Способ градуировки фотоэлектрических приборов

Авторы патента:

G01N15 - Исследование свойств частиц; определение проницаемости, пористости или площади поверхности пористых материалов (идентификация микроорганизмов C12Q)

G01N1/18 - Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств (разделение материалов вообще B01D,B01J,B03,B07; аппараты, полностью охватываемые каким-либо подклассом, см. в соответствующем подклассе, например B01L; измерение или испытание с помощью ферментов или микроорганизмов C12M,C12Q; исследование грунта основания на стройплощадке E02D 1/00;мониторинговые или диагностические устройства для оборудования для обработки выхлопных газов F01N 11/00; определение изменений влажности при компенсационных измерениях других переменных величин или для коррекции показаний приборов при изменении влажности, см. G01D или соответствующий подкласс, относящийся к измеряемой величине; испытание

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Секта Советских

Социалистических

Республик

* t*

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 27.1.1966 (№ 1053103/26-10) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 04.Ч.1967. Бюллетень ¹ 10

Дата опубликования описания 15Х1.1967

Кл. 421., 20/01

МПК 6 Olk

Комитет па делам иэобретенчй и открьлий при Совете Министров

СССР

УДК 621.317.7.082.52.089. .6 (088.8) Автор изобретения

А. Г. Лактионов

Заявитель

Институт прикладной геофизики

СПОСОБ ГРАДУИРОВКИ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПРИБОРОВ

Известны способы градуировки фотоэлектрических приборов для определения размеров частиц, основанные на оседании частиц на твердые поверхности.

По предложенному способу в качестве таких твердых поверхностей используются пластины воздушного электрического конденсатора.

Поток с частицами, среди которых 10о/о незаряженных, пропускают сначала через воздушный зазор плоского конденсатора, а затем через градуированный прибор. В градуируемом приборе предварительно устанавливают амплитудный анализатор. Для осуществления оседания частиц на пластинах конденсатора постепенно повышают напряжение на его обкладках до значения, соответствующего стабилизации концентрации.

После этого по известным формулам физики определяют размер осевших частиц, заряженных одним электроном, и по нему находят размер частиц данной узкой фракции.

Предмет изобретения

Способ градуировки фотоэлектрических приборов для определения размеров частиц путем их оседания, отличающийся тем, что, с целью увеличения области измерения частиц до диаметров менее одного микрона и выделения узких по размеру фракций этих частиц, поток, содержащий частицы, пропускают сначала через воздушный зазор плоского конденсатора, а затем через градуируемый прибор, снабженный амплитудным анализатором, а для оседания частиц на пластины конденсатора постепенно повышают напряжение на его обкладках до значения, соответствующего стабилизации концентрации, после чего по известным формулам определяют размер осевших частиц, заряженных одним электроном, и по нему находят размер частиц данной узкой фракции.