Прибор для проверки пирамидальности граней шлифовальных призм

 

Класс ФВЬ;-34 М 26097 !

f с

V

Йвторекое евидетерьетво на изобретение

ОПИСАНИЕ прибора для поверки пирамидальности граней шлифованных призм.

К авторскому свидетельству И. Д. Мураввйского, заявленному

30 мая 1931 года (заяв. свид. ¹ 89260).

О выдаче авторского свидетельства овубликовано 30 аиреля 1932 года.

Предмет изобретения.

Предлагаемый прибор дпя поверки пирамидальности граней шлифовальных призм основан на принципе аутоколлимации.

На схематическом чертеже изображен прибор в продольном разрезе.

В фокусе объектива 4 телескопической трубы б, имеющей для удобства работы коленчатый вид, помещена шкала 3, деления которой соответствуют требуемой точности измерения.

Шкала 3 рассматривается наблюдателем через окуляр 2, снабженный диоптрийными делениями, и может иметь осевое перемещение для установки в фокусе объектива 4.

Изменение направления лучей в колене достигается зеркалом 5 с посеребренной передней плоскостью (зеркало может быть заменено призмой).

Исследуемую призму 9 помещают под объективом трубы б на столике 11 в сменном гнезде 7. Призма опирается одной своей плоскостью на нож 8 и острие 8, а с другой только на нож.

Столик 11 притягивается к основанию

15 пружиной 13, действующей на становой винт 14, и может по необходимости изменять положение с помощью микрометрических винтов 12.

Труба 6 связана с основанием 15 посредством неподвижной стойки 16 и хомутика 17, могущего перемещаться по стойке вниз и вверх кремальерой 19.

Гнездо 7 устанавлива1от по эталонной призме, так что отражающая гипотенузная плоскость занимает перпендикулярное положение к главной оптической оси трубы, что определяется совпадением отраженного изображения шкалы с са ма и ш к алой.

На установленное гнездо помещают исследуемую шлифованную призму 9, на гипотенузную плоскость которой накладывают плоско-параллельное зеркало 10.

Зеркало 10, наложенное на призму, займет положение, не перпендикулярное к оптической оси трубы 6, и отраженное изображение не совпадет с самой шкалой.

Величину расхождения между центральными штрихами шкал отсчитывают по самой шкале в угловых единицах.

В случае полированных призм без применения зеркала 10 можно определить: 1) пирамидальность, 2) ошибку угла 90 и 3) ошибку углов 45 .

Прибор для поверки пирамидальности граней шлифованных призм с передвижной по стойке аутоколлимационной трубой, отличающийся применением расположенного под объективом 4 и снабженного установочными микрометриче-,сущего сменное гнездо 7 с ножами 8 скими винтами 12 столика 11, притяги- I и острием 8 для приема исследуемой ваемого к основанию 15 пружиной 13, I призмы 9, на которой лежит плоскодействующей на становой винт 14, и не- параллельное зеркало 10.

6 4 (1

«У тяп..Печатный Труд". Зак 4877 — !Обем»

Щ

Прибор для проверки пирамидальности граней шлифовальных призм Прибор для проверки пирамидальности граней шлифовальных призм 

 

Похожие патенты:

Гониометр // 2222777
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения плоских углов многогранных призм, показателя преломления оптических материалов и калибровки различных преобразователей угла

 // 197990

 // 238819

 // 266236

Изобретение относится к оптической промышленности и может быть использовано при медикобиологических экспресс-анализах

Изобретение относится к точному приборостроению и может быть использовано в контрольно-измерительной технике, в частности в микроскопах сравнения и стереоскопических микроскопах

Изобретение относится к вспомогательным приспособлениям для электронных микроскопов и может быть использовано в качестве координатного стола при работе с другими приборами

Изобретение относится к нанотехнологии, а именно к устройствам, обеспечивающим микроперемещения по трем координатам, например, в качестве сканера в зондовой микроскопии

Изобретение относится к нанотехнологии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим перемещения объекта по трем координатам (X, Y, Z) и точную повторяемость положений объекта при его переустановке, например для перемещения образцов, держателей образцов, зондов и других элементов в сканирующей зондовой микроскопии

Изобретение относится к нанотехнологии, а более конкретно к устройствам перемещения по трем координатам

Изобретение относится к области оптического приборостроения

Изобретение относится к медицинской технике, а точнее к устройствам, применяемым для совершенствования микробиологических исследований, и касается технического обеспечения прямого просмотра микроорганизмов, взятых с ограниченных мест, в сканирующем электронном микроскопе JEOL jsm-35 С, JP

Изобретение относится к устройствам для установки изделий в заданное пространственное положение в принятой системе координат

Изобретение относится к области микроэлектронной техники и может быть использовано при разработке технологического и тестового оборудования
Наверх