Способ анализа ионов по массам

 

О П

Gams Советскив

Социалистическик

Республик

ЙЗСБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. сви,четельства Ха

1 л, 421, 3/09

Заявлено 19.XI.1966 (№ 1113421!26-25) МПК G 01п

УД1 543.51 (088.8) Приоритет

Опубликовано 04.Х!.1969. Бюллетень ¹ 34

Комитет по делам изобретений и открытий прн Совете Министров

CCCP

Дата опублико!3ания опнсаш!я 26.111.1970

Автор изобретения

Л. Н, Линник

Заявитель

СПОСОБ АНАЛИЗА ИОНОВ ПО МАССАМ

8q; .- 4q; .-;, Ц: л1;1- )л!!! г " с присоединением заявки М

Л,анпос изобретение относится к области масс-спектрометрии.

Известен статический спосоо анализа ионов

1Io массам, на ос !ове которого работасT инд;1катор парщиаг!ьных давлений фарвитрон.

С целью увс:!!I !ения разрешающей спосооности и сш1жс:шя фона нерегистрируемых ионов, по предлагаемому способу ионь1, колеблющиеся в потенциальной яме пространства дрейфа, подвергают совместному действию высокочастотного и постоянного квадрупольных электри Icc!(II.; нолей.

Получясмь*,и в цOнном источш1кс пучок электронов модулируют по ш!тенсивностн с частотой колсоанни регистрируемой массы вдоль оси простр;шства дрейфа, формируют в ионизирующий луч и производят импульсную ионизацию исследуемого газа. Пакеты ионов под воздействием постоянного поля совершают в пространстве дрейфа продолжительные продольные колебания. Далее пакеты ионов различных масс, осразовавшв!еся в результате импульсной ионизацин, подвергают совместному действию высокочастотного и постоянного квадрупольных электрических полей, распределенных в пространстве дрейфа, например, в виде потенциальной ямы.

Действие квадрупольных полей сводится к раскачиванию ионов в поперечном направлении относительно продольных колебаний, при- 30 чем ионы нерегистрируемых масс ряскячиваIOTC5I ДО TPX I!OP, ПСК3 !IC . ВЬIСЯЖИВÇIOTC51 ll3 ограll!1 !нвя!Ощнс элскт10дьl пространства дрейфя, т. с. уд!!г!5!!Отс5! нз анализатора <13сс.

Од.!яка при опрс ислен!!ых параметрах квадрупольного поля попсрсчныс колеб;шня ионов анализируемой мя ch! ограничены, ионы соВСPШЯ!OT ПPОДОЛЖ!!TC. IЬНЬIС ПРОДОЛЬ!1ЫЕ КОЛP бяния в анализаторе масс. В этом случае ионы могут OhlTü някÎплcíb! в колеблющсмcÿ пакете для повышения чувствительности и зарегнс TpIIp 0!33III I. Пар ямстры регистрируемых

110110 в TÎ;I 5h h bl 3 ;10 13л с T !30 1»: T b c I 3 á! 1 ° ь и 0 м м и 3 рсшсi!Ill! уравнс!шй Мятьс. которые описываlот подоон ыс двн ткс)11151 3 3р яжснных Зстиц.

Рсшси и 51 P 3!3!Icii и 51 31 Ятье В Ооlцсм Видс

oTiloc1ITpльно координаты х перпендикулярно оси анализатора масс имеет внд: х = Ае"г ) C e "- + Ва — "- x C e — "— -с где А и  — произвольныс постоянные;

v)f

=- = — — — (<» — частота переменной состав2 ляющей квадрупольного поля);

C„и р — постоянные. определяемые вели и!5! а ми

256339

Предмет изобретения

Составитель Й. В. Алимова

Редактор Т. 3. Орловская Техред А. А. Камышникова Корректор В. И. Жолудева

Заказ 660,14 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва Ж-35, Раушская наб., д. 4)5

Типография, пр. Сапунова, 2 где q,— заряд иона массы т,; ф и с" — постоянная и переменная составляющие квадрупольного поля по амплитуде;

r,— наименьшее расстояние от ограничивающих электродов до продольной оси z анализатора масс.

Стабильные колебания поддерживаются, когда р = гР (0 (p (1) является чисто мни- 10 мой величиной.

После удаления фона шумовых ионов регистрация анализируемых ионов осуществляется либо высаживанием их на сигнальный электрод, либо путем индуцирования колеблющимися ионами на этом электроде сигнальных напряжений.

Удаление шумовото фона нерегистрируемых ионов позволяет увеличить верхний предел замеряемых давлений, исключить ложные пики 20 в спектре масс, улучшить линейный участок зависимости амплитуд сигналов OT величин парциональных давлений, увеличить максимально допустимый разброс энергий регистрируемых ионов.

Способ анализа ионов по массам, при котором производят импульсную ионизацию исследуемого газа, накапливают ионы определяемой массы в потенциальной яме пространства дрейфа и регистрируют их с помощью сигнального электрода, отличающийся тем, что, с целью увеличения разрешающей способности и снижения фона нерегистрируемых ионов, ионы, колеблющиеся в потенциальной яме пространства дрейфа, подвергают совместно»у действию высокочастотного и постоянного квадрупольных электрических полей.

Способ анализа ионов по массам Способ анализа ионов по массам 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к приборостроению, в частности - к масс-спектрометрам, и может быть использовано для газового анализа в металлургии, экологии, медицине, электронной промышленности и других отраслях

Изобретение относится к электрофизике, в частности к системам, служащим для разделения изотопов, например, для разделения тяжелых изотопов

Изобретение относится к приборостроению, в частности к масс-спектрометрии, и может быть использовано для контроля процессов, протекающих с выделением газовой фазы, например, в черной и цветной металлургии

Изобретение относится к ядерной технике, а более конкретно касается разделения заряженных частиц и выделения изотопов из их естественной смеси

Изобретение относится к вакуумной технике

Изобретение относится к разделению частиц (кластеров) по их массам на фракции газодинамическими силами c последующим их улавливанием на выходе сверхзвукового сопла

Изобретение относится к электрофизике, в частности к системам, служащим для разделения изотопов, например для разделения тяжелых изотопов (атомная масса А>>1)

Изобретение относится к аналитическому приборостроению, а именно к многоколлекторным магнитным масс-спектрометрам, предназначенным для качественного и количественного анализа примесей в матрицах сложного состава, в частности в качестве детектора газового хроматографа с высокоэффективными капиллярными колонками
Наверх