Способ определения площади поверхности электропроводящих изделий

 

(!

1.1- - ° - !

:, о т В но. 1 t Ь Л

273447

ОГ)ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советскнт

Социалистически»

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено 14.Х1.1968 (¹ 1283284/18-10) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 15.Ъ 1.1970. Бюллетень ¹ 20

Дата опубликования описания 15.1.1971

Кл, 42с, 12

МПК G 01b 7/32

УДК Ь31.72(088.8) Комитет по делам изобретений н открытий при Совете Министров

СССР

Авторы изобретения

Заявитель

В. С. Аксельрод и Г. М. Рохлина

Всесоюзный научно-исследовательский и проектно-конструкторский институт ювелирной промышленности

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПЛОЩАДИ ПОВЕРХНОСТИ

ЭЛ ЕКТРОПРОВОДЯ ЩИХ ИЗДЕЛ И Й

Известные способы определения площади говерхности электропроводящих изделий, в частности, металлических и металлизироBàн ых путем измерения и последующего сравнения емкостей конденсаторов, одной из обкладок в каждом из которых служит измеряемое изделие и эталонная поверхность, позволяют достаточно надежно определять площади плоских изделий.

Предлагаемый способ обеспечивает возможность повышения точности определения площади поверхности изделий сложной конфигурации, поскольку эталон и измеряемое изделие перед погружением в обволакивающий электролитический материал, например, электролит, изолируют от этого материала диэлектрической пленкой. плотно охватывающей сравниваемые поверхности. Таким образом электролит, отделенный диэлектриком от проводящих поверхностей, играет роль второй обкладки конденсаторов.

Для обеспечения плотности прплегания эталон и измеряемое изделие помещают каждый в отдельные чехлы из диэлектрической пленки и удаля!От геред измерением из этих чехлов воздух.

На фиг. 1 приведена схема приспособления для осуществления предлагаемого способа; на фиг. 2 — размещение определяемого пзделия и эталона в диэлектрических чехлах до и после отсоса воздуха.

В ванну 1 с электролитом 2 вводят электроды 8 и 4. Измеряемое изделие 5 и эталон

6 с подсоединенными к ним проводниками 7, размещенные в чехлах из диэлектрической пленки 8, погружают в электролит 2. Из чехлов перед измерением удаляют воздух, так что пленка 8 плотно охватывает изделие 5

10 и эталон 6, повторяя их форму. Складки 9, образуемые пленкой, на емкость образующихся конденсаторов не влияют, поскольку они не прилегают к проводящим поверхностям.

В качестве гибкой и тонкой диэлектрической

15 пленки могут быть использованы фторопласт, полпстпрол и т. и.

Электроды 8 и 4 подбираются так, чтобы расстояние между электродом 3 и определяемым изделием 5 было примерно равно рас20 стоянию от электрода 4 до эталона 6.

После измерения емкостей каждого из двух конденсаторов площадь поверхности изделия вычисляют по формуле:

25 1зд. ИЗД. — -С- эт.

ЭТ. где Сиз,— емкость конденсатора, одной пз

Оокладок которого сл сжит изз!е30 ряемос изделие;

273447

Фиг. Z

Составитель Ю. М. Ферштман

Редактор С. И. Хейфиц Текред А. А. Камышникова Корректор Л, А. Царькова

Заказ 3891/1 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

С,.. — емкость конденсатора, одной из обкладок которого является эталон;

S-„T. — известная площадь поверхности эталона.

Настоящий способ может быть применен при определении площади поверхности изделий, подготавливаемых к гальваническому покрытию.

Предмет изобретения

1. Способ определения площади поверхности электропроводящих изделий, в частности, металлических и металлизированных, путем измерения и последующего сравнения емкостей конденсаторов, одной из обкладок в каждом пз которых служит измеряемое изделие и эталонная поверхность, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения площади поверхности изделий слоя5 ной конфигурации, эталон и измеряемое изделие перед погружением в обволакивающий материал, например, электролит, изолируют от этого материала — второй обкладки каждого из конденсаторов — диэлектрической

lO пленкой, плотно охватывающей сравниваемые поверхности.

2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что эталон и измеряемое изделие помещают каждый в отдельные чехлы из диэлектрической

15 пленки, из которых перед измерением откачивают воздух.