Радиационнб1й дефектоскоп
ОПИСАНИ Е
ИЗОБРЕТЕНИЯ
286323
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”
Заявлено ОЗ.XI.1969 (№ 1373700/25-28) с присоединением заявки №
11риоритет
Опубликовано 10.XI.1970. Бюллетень № 34
Дата опубликования описания 18.1.1971
Кл. 42k, 46/07
Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров
СССР
МПК G Оlп 23/04
УДК 620.179.15(088.8) Авторы изобретения
А, А. Брызгалов, 8. H. Буракин, Ю. М. Брауде-Золотарев и
E. Н. Кутявин
Заявитель
РАДИАЦИОННЫЙ ДЕФЕКТОСКОП
Предмет изобретения
Известны устройства для радиационной дефектоскопии, регистрирующие теневые изооражения контролируемого объекта с помощью различных чувствительных к прошедшему излучению элементов. тчедостатком этих устройств при дефектоскопии сложных изделий с неравномерным поглощением является невозможность ооеспечить равномерную дефектоскопическую чувствительность устройства по всему нолю теневого изображения. 1!рименяемые для выравнивания чувствительности фильтры и компенсаторы часто бывают неудобными в эксплуатации и не дают нужных результатов.
1!редложенный дефектоскоп отличается от известных тем, что с целью выравнивания его дефектоскопической чувствительности при контроле сложных изделий с неравномерным поглощением он снабжен диапозитивом контролируемого изделия, обладающим заданными нерезкостью и размерами и помещенным между преобразователем радиационного изображения в оптическое и фоточувствительной поверхностью.
Предлагаемый дефектоскоп изображен на чертеже.
Дефектоскоп содержит источник 1 проникающего излучения, преобразователь 2 радиационного изображения в оптическое, оптическую систему 8, диапозитив 4 контролируемого изделия 5, который может находиться в двух положениях (сы. чертеж), фоточувствительную поверхность о. аоотает предложенный дефектоскоп следующим образом. гта предварительном этапе работы производят фотографирование с заданной нерезкостью эталона контролируемого изделия и изготовляют его диапозитив, на котором плотность потемненпя выше на участках изображения, соответствующих более тонким участкам эталона контролируемого изделия. Затем источником проникающего излучения облучают контролируемое изделие 5. !!рошедшее сзвозь него излучение на преобразователе радиационного теневого изооражения контролируемого изделия (например, сцинтилляторе) преобразуется в оптическое. Оптическое изображение в дальнейшем через оптическую систе20 му и диапозитив проектируется на поверхность ь. При этом яркость оптического теневого изображения, проектируемого на поверхность О, оказывается более равномерной из-за наличия диапозитива.
Радиационный дефектоскоп, содержащий преобразователь радиационного изображения
30 контролируемого изделия в оптическое, опти286323
Составитель Л. Тришина
Редактор В. С. Левятов
Техред Л. В. Куклина Корректор В. И. Жолудева
Заказ 3882/6 Тираж 480 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 ческую систему и фоточувствительную поверхность, отличающийся тем, что, с целью выравнивания его дефектоскопической чувствительности при контроле сложных изделий с неравномерным поглощением, он снабжен диапозитивом контролируемого изделия, обладающим заданными нерезкостью и размерами и помещенными между преобразователем радиационного изображения в оптическое и фоточувст5 вительной поверхностью.
