Многолучевой интерферометр

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОЫЕт Е Н ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Саюа Советских

Социалистических

Республик

it Tj i с.

"СсЕ.-ссс" с- .. - - --".ст :с:.:тс!;

" "" :::. т 0Т1. "-"

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 15.71.1966 (№ 1083146/25-25) с присоединением .заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 31.VI.1967. Бюллетень № 12

Дата опубликования описания 25.VI I. 1 967

1(л, 42 и, 34/11

Комитет по делае изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

МПК О 02d

УДК 535.411(088.8) Авторы изобретения

С. Я. Ловков и И. В. Скоков

Заявитель

МНОГОЛУЧЕВОЙ ИНТЕ1 ФЕРОМЕТР

Известные многолучевые интер ферометры типа Фабри-Перо состоят из пары зеркальных плоскопараллельных пластин, между которыми помещается исследуемая прозрачная неоднородность. Эти устроиства предназначены для определения различных параметров (например, плотности, давления, температуры, показателя преломления и т. д.) в прозрачных средах.

Однако они не позволяют проводить одновременное исследование неоднородностей, характеризующихся наличием участков с существенно различными величинами определяемых параметров.

Для таких неоднородностей, характеризующихся разными величинами и направлениями градиентов плотности, необходима исходная настройка различных участков интерференционного поля на различную ширину и ориентировку полос.

Известные многолучевые интерферометры не позволяют проводить одновременную настройку интерференционной картины, обеспечивающую получение системы полос с различными параметрами за один цикл эксперимента, т. е. без перенастройки устройства.

В данном устройстве это достигается тем, что одна из зеркальных пластин выполнена в виде многоэлементного блока, состоящего из системы зеркальных пластин с различными коэффициентами отражения и имеющими независимые юстировочные механизмы.

На чертеже изображен описываемый многолучевой интерферометр.

Он содержит источник света 1, объектив 2 коллиматора, зеркальную плоскопараллельную пластину 8, зеркальный многоэлементный блок 4, представляющий собой систему зер10 кальпых пластин с различными коэффициентами отражения и имеющими независпмые юстировочные механизмы, исследуемую неоднородность 5, объектив б и регистрирующую систему 7.

Предложенное устройство работает следующим образом.

Плоский волновой фронт от источника 1 и объектива 2 проходит через зеркальную пластину 8, исследуемую неоднородность 5 и зер20 кальный блок 4.

Интерференционная картина с помощью объектива б изображается регистрирующей системой 7 (например, на экране), сопряженной с исследуемым полем.

В зависимости от характера изучаемого объекта зеркала мчогоэлементного блока устанавливаются определенным образом, т. е. на различном расстоянии и под различными

30 углами относительно зеркальной пластины д.

Благодаря этому ицтерференционное поле будет иметь ряд участков с разными параметрами интерференционной картины.

Предложенное устройство повышает точность и надежность измерения, снижает стоимость эксперимента, устранив необходимость введения специальных спосооов согласования экспериментальных данных.

Предмет изобретения

Многолучевой интерферометр, построенный по схеме Фабри-Перо, содержащий коллиматор, две зеркальные плоскопараллельные пластины и регистрирующую систему, отличаюи ийся тем, что, с целью одновременного изучения участков исследуемого поля с различ5 ными параметрами и получения системы интерференционнь|х картин с различной шириной и ориентировкой полос, одна из зеркальных пластин выполнена в виде многоэлементного блока, состоящего из системы зеркально ных пластин с различными коэффициентами отражения и имеющими независимые юстировочные механизмы.

Составитель И. H. Нсбосклонова

Редактор H. А. Джарагетти Текред Л. Я. Бриккер Корректоры: Н. В. Черетаева и Л. В. Наделиева

Заказ 2!83/5 Тираж 535 Подписное

ЦПИЫП14 Комитета по дслат изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2

Многолучевой интерферометр Многолучевой интерферометр 

 

Похожие патенты:

Мотбка ' // 185511

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения с высокой точностью показателей преломления изотропных и анизотропных материалов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для высокоточных измерений малых угловых перемещений в специальных геодезических работах, в точных геофизических измерениях и при производстве крупногабаритных изделий в качестве контрольно-измерительной аппаратуры
Наверх