гомоцентрические пуч- ки на соответственно первую и вторую гдлограммы, выделяют за голограммами и в обратном ходе квази коллимированные пучки, каждый из пучков совмещают с эталонным пучком до образования интерференционной картины, регистрируют одновременно две интеференционные картины и определяют взаимное искривление дифференционных

30 полос, а в качестве расчетного параметра, по которому судят о знаке и величине отступления контролируемого радиуса, выбирают расстояние между центрами первого и второго гомоцентрических пучков.

35 f830445

Составитель В.Климова

Техред М.Моргентал Корректор И. Шулла

Редактор

Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Заказ 2518 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открыиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4!5

Интерференционный способ контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей Интерференционный способ контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей Интерференционный способ контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и используется для одновременного измерения угловых и линейных перемещений объекта в пространстве относительно неподвижной системы координат

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при контроле радиуса кривизны оптических сферических поверхностей, в частности пробных стекол

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к системам технического зрения, и может быть использовано в роботизированном производстве

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения формы поверхности объектов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в производстве оптических деталей

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для измерения профиля пространственной конструкции

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в точном приборостроении для контроля формы прозрачных тонкостенных оболочек

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике для измерения формоизменений поверхности отверстий и соответствие ее эталону

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам определения геометрических параметров объектов и оптическим устройствам для осуществления этих способов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактных измерений профиля деталей типа тел вращения, а также слабой волнистости поверхности в виде пространственной функции

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для контроля технического состояния рельсового подвижного состава

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптико-электронным устройствам для бесконтактного измерения отклонения поверхности длинных узких объектов от прямолинейного на заданном отрезке и может быть использовано для контроля прямолинейности поверхности катания рельса
Наверх