Прибор для контроля качества отделанной поверхности

 

ОП И САНИ Е

ЙЗОБРЕТЕНИЯ

Союа Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авг. свидетельства Л%

МПК С Оlп 21/20

Заявлено 17.VI.1969 (№ 1343764/29-33) с присоединением заявки М

Приоритет

Комитет по делам иаобретеиий и открытий при Совете Министров

СССР

Опубликовано 08.Х!1.1970. Бюллетень, .Х с 1

УДК 620.179.6(088.8) Да а опубликования описания 9.11.1971

Авторы изобретения

С. В. Родионов, Л. В. 1 оловач и Н. А. Гончаров

Ленинградская ордена Ленина лесотехническая академия имени С. М. Кирова

Заявитель

ПРИБОР ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ОТДЕЛАННОИ

ПОВЕРХНОСТИ

Изи стиый прибор для контроля качества отделанной поверхности, например, древесины, включающий корпус, в котором установлены источник света, линзы, проектирующие пучки света на эталонную и контролируемую поверхности и фотоэлементы не обеспечивает необходимых точности и пределов контроля качест ва отделки.

Предлагаемый прибор не имеет этих недостатков и отличается от известного тем, что в корпусе прибора смонтирована поворотная многоугольная кассета с набором эталонов, а на лицевой стенке корпуса установлены вспомогательные эталоны, идентичные первым, причем фотоэлементы прибора включены в мостовую электроизмерительную схему с индикатором.

На фиг. 1 изображен описываемый прибор, вид спереди; на фиг. 2 — то же, вид сверху; на фиг. 3 — разрез по А — А на фиг. 2; на фиг.

4 — схема прибора.

В корпусе 1 устройства расположены осветитель 2, линзы 8, фотоэлементы 4, переменные резисторы 5, электроизмерительный индикатор б с осветителями 7 и линзой 8, элементы 9, кнопка 10, кассета 11 с эталонами 12, вспомогательные эталоны 18, база 14, окно 15, контролируемая поверхность 16, задвижка 17, транзистор 18 и резисторы 19.

Для предохранения линз и фотоэлементов от запыления окно 15 в нерабочем состояни" закрыто задвижкой 17.

Прибор работает следующим образом.

Заполняют кассету 11 эталонами 12, а гнезда в крышке — соответствующими эталонами

18. Эталон 12 опирается на базу 14, поворотом кассеты по стрел:<е на крышке прибора. Эталонный образец, соответствующий установлен1р ному эталону 12, вынимают из гнезда в крышке, прикладывают к открытому окну 15 и включают кнопку 10. Далее, изменяя величину сопротивления в плечах электрической мостовой схемы с помощью резисторов, устанавли15 вают стрелку электроизмерительного индикатора б на нуль.

Контролируемую поверхность 16 сравнивают с эталоном 18. Согласно его номера поворотом кассеты 11 устанавливают соответствующий

2р номер эталона против указателя на крышке прибора. Открывают до отказа задвижку 17. освобождая от блокировки кнопку 10. Прибор ставится на поверхность 16 окном 15.

25 Качество отделанной поверхности оценивают так. Если стрелка на шкале индикатора 6 неподвижна или отклонилась к знаку (+), тс поверхность соответствует эталону или лучше его, если же стрелка отклонилась к знаку (— ), Зр то поверхность хуже эталона. Риг 1

Жсг Г

УУ

A -Л

Я 7 д д

Изд. № 48

Заказ 83/18

Тираж 480

Подп:..оное

Типография, и. Сапу|!:>â,, 2

Предмет изобретения

Прибор для контроля качества отделанной поверхности, например, древесины, включающий корпус, в котором установлены источник света, линзы, проектирующие пучки света на эталонную и контролируемую поверхности и фотоэлементы, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и увеличения пределов контроля качества отделки, в корпусе прибора смонтиоовапа поворотная многоугольная кассета с набором эта,чопов. 1 па ли (свой

5 стенке корпуса установлены вспомогательные эталоны, идснги гныс первым, причем фотоэлемспть1 прибора включ пы в мостов1ю э троизмерительную схему с индикатором.

Прибор для контроля качества отделанной поверхности Прибор для контроля качества отделанной поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике, более конкретно к фотометрии, и может быть использовано в конструкции тест объектов, используемых для контроля характеристик инфракрасных наблюдательных систем

Изобретение относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников

Изобретение относится к области спектрофотометрии протяженных внеатмосферных объектов

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Изобретение относится к системам дистанционного измерения статического и акустического давления, приема и пеленгации шумовых и эхолокационных сигналов звуковых, низких звуковых и инфразвуковых частот в гидроакустических системах и сейсмической разведке, в системах охраны объектов на суше и в водной среде

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к устройствам для контроля параметров лазерного поля управления, создаваемого информационным каналом
Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для оценки светорассеивающих материалов

Изобретение относится к устройствам для анализа проб и предназначено для загрузки-выгрузки проб при анализе образцов веществ, например, на низкофоновых бета-или фоторадиометрах

Изобретение относится к технической физике, более конкретно, к фотометрии, и может быть использовано при создании технологии инструментальной оценки параметров качества авиационных оптико-электронных средств (ОЭС) и систем дистанционного зондирования (ДЗ) на основе методов автоматизированной обработки и анализа изображений наземных мир, полученных ОЭС в натурных условиях, а также в разработках конструкций наземных мир видимого и инфракрасного диапазонов электромагнитного спектра
Наверх