Способ определения сходимости лучей электронно-оптических систем на экранах цветныхкинескопов
О Il И С А Н И Е 253942
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Соеетскик
Соцналнстическнк
Республин
Зависимое от авт. свидетельства ¹
Заявлено 15.1V.1968 (№ 1232974 26-25) Кл. 2lg, 13, 21 с присоединением заявки ¹
Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров
СССР
МПК Н 011
УДК 621.385.832(088.8) Приоритет
Опубликовано 14.Х,1970. Бюллсте 1ь ¹ 32
Дата опубликозания описания 19.III.1971
Авторы изобретения
В. Н. Иванов и Л. Н. Адрианова
Московский завод электровакуумных приборов
Зая,витель
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СХОДИМОСТИ ЛУЧЕЙ
ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ HA ЭКРАНАХ ЦВЕТНЫХ
КИ Н ЕСКОПОВ
Предмет пзобрстсния
Изобретение относится к способам определения сходимости лучей электронно-оптических систем на экранах цветных кинескопов.
Известен способ определения сходимости лучей на экранах цветных кинескопов, состоящих в том, что на прозрачном экране с координатной сеткой производят набл10денис трек точек экрана кинескопа, работающего в статическом режиме, и графически измеряют расстояния между точками. 10
Известным способом можно оцс:шть такие параметры сходимости, как величина угловой погрешности электронно-оптической системы, величина линейных погрешностс1! лучей, возмо>кность сведения элсктронн1.1х лучей и точек 15 люминофора в требуемую фигуру — - равносторонний треугольник.
Недостаток известного способа состоит в том, ITQ он применим только к готовому ки- 20 нсскопу, и изменить какой-либо из названных параметров в случае его выхода за пределы допуска не представляется возможным, что приводит к браку.
Предложенный способ отличается от изве- 25 стного тем, что центры отверстий модулятора и второго анода последовательно проектируют и фиксиpуtoT на пр03ра Iной под IO>êке в i Всличенном масштабе в проходящем и отраженном свете проектора с последующим графичс- 30 скпм определением распо IÎжсння точек пересечения лучей с экраном кинескопа на этой подложке.
Достннство способа состоит в том, что он позволяет оцсш1ть степень сходнмостн лучей электронно-оптической системы не в готовом кинескопе, а до заварки в колбу, I обсспечиваст возможность производить эффективную
Отора! .Ов!су элсктронно-Опти 1сских систем, если параметры сходимостн выходят за пределы допусков, до сооркн кинескопа.
На чертеже нзооражена установ <а, реализующая предложенный способ. Она включает в себя днапросктор 1, в проходяще.,t свете которого на экране 2 воспроизводят в увели tet!I!Oil масштабе отверстия модуляторов электронно-оптической системы >, установленн ой I l Il It P 0 3 P 3 11101 f II 0 t,tt o >Ii h c 4, I t 3 II I I It P o c t To P
5, В OTp3>hCIIIIOXI CIICTC которого BOCIlp0113130+IIT на экране 2 торцы отверстий вторых анодов системы >.
Способ опредe.Tet!It>! сходимостн лучей электронно-оптических систем на экранах цветных Ktt ttcc!vo1103, основанный на совпадении I CO»cTptt tect осп, проходчщсй чсрсз цснтры отверстий модулятора и второго анода электронно-оптн1сской системы и оси элект253942 г
Составитель И. И. Еремина
Редактор Л. В. Калашникова
Корректор Л. Б. Бадылама
Изд. ¹ 215 Заказ 530/2 Тираж 480 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Минпсгров СССР
Москва, Ж 35, Раушская наб., д. 4, 5
Типография, пр. Сапунова, 2 ронного луча, и измерения степени удаленности точек пересечения электронных лучей с экраном друг от друта, отличающийся тем, что, с целью оценки степени сходимости электронных лучей электронно-оптической системы до заварки в колбу, центры отверстий модулятора и второго анода последовательно проектируют и фиксируют на прозрачной подложке в увеличенном масштабе в проходящем и отраженном свете проектора с последующим графическим определением расположения точек.
