Способ эмиссионного спектрального анализа

 

ОЙ ИСАЙ ИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

265540

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 13.Ч11.1967 (№ 1173605/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 09.111.1970. Бюллетень № 10

Дата опубликования описания 25Х1.1970

Кл. 421, 3/08

МПК G 01п

УДК 543.423(088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Авторы изобретения заявители

Р. С. Рубинович, Н. Я. Золотарева и В. В. Калачев

СПОСОБ ЭМИССИОННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА

Предмет изобретения

Известен способ спектрального анализа, по которому элементы — примеси — возгоняют из пробы нагреванием на воздухе или в вакууме и конденсируют на подставном электроде.

Предложенный способ отличается от извест- 5 ного тем, что нагревание и кондиционирование на подставной электрод пробы осуществляют в атмосфере газообразного галогена (например, хлора) .

Это позволяет повысить точность и чувстви- 10 тельность способа при определении труднолетучих элементов (например, платины), образующих с галогенами термически неустойчивые соединения.

Вещество конденсатора (подставного уголь- 15 ного электрода) может служить в данном случае своеобразным реагентом, поглощая и закрепляя на себе все продукты реакции, образующиеся при взаимодействии исследуемого элемента с галогеном. Благодаря тому, что все продукты реакции практически выводятся из активной реакции, равновесие ее сдвигается, реакция между примесями и галогеном ускоряется и идет до конца.

Способ эмиссионного спектрального анализа с испарением примесей из основного вещества и конденсацией их на подставном электроде, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности определения труднолетучих элементов (например, платины), испарение и конденсацию примесей осуществляют в атмосфере газообразного галогена, например хлора.

Способ эмиссионного спектрального анализа 

 

Похожие патенты:
Изобретение относится к методам анализа материалов радиационными способами и может быть использовано для определения тяжелых элементов, в том числе и благородных металлов при низких субфоновых их содержаниях в горных породах, рудах и минеральных при поиске, разведке и отработке рудных месторождений

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области исследований и анализа материалов путем определения их физических свойств, а именно для исследования параметров каналов нанометрических размеров в трековых мембранах, и может быть использовано при изготовлении объектов из трековых мембран для анализа с помощью просвечивающей электронной микроскопии

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к области инструментального химического анализа, в частности к области аналитической химии

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к исследованию конструкций, содержащих делящееся вещество, например подкритических сборок и ТВЭЛов
Наверх