Способ контроля формы полированной асферической поверхности положительной линзы

 

2I9793

ОП ИСАЙ ЙЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Сова Советских

Социалистических

Республин

Зависимое от авт. свидетельства №

Кл. 42b, 12/05

4211, 34/11

Заявлено 06.1Х.1966 (№ 1100528/25-28) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 14.Ч1.1968. Бюллетень № 19

Дата опубликования описания 17.1Х.1968

ЯГ1К G 01b

G 02Ь

VP К 531.715.27(088,8) Комитет по делам иаобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Автор изобретений

Д. Т. Пуряей

ЗаявителЬ

СПОСОБ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ПОЛИРОВАННОЙ

АСФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ ПОЛОЖИТЕЛЬНОЙ ЛИНЗЫ

Известен способ контроля полированных асферических поверхностей положительных линз, которая совместно с контролируемой асферической поверхностью дает безаберрационное изображение источника света, установленного на конечном расстоянии или в бесконечности.

Предлагаемый способ отличается от известных тем, что, с целью повышения точности контроля, на сферическую поверхность линзы па время контроля наносят зеркально отражающий слой.

На чертеже дана схема устройства для осуществления описываемого способа.

На сферическую или плоскую поверхность

1 линзы 2 наносят зеркально отражающий слой и устанавливают точечный источник 8 света на заданном расстоянии от линзы.

Оценку качества поверхности производят при помощи микроскопа 4 теневого или интерференционного устройства. При этом, если первая поверхность линзы является асферической второго порядка, а вторая поверхность— сферическое или плоское зеркало, то всегда существует такое положение предметной точки источника света, при котором ее изображение

А не имеет сферической аберрации третьего порядка. Г1ри этом действительные аберрации в изображении точки, как правило, отсутствуют при весьма высоком относительном отверстии асферической поверхности, хотя относительное отверстие линзы может быть невелико. Зная параметры линзы, всегда можно определить такое положение точки от источника света, при котором изображение ее, построенное линзой, будет безаберрационным, если обе поверхности линзы изготовлены правильно.

Предмет изобретения

Способ контроля формы полированной асферической поверхности положительной линзы, образованной преломляющей асферической

2О поверхностью и отражающей сферической поверхностью, от гичающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, на сферическую поверхность линзы на время контроля наносят зеркально отражающий слой.

Составитель Г. Корчагина

Редактор Г. К. I îí÷àðîâà Техред P. М. Новикова Корректор Н. И. Быстрова

Заказ 2668/4 Тир агк 530 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2

Способ контроля формы полированной асферической поверхности положительной линзы Способ контроля формы полированной асферической поверхности положительной линзы 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам определения геометрических параметров объектов и оптическим устройствам для осуществления этих способов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактных измерений профиля деталей типа тел вращения, а также слабой волнистости поверхности в виде пространственной функции

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для контроля технического состояния рельсового подвижного состава

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптико-электронным устройствам для бесконтактного измерения отклонения поверхности длинных узких объектов от прямолинейного на заданном отрезке и может быть использовано для контроля прямолинейности поверхности катания рельса
Наверх