Способ измерения поверхностной плотности или толщины листовб1х материалов и пленок

 

29327I

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено 08.Vl1. 1963 {№ 845859(26-10) Кл. 42Ь, 12/03 с присоединением заявки №

МПК G 01Ь

Приоритет

Опубликовано 28.IX.1967. Бюллетень ¹ 20

Дата опубликования описания 7.XII.1967

Комитет по делам изобретений и открытиЯ при Совете Мииистров

СССР

УДК 531.754: 531.717 (088.8) Авторы изобретения И. Л. Федотов, В. А. Янушковский, И. М. Таксар и Б. A. Ольшваигер

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОЙ ПЛОТНОСТИ

ИЛИ ТОЛЩИНЫ ЛИСТОВЫХ МАТЕРИАЛОВ И ПЛЕНОК

Предмет изобретения

По известному способу измерения поверхностной плотности или толщины листовых материалов и пленок, использующему эффект ослабления потока излучения при его прохождении через контролируемый материал, источник и детектор размещают с разных сторон контролируемого материала. Бывают слу.чаи, когда этим способом нельзя воспользоваться из-за недоступности отдельных контролируемых узлов.

Отличительной особенностью предлагаемого способа является использование для контроля поверхностной плотности или толщины различных материалов и пленок эффекта ослабления обратнорассеянного (-излучения в воздушной среде, находящейся по другую сторону от исследуемого ооразца. Это позволяет расширить нижний предел измеряемых величин и упростить конструкцию устройств, осуществляющих данный способ. Последний заключается в следующем.

Отраженное от сло", воздуха р-излучение, проходя через образец, частично поглощается в его слое, что создает некоторую интенсив.юсть излучения, зависящую от поверхностной плотности исследуемого материала.

В качестве источника излучения используют изотопы мягкого р-излучения, например про147 метий Р„, Р-излучение от источника при первоначальном прохождении через исследуемый образец, попадая в воздушную среду, испытывает обратное рассеяние и при этом значительно умягчается.

Геометрия расположения детектора, излучателя и исследуемого материала такова, что излучение, отраже;-шое непосредственно от материала, не попадает в детектор.

Умягченное обратнорассеянное излучение, проходя вторично через исследуемый образец, частично поглощается. Регистрируемое детектором излучение интенсивности и является функцией измеряемой поверхностной плотности или толщины образца.

Способ измерения поверхностной плотности

20 илн толщины листовых материалов и пленок, отличающийся тем, что, с целью расширения нижнего предела измерений, используют эффект ослаолеция обратнорассеянного Р-излучения в воздушной среде, находящейся по

2> другую сторону от исследуемого ооразца, регистрацией изменения интенсивности умягченного Р-излучения, являющегося функцией поверхностной плотности или толщины исследуемого образца.

Способ измерения поверхностной плотности или толщины листовб1х материалов и пленок 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для измерения толщины покрытий на подложках (в том числе и многослойных)
Наверх