Фотометрическое устройство

 

Союз Соеетских

Социалистических

Республик

К АВТОРСИОМУ СТИЛЕТ."=Л1".: "":

Зависимое от авт. свидетельства X

Кл. 42h, 17/02

Заявлено 30.Х1.1967 (Л" 1199924 18-10) с присоединением заявки ¹

МПК G Olj

Приоритет

Опубликовано 16.1.1969. Бюллстен;. X" 5

Комитет по делам изобретений и открытий при Сосете Министров

СССР

УДК 771.534,531.5 (088.8) Дата опубликования описания 5Л 1.1969

Лвторы изобретения

К. В. Вендровский, Ю. С. Андреев и А. И. Be

Всесоюзный научно-исследовательский институт химикофотографичсской промышленности

Заявитель

ФОТОМЕТРИЧ ЕСКОЕ УСТРОЙСТВО

Известные фотометры для измерения стспсни почернения негатива с последующим пересчетом плотности изображения в величины экспозиций, действовавших на слой, не позволяют полностью автоматизировать такие процессы, как, например, построение характеристической криьсй по точкам и изготовление непрозрачной маски, масштаб которой необходимо согласовывать с чувствительностью, т. е. производить операцию калибровки.

Предлагаемое устройство обеспечивает максимальную автоматизацию процесса измерений и повышение их точности.

Это достигается тем, что один из каналов отклонения электроннолучевой трубки связан с фотоумноятителем, установленным за щелью перед фотоматериалом, а другой канал через псреключатель соединен или с генератором при сканировании сенситометрического клина или с сумматором фотоумножителя, расположенного за маской перед экраном электроннолучевой трубки, при сканировании изображения.

Сама маска имеет легко меняющийся профиль края, форма которого повторяет кривую, полученную на экране электроннолучевой трубки при сканировании клина.

На чертеже представлена принципиальная схема устройства.

Свет от лампы 1 проходит через исслсдуемый фотоматериал 2 с впечатанным в него ооьсктом 8 и клином 4, причем изображения объекта и клина обработаны в одинаковых условиях. и через щель 5 попадает на фото5 э»смснт 6. Сигнал, пропорциональный пропускаишо фотоматериа13, поступает в канал 7

iIcpTI11 3;IbI1O1O OT1iлОнеиия OC1IlI»ЛОскОпа 8.

Вначале щелью сканируется фотографическое изображение клина и одновременно в ка10 нал 9 горизонта ai Iioi o отклонения осциллоскопа 8 с генератора 10 подается сигнал, пропорциîH3»üíûé изменению экспозиции вдоль оси клина 4. 113 экране осциллоскопа 8 образуется кривая т=j(I-I), вдоль которой уста15 навливают переменный край маски 11.

Затем щель 5 переводят на изображение объекта 8, а перед экраном осциллоскопа устанавливают фотоэлектронный умножитель

12. Напряжение умножителя суммируется в

20 сумматоре 18 с противоположным llo полярности напряжением смещения источника 14 постоянного напряжения. Суммированное наиряя:ение IICIICIi»10 1eIIIICLI Tl молера 13 IIO+3CTСЯ Па ВXOÄ К31IЯЛ3 ) ГОРПЗОНТ3ЛЬНОГО ОТКЛО25:J CII lIFi o 1 ill з »ос кои а il i дсржIIB3CT IA I H 3 краю маски. Одновременно суммированнос напряЖС,1 И С. П РОП ОРi!i iOII;1, >1>ПОC ГОPIIÇOIIT3, IЫ!01I коорд, иатс 3OI;", li, следовательно. относительной экспозиции, pci IIcòpèpócòñÿ измери30 тель. дым пвиборОм 16.

235353

Составитель В. И. Соломатов

Редактор И. С. Грузова

Текред T. П. Курилко Коррсктор В. В. Громова

Заказ 725/1О Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по дочам изобретешш и сткрытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2

Измеряя сумму напряжений постоянного смещения и фотоэлектронного ум нож ителя следящей системы, получаем относительные величины действующих экспозиций в анализируемых точках.

Предмет изобретения

1. Фотометрическое устройство для определения по степени почернения фотоматериала относительных величин действовавших экспозиций, содержащее электроннолучевую трубку с непрозрачной маской перед экраном и установленные перед фотоматериалом и перед экраном электроннолучевой трубки фотоэлектронные умножители, отличающееся тем, что, с целью ускорения процесса и увеличения точности измерений, один из каналов отклонения электроннолучевой трубки связан с фотоумно,лггелсм, установленным за щелью перед фотоматериалом, а второй канал через переключатель связан или с генератором при сканиров;шии сенситометричсского клина H;IH с сумм атсром фотоумножителя, установленного за »<ккой перед экраном электроннолучевой трубки, при сканировании изобра>кения.

2. Устройство по п. 1, or,гигаюгиееся тем, что установленная перед экраном электронногучевой трубки маска выполнена в виде неi:".:ëð8 Hîãо диска с прязголинсйным окном, 11-1здсленным по диагонали гибкой проволокой иа две 1асти, одна из которых затянута эла< тнчць.м непрозрачным материалом.

Фотометрическое устройство Фотометрическое устройство 

 

Похожие патенты:

Способ определения энергетического порога чувствительности ядерной эмульсиипри известных способах оценки значения энергетического порога чувствительности фотоэмульсий по средней плотности проявленных зерен на следе частицы с определенной ионизирующей снособиостью онираются на 5 произвольные предложения о величине флюктуации в передаче энергии частицей мнкро- 'кристаллу agbr. это не дает возможности быть уверенным в достоверности способов.по предлагаемому способу можно прямо 10 'получить кривую распределения лппфокрнсталлов agbr ядерной эмульсии по их чувствительности.способ основан на изучении фотографической эффективности результата попадания в 15 микрокристалл отдельного электрона известной энергии, тормозяи1.егося внутри мнкрокристалла до остановки. при этом миниг^итльная энергия электро]1а, которая сообщает микрокристаллу способность к проявлению может 20 быть отождествлена с чувствительностью микрокристалла.заключается способ в том, что на однослойном препарате исследуемой эмульсии экспонируют под электронным пучком последова- 25 тельность полей, отличающихся энергией электронов, но при постоянстве экспозиций. после нроявления препарата определяют плотность проявленных зерен в полях облучения и строят зависимость выхода нроявлен- 30 ных зерен от энергии электронов.нов выбирают такими, чтобы можно было пренебречь вероятностью кратных попаданий электронов в микрокристалл и выходом электронов за пределы микрокристаллов. этим условиям соответствуют экспозиции 0,1—0,2 электрона на микрокристалл и эпергия электронов при экспозиции, не превыщающая 2000 эв (максимальиый пробег в agbr~ -^10^0 см).тогда нолучеииая зависимость выхода проявленных зерен от энергии электронного пучка будет показывать долю микрокристаллов с норого>&.! чувствнтельности не выще заданного значення энергии, а дифференцированная кривая — распределенне микрокристаллов по чувствительности.предмет изобретенияспособ онределення энергетического порога чувствительности ядерной эмульсни по плотности проявленных зерен, находящихся в ноле облучення, отличающийся тем, что, с целью нолучення сведеннй о распределепи'и мнкрокрнсталлов agbr по чувствительности, изучают выход проявленных зерен на последовательности полей однослойного препарата, экспонированных npii постоянной экспозиции электронами с различной энергней в условнях эксноннровання, когда вероятность кратных попаданнй электронов в микрокристалл и выход электронов за нределы микрокристалла нренебрежимо малы. // 172407

Изобретение относится к испытаниям светочувствительных материалов

Изобретение относится к области испытания светочувствительных материалов, в частности к средствам резольвометрии с использованием когерентных источников света, и обеспечивает повышение производительности получения резольвограмм, возможность автоматизации и расширение перечня тестируемых светочувствительных материалов

Изобретение относится к области испытания светочувствительных материалов, а именно к методам и средствам резольвометрии с использованием когерентных источников света, и может быть использовано в автоматизированных системах тестирования фоторегистрирующих материалов и сред
Изобретение относится к области цветной фотографии и может использоваться преимущественно при аддитивной фотопечати в профессиональной и любительской сфере

 // 265716

 // 274751

 // 412588

 // 417761
Наверх