Способ рентгенорадиометрического аналгл*к:но-!4;х<<«- :;;-кдя1о'-^

 

0 П И С А Н И Е 296987

ИЗОЫРЕт ЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 27Л1!.1970 (№ 1422133/26-25) с присоединением заявкй №

Приоритет

Опубликовано 021II.1971. Бюллетень № 9

Дата опубликования описания 23Х1.1971

МНК G 01n 23/02

Комитет по делам изобретений и открытий при Соеете Министров

СССР

УДК 620.1(088.8) Авторы .изобретения

М. А. Слуцкин и К. Ш. Ходжаев

Всесоюзный научно-исследовательский и проектный институт.Заявитель механической обработки полезных ископаемых

ЭО HАЯ

СПОСОБ РЕНТ ГЕНОРАДИОМЕТРИЧЕСКО ГО АНАЛ

ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА ВЕЩЕСТВА

Известен способ рентгенорадиометрического анализа элементного состава вещества, основанный ка измерениях интенсивности характеристического излучения анализируемого элемента и обратного бета-рассеяния от исследуемых проб.

Согласно настоящему способу концентрацию химического элемента в веществе определяют по результатам измерений двух величин: интенсивности характеристического излу чения анализируемого вещества и интенсивности обратного бета-рассеяния от анализируемого элемента с помощью предварительно построенной градуировочной палетки. Это по::вышает точность и экспрессность анализа.

Для построения палетки подбирают или ,изготовляют эталонные пробы с известной концентрацией анализируемого 1элемента и с наполнителем различного состава. Свойства наполнителя, характеризующие его влияние на интенсивность характеристического излучения .и обратного бета-рассеяния, т. е. массовый коэффициент поглощения .и эффективный атомный номер, в эталонных пробах должны изменяться в пределах, совпадающих с пределами их возможного изменения в совокупности вещества, подлежащих анализу.

Для эталонных проб измеряют указанные выше интенсивности излучений. Затем на плоскости, где одной координатой служит концентрация анализируемого элемента, а другой — интенсивность его характеристического излучения, отмечают точки, соответствующие одному и тому же значению .интенсивности обратного бета-рассеяния, и проводят линию, проходящую посередине получившегося множества точек. Такие линии проводят для различных значений интенсивности обратного бета-рассеяния и помечают ее значениями.

Чтобы определить концентрацию, нужно измерить для пробы интенсивность обратного бета-рассеяния и характеристического излучения, найти на палетке линию, помеченную значением интенсивности обратного бета-рассеяния, равным измеренному значению, и отыскать на этой линии точку, в которой интенсивность характеристического излучения имеет значение, равное .измеренному для пробы.

2о Значение концентрации в этой точке дает искомое значение концентрации в пробе. Если линия, соответствующая измеренному значению обратного бета-рассеяния, не нанесена на палетку, следует провести интерполяцию.

2> Палетку можно строить и в координатах интенсивность обратного бета-рассеяния концентрация анализируемого элемента.

Тогда на нее наносят средние линии множества точек с одинаковыми значениями интен3о сивности характеристического излучения. Это

296987

Составитель Е. И..Шульгин

Техред Л. Л. Евдонов Корректор О. С. Зайцева

Редактор Б. Б. Федотов

Заказ 1125/4 Изд. № 486 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Сонете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 может облегчить отсчеты за счет иного соотношения геометрических размеров палетки.

Палетку, построенную при одинаковых условиях облучения и измерения, можно использовать и при других условиях. Для этого нужно измерить и зафиксировать интенсивности излучений для контрольного образца и промерять этот образец при построении палетки и анализах. При этом для построения палетки и отсчетов по ней нужно использовать не измеренные значения интенсивностей излучений для пробы, а их приведенные значения, получаемые умножением измеренных значений на коэффициент, равный отношению зафиксированной интенсивности соответствующего вторичного излучения от контрольного образца к его интенсивности в условиях, когда обмерялась данная эталонная или анилизируемая проба. Это расширяет область применения методов экспрессанализа.

Предмет,изобретения

1. Способ рентгенорадиометрического анал иза элементного состава вещества, основан4 ный на измерениях интенсивности характеристического излучения анализируемого элемента и интенсивности обратного бета-рассеяния от исследуемых проб, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и экспрессности анализа, строят градуировочную палетку, представляющую собой семейство кривых зависимости интенсивности характеристического излучения анализируемого элемента от его концентрации при различных фиксированных значениях интенсивности обратного бета-рассеяния, измеряют интенсивности характеристического излучения и обратного бета-рассеяния в анализируемой пробе и определяют искомую концентрацию анализируе.мого элемента.

2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что палетку строят в виде семейства кривых зависимости интенсивности обратного бета-рассеяния от концентрации анализируемого элемента при различных фиксированных значениях .интенсивности характеристического излучения.

Способ рентгенорадиометрического аналгл*к:но-!4;х<<«- :;;-кдя1о-^ Способ рентгенорадиометрического аналгл*к:но-!4;х<<«- :;;-кдя1о-^ 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающему контролю с использованием рентгеновского излучения и может быть использовано для контроля материалов и изделий радиационным методом в различных отраслях машиностроения

Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии объекта и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта контроля и идентификации веществ, его составляющих

Изобретение относится к области радиационной техники, в частности к способам поперечной компьютерной томографии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для оценки качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно - дефектоскопии с использованием радиоактивных источников ионизирующего излучения и коллимированных блоков детекторов

Изобретение относится к области дефектоскопии, в частности к неразрушающему контролю качества кольцевых сварных швов магистральных трубопроводов методом панорамного просвечивания проникающим излучением, и может быть эффективно использовано при строительстве газо- и нефтепроводов или их ремонте

Изобретение относится к компьютерной томографии, основанной на получении изображения объекта по малоугловому рассеянному излучению

Изобретение относится к устройствам для рентгеновских исследований с использованием малоуглового рассеянного излучения
Изобретение относится к области технологии коллиматоров, применяемых в гамма-камерах и других радиационных приборах

Изобретение относится к области дефектоскопии, в частности к неразрушающему контролю качества кольцевых сварных швов магистральных трубопроводов способом просвечивания проникающим излучением, и может быть использовано при строительстве газопроводов и нефтепроводов или их ремонте, находящихся под водой
Наверх