Устройство для измерения емкости и добротности
бил те
Союз Советских
Социалистических
Республик
О П
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСИОМ -< СВйдЕТЕЛЬСТВУ
Зависимое от авт. св;дстсльства Xe—
Кл. 21е, 29/03
Заявлено 30.Х.1967 (¹ 5194334/18-10) с присоединением за!!вки ¹
Приоритет
Опубликовано 18.1111969. Б!оллетс !ь ¹ 11
Дата опубликования описания 25Л Н.1969
МПК 6 05r
УД К 62 5 317 335 (088.8 }
Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров
СССР
Авторы изобретения
М. Б. Гринбаупт, А. И. Вишневецкий и В. M. Станякин
Заявитель
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЕМКОСТИ И ДОБРОТНОСТИ
КОНДЕНСАТОРА
Изобретение относится к области электроизмерительной техники и предназначено для исследования электрических свойств диэлектрических материя IOB, помещаемых между оокладками конденсаторов.
Известные устройства для измерения ем. ос1и и добротности конденсаторов с !Ice;Ic1óсмым диэлектриком не позволяют одновременно и независимо измерять оба параметра я динамике их изменений.
Предлагаемое устройство отличается о; изAecTHblx тем, что в нем выход параметрического генератора через детектор и усилитель соединен с конденсатором в цепи смещения, а иcследуемый конденсатор подключен к генератору через периодический прерыватель. Зто отг11чне позволяет одновременно и незав1 З;1мо измерять оба параметра в рабочих условиях.
На чертеже представлена функциональная схема описываемого устройства.
Исследуемый конденсатор / через прерыватель 2 подключен к параметрическому генератору (емкостному парах!етрону) 8. Генерируемые параметроном колебания детектируются детектором 4, усиливаются усилителем 5,; подаются на конденсатор б в испи смещения пяраметрона.
В устройстве используется зависимость амплит> ды генерируемых емкостным параметроном колебаний от нагрузки и расс..ройки его контура относительно половинной частоты на«а«»II при под! 1ючениll к парях!егрон1 исс, leлусмой емкости. Для ооеспсчения независимости процесса измерения от знаков изменения емкости и дооротност;! конденсатора последний подключают к параметрону через периоди:сск!! действу!ощип прерыватель 2, например поляризованное реле. При этом синхронно с
1Q работой прсрывателя модулируются амплитуд,1 I o,leáaHIIII п!1рях!егроня !! напряжение с ещсния
Глубина модуляции амплитуды генерируемых пар.;метроном колебаний и напряжения
1 см 1цения являются соответственно однозначными мерами добротности и величины емкости .1сслс.- см; го конденсатора. Они .;змергиотся импул оными вольтметрами 7 и 8, шкя",û ко.1орых могут быть прогрядуировяны в измеряе23 мыли параметрах.
Для рсгистрягиш изменений исследуемых параметров можно использовать самописцы.
Влияние на результат измерения изм II1tlo2 щс. !ся собственно!! доброгности конденсаторов !! я р а х! с r p 011 а, н я п р и м с р в яр и и я и о в, х! о ж н о и сКЛ1ОчптЬ Путек! ШуНГИрОВаипя КОНтура Параметроня сопротивлением, величина которого много меньше минимального сопротивления
30 примененных конденсаторов.
239430
Предмет изобретения
Составитель В. Н. Фе. ина
Техред Л. Я. Левина 1(орректор 3. И. Чваикина
Редактор С. И. Хейфиц
Заказ 1бьб!17 Тираж 480 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по дслаги изобретений и открыгий при Совеге Министров СССР
Москва, Центр, пр. Серо;а, д. 4
Типография, пр. Сапунова, д. 2
Устройство для измерения емкости и добротности конденсаторов с использованием параметри-1еского резонанса, отличающееся тем, что, с целью одновременного и независимого измерения обоих параметров в рабочих условиях, в нем выход параметрического генератора через детектор и усилитель соединен с конденсатором в цепи смещения, а исследуемый
5 конденсатор подключен к генератору через периодический прерыватель.
