Способ измерения абсолютного значения плотности тела

 

Использование: в измерительной технике, в частности в комптоновской вычислительной томографии. Сущность изобретения: способ измерения абсолютного значения плотности тела включает в себя операции облучения тела в различных направлениях источниками коллимированного первичного гамма- и рентгеновского излучения с энергиями E1 и E2, регистрации вторичного излучения коллимированными детекторами D1 и D2 и вычисления по определенному алгоритму абсолютного значения плотности. При этом первоначально оси коллиматоров и детектора ориентируют таким образом, чтобы они пересекались в точке, лежащей на внешней поверхности тела. Затем дискретно перемещают жестко связанную систему источника - детектор в направлении заранее выбранной координаты X, проходящей через тело, и измеряют поток излучения N1i, регистрируемого детектором Dt, на каждом шаге перемещения. Перемещение производят до тех пор, пока точка пересечения осей коллиматоров источника и детектора не достигнет внутренней поверхности тела. После чего устанавливают энергию излучения источника, равную энергии квантов, рассеянных на угол в направлении детектора E2= Es() , помещают источник излучения с энергией E2 в место и в позицию детектора D1, помещают детектор D2 в место и в позицию источника излучения с энергией E1 и дискретно перемещают систему источник-детектор по координате X в направлении внешней поверхности тела. Одновременно измеряют поток излучения N2i, регистрируемого на каждом шаге перемещения до тех пор, пока точка пересечения осей коллиматоров источника и детектора не достигнет внешней поверхности тела. Определяют абсолютное значение плотности i последовательно на каждом шаге перемещения, начиная с первого, используя определенный алгоритм вычислений. 2 ил.

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для использования в комптоновской вычислительной томографии в условиях одностороннего доступа к объекту контроля.

Известны способы и устройства, их реализующие, основанные на регистрации комптоновски рассеянного гамма- или рентгеновского излучения и предназначенные для получения изображения распределения плотности по лучу сканирования [1 3] Основными недостатками известных способов являются: требование двухстороннего доступа к контролируемому телу; неучет влияния процессов ослабления первичного и рассеянного в направлении детектора излучения.

Из известных технических решений ближайшим к изобретению является способ измерения абсолютного значения плотности тела, включающий в себя операции облучения тела в различных направлениях источниками коллимированного первичного гамма- или рентгеновского излучения с энергиями E1 и E2, регистрации вторичного излучения коллимированными детекторами D1 и D2 и вычисления по определенному алгоритму абсолютного значения плотности [4] Известный способ позволяет учесть влияние эффектов ослабления и измерить абсолютное значение плотности тела.

Недостатком известного способа является обязательное требование двухстороннего доступа к объекту контроля и получение информации о характеристиках не только рассеянного, но и прошедшего (непровзаимодействовавшего) излучения.

Техническим результатом изобретения является обеспечение послойного измерения абсолютного значения плотности тела как функции его толщины в условиях одностороннего доступа к нему.

Технический результат достигается тем, что в способе измерения абсолютного значения плотности тела, включающем в себя операции облучения тела в различных направлениях источниками коллимированного первичного гамма- или рентгеновского излучения с энергиями E1 и E2, регистрации вторичного излучения коллимированными детекторами D1 и D2 и вычисления по определенному алгоритму абсолютного значения плотности, ориентируют оси коллиматоров источника и детектора таким образом, чтобы они пересекались в точке, лежащей на внешней поверхности тела, дискретно перемещают жестко связанную систему источник-детектор в направлении заранее выбранной координаты X, проходящей через тело, измеряют поток излучения N1i, регистрируемого детектором D1, на каждом шаге перемещения до тех пор, пока точка пересечения осей коллиматоров источника и детектора не достигнет внутренней поверхности тела, устанавливают энергию излучения источника, равную энергии квантов, рассеянных на угол в направлении детектора E2= Es(), помещают источник излучения с энергией E2 в место и в позицию детектора D1, помещают детектор D2 в место и в позицию источника излучения с энергией E1, дискретно перемещают систему источник-детектор по координате X в направлении внешней поверхности тела, измеряют поток излучения N2i, регистрируемого на каждом шаге перемещения до тех пор, пока точка пересечения осей коллиматоров источника и детектора не достигнет внешней поверхности тел, определяют абсолютное значение плотности i последовательно на каждом шаге перемещения, начиная с первого, используя следующий алгоритм вычислений: где xi координата перемещения; ; m1 и ms2 соответственно массовые коэффициенты ослабления излучения источника с энергией E1 и рассеянного на угол излучения источника с энергией E2 в материале тела; соответственно электронные сечения рассеяния излучения источников с энергией E1 и E9 на угол q; J1 и J2 начальные потоки излучения источника, имеющего энергии E1 и E2 соответственно; C1 и C2 эффективности регистрации излучения детекторами D1 и D2 соответственно.

На фиг. 1 изображена геометрия измерений, поясняющая вывод некоторых математических соотношений; на фиг. 2 схема реализации способа абсолютного измерения плотности тела при перемещении системы источник-детектор в направлении внутренней поверхности тела (а), и в направлении внешней поверхности тела (б).

Поток гамма или рентгеновского излучения от источника 1 излучения с энергией E1 (фиг. 1), сформированный коллиматором 2, проникает в тело 3. В детектор 4 попадает поток излучения, рассеянного на глубине тела X в слое dx, формируемый коллиматором 5. В этом случае справедливо соотношение ,
где 1 и s1 линейные коэффициенты ослабления излучения источника с энергией E1 и излучение с энергией E рассеянного на угол ;
;
NA число Авогадро;
Z, A атомный номер и массовое число вещества тела;
плотность тела на глубине X в слое dх.

Установив энергию излучения источника, равную энергии рассеянного на угол q излучения E2 ES1, и поместив источник излучения в позицию детектора 4, а детектор 4 поместив в позицию источника с энергией E1 (поз. 1, вместо него), можно записать следующее выражение для потока квантов, регистрируемых детектором 4.


где s2 линейный коэффициент ослабления квантов, рассеянных на угол и имевших до рассеяния энергию E2.

Линейные коэффициенты ослабления 1,s1,s2 выражаются линейными интегралами на пути ослабления излучения вида: Следовательно, источником погрешности измерения плотности тела в слое dх на глубине X является изменение линейного коэффициента ослабления, в слоях, предшествующих dх, то есть на пути X и x/cos.

Если взять отношение потоком dN1 и dN2, то влияние ослабления на пути x/cos устраняется

Коррекция изменения линейного коэффициента ослабления на пути X производится путем прямого измерения плотности первого слоя (случай, когда предшествующих слоев нет) и использованием следующего алгоритма вычисления плотности последующих слоев. Это можно проиллюстрировать следующими рассуждениями. После логарифмирования последнего соотношения получим
,
где
Знаки дифференциалов при N1 и N2 здесь опущены.

Перейдем к конечным суммам для линейных коэффициентов ослабления 1 и 2 и выразим их через массовые коэффициенты ослабления m1 и ms.

Тогда для слоя x, на глубине Xi имеющего плотность i, можно записать выражение для логарифма отношения потоков N2i и N1i, зарегистрированных детекторами.

,
где n количество слоев, предшествующих i-му слою.

Жестко связанную систему источник-детектор устанавливают таким образом, чтобы точка пересечения осей коллиматоров источника и детектора лежала на внешней поверхности тела (фиг. 2а), дискретно перемещают систему вдоль координаты X, фиксируя при этом величину потока N1i на каждом шаге перемещения X до тех пор, пока точка пересечения осей коллиматора источника и детектора не достигнет внутренней поверхности тела. Затем меняют местами источник излучения и детектор и изменяют энергию излучения источника (фиг. 2б), установив ее равной E2= Es(). Далее дискретно перемещают систему источник-детектор в противоположном направлении вдоль той же оси X, фиксируя при этом величину потока N2i на каждом шаге перемещения до тех пор, пока точка пересечения осей коллиматора источника и детектора не достигнет внешней поверхности тела.

Имея матрицы N1i (Xi) и N2i (Xi) и используя соотношение (1) можно получить отсчет плотности 1 первого слоя (на первом шаге перемещения)
.

На втором шаге перемещения соотношение (1) приобретает вид

и плотность 2 можно рассчитывать из выражения
.

На третьем шаге перемещения
.

Таким образом, отсчет плотности на глубине X
.


Формула изобретения

Способ измерения абсолютного значения плотности тела, включающий в себя операции облучения тела в различных направлениях источниками коллимированного первичного гамма- или рентгеновского излучения с энергиями Е1 и Е2, регистрации вторичного излучения коллимированными детекторами D1 и D2 и вычисления по определенному алгоритму абсолютного значения плотности, отличающийся тем, что ориентируют оси коллиматоров источника с энергией Е1 и детектора D1 таким образом, чтобы они пересекались в точке, лежащей на внешней поверхности тела, дискретно перемещают жестко связанную систему источник детектор в направлении заранее выбранной координаты Х, проходящей через тело, измеряют поток излучения N1i, регистрируемого детектором D1 на каждом шаге перемещения, до тех пор, пока точка пересечения осей коллиматоров источника и детектора не достигнет внутренней поверхности тела, устанавливают энергию излучения источника, равную энергии квантов, рассеянных на угол в направлении детектора E2= Es(), помещают источник излучения с энергией Е2 в место и в позицию детектора D1, помещают детектор D2 в место и в позицию источника излучения с энергией Е1, дискретно перемещают систему источник детектор по координате Х в направлении внешней поверхности тела, измеряют поток излучения N2i, регистрируемого на каждом шаге перемещения до тех пор, пока точка пересечения осей коллиматоров источника и детектора не достигнет внешней поверхности тела, определяют абсолютное значение плотности i последовательно на каждом шаге перемещения, начиная с первого, используя следующий алгоритм вычислений:




где Х координата перемещения;
соответственно массовые коэффициенты ослабления излучения источника с энергией Е1 и рассеянного на угол излучения источника с энергией Е2 в материале тела;
соответственно электронные сечения рассеяния излучения источников с энергиями Е1 и Е на углы q;
I1 и I2 начальные потоки излучения источника, имеющего энергии Е1 и Е2 соответственно;
С1 и С2 эффективности регистрации излучения детекторами D1 и D2 соответственно.

РИСУНКИ

Рисунок 1



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области радиационного контроля физических свойств веществ и материалов, а в частности пульп в трубопроводах, и может быть использовано в горно-обогатительной, химической, нефтегазодобывающей и нефтеперерабатывающей промышленностях

Изобретение относится к способам измерения плотности вещества, основанным на поглощении проникающих излучений, и может быть использовано в горнодобывающей, обогатительной, нефтехимической и пищевой промышленности, а также в промышленности строительных материалов при исследовании высококонцентрированных дисперсных систем: суспензий, порошков, эмульсий, в частности, при измерении распределения плотности дисперсных систем в процессе седиментации

Изобретение относится к технике измерения плотности атмосферы путем непосредственного и дистанционного ее зондирования и может быть использовано в авиационной и космической технике

Изобретение относится к плотностной дефектоскопии твердых материалов, в частности горных пород и руды

Изобретение относится к ядернофизическому анализу вещества и может быть ислользовано лри рентгенорадиометрическом анализе с применением радионуклидиых -погружных датчиков, установленных нелосредственно в технологическом потоке лульпы

Изобретение относится к радиационным методам анализа материалов и может быть использовано для исследования свойств рудных материалов на транспортере

Изобретение относится к методам исследованир свойств вещества по поглощению гамма-излучения

Изобретение относится к дифрактометрическим методам исследования монокристаллов, в частности к методам определения кристаллографической ориентации алмазного элемента режущего инструмента относительно его базовых плоскостей с помощью дифрактометра

Изобретение относится к области исследования поверхности твердых тел, в частности изучения искажений кристаллической структуры поверхностных слоев твердых тел
Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу металлов и сплавов, а именно к исследованию термически активируемых процессов, в частности, первичной рекристаллизации

Изобретение относится к технической физике, в частности к исследованию кристаллической структуры с помощью дифракции нейтронов материалов, находящихся в условиях всестороннего сжатия

Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу, в частности к анализу сложных структур с большими параметрами элементарной ячейки, в особенности объектов биологического происхождения

Изобретение относится к научному приборостроению, позволяет регулировать радиус кривизны изогнутого кристалла в рентгеновских приборах и может быть использовано для прецизионных исследований в рентгеновской оптике
Наверх