Патент ссср 293204

 

ОП ИСАЫИ Е

ИЗОВРЕТЕЫИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

293204

Сова Советских

Социалистических

Респт6лин

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 04.Х!.1968 (№ 1283217/29-33) МПК G Oln 21/32 с присоединением заявки ¹

Комитет по лелем нзо0ретени4 и отнрыти4 при Совете Министров

СССР

Приоритет

Опубликовано 15,1.1971. Бюллетень ¹ 5

Дата опубликования описания 11.III.1971

УДК 676.019:620.179 (088.8) ВСЕСО, " 1 НА Я

i! I ii.!i0

Г. Э. Финкельштейн

О я . * i научно-исследовательский институт целлюлозно-бумажной промышленности

Автор изобретения

Заявитель Украинский

СПОСОБ КОНТРОЛЯ СТРУКТУРНЫХ СВОЙСТВ БУМАГИ

Предмет изобретения

Известный способ контроля структурных свойств бумаги путем просвечивания движущегося полотна световым лучом, разделения фототоков фотоэлемента, воспринимающего прошедший сквозь бумагу свет, на постоянную и переменную составляющие, поддержания первой на неизменном уровне и частотном анализе второй.

Цель изобретения — исключить погрешность, связанную с завышением интенсивности для более крупных неоднородностей.

Достигается это тем, что по предло>кенно„»у способу в процессе частотного анализа поддерживают постоянным произведение текущего значения частоты и диаметра светового луча.

Осуществляют способ следующим образом.

В процессе аппаратурного анализа отношеR ние — поддер>кивают постоянным во всем

20 диапазоне анализируемых частот (R — радиус светового пятна; т — размер «облаков», лале) .

Для этого синхронно с изменением анализируемой частоты (т. е. настройки анализатора спектра или скорости движения бумаги) производят пропорциональное изменение радиуса светового пятна таким образом, что от) ношение — сохраняется постоянным. Текущее3О т значение анализируемой частоты f равно:, откуда !n = и — = =const, v о 9 2Rf

rm rf т v где v — скорость движения бумаги, лтлт/сек.

Если анализируемые частоты линейно возрастают со временем, то размереы анализируемых «облаков» линей но уменьшаются, и с такой же скоростью уменьшается радиус светового пятна, сохраняя постоянным произведение частоты и диаметра светового пятна.

Однако общий световой поток в просвечивающем пятне не должен изменяться, чтобы разность фототоков сохраняла свое первоначальное значение. Поэтому в процессее анализа постоянную составляющую фототока поддер>кивают неизменной, для чего с уменьшением радиуса светового пятна увеличивают его освещенность обеспечивая постоянство светового потока.

Способ контроля структурных свойств бумаги путем просвечивания движущегося полотна световым лучом, разделения фототоков фотоэлемента, воспринимающего прошедщий сквозь бумагусвет на постоянную и переменную составляющие, поддержания первой на

293204

Составитель В. Распопова

Редактор Э. Н. Шибаева Техред Л. Я. Левина Корректор Г. С. Мухина

Заказ 526/12 Издат. М 240 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типогра4ия. пр. Сапунова, 2 неизмененном уров не и частотном анализе вто-. рой, отличающийся тем, что, с целью исключения погрешности, связанной с завышением интенсивности для более крупных неоднородностей, в процессе частотного анализа поддерхкивают постоянным произведение текущего значения частоты и диаметра светового луча.

Патент ссср 293204 Патент ссср 293204 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптическому приборостроению

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в фотографической, бумажной, текстильной и металлообрабатывающей промышленностях для проверки качества движущихся ленточных гибких материалов

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к отделочному производству текстильной промышленности, а именно к устройствам контроля качества поверхности текстильных полотен, в частности, при отделке полотен на печатных валах, и может быть использовано в браковочных отделах ткацкого и отделочного производств

Изобретение относится к оптическим дифракционным методам неразрушающего контроля структурных геометрических периодических параметров непрозрачных тканых полотен любой природы, а также может найти применение при контроле любых пропускающих свет или не пропускающих свет плоских текстильных полотен, которые недоступны для непосредственного дифракционного анализа, но доступы для фотографирования, например музейные тканые образцы

Изобретение относится к устройству и способу контроля поверхности объекта для идентификации поверхностных характеристик типа дефектов структуры

Изобретение относится к оптическим дифракционным методам неразрушающего контроля структурных геометрических периодических параметров тканных или трикотажных полотен любой природы и может найти применение при контроле любых не пропускающих свет плоских материалов, имеющих на поверхности оптический периодический рельеф, которые недоступны для непосредственного дифракционного анализа, но доступны для ксерокопирования
Наверх