Полупроводниковый тензорезистор

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОВРЕТЕН И Я

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

302589

Союз Соввтскнк

Социалистическик

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹

МПК 6 01Ь 7/16

Заявлено 17.111.1969 (№ 1316047/25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 28.1т/.1971. Бюллетень № 15

Дата опубликования описания 14.VI.1971

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 53.082.72(088.8) Авторы изобретения, А. В. Сандулова. И. И. Марьямова, В. М. Рыбак и 1О. И. Заганяч

Заявитель

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ТЕНЗОРЕЗИСТОР

Предмет изобретения

Изобретение относится к области полупроводниковой тензометрии и может быть использовано для измерения деформаций и механических напряжений деталей и конструкций.

Известен полупроводниковый тензорезистор на основе антимонида галлия тт-типа, BbIII0.7ненный в виде нитевидного кристалла.

Цель предлагаемого изобретения — повысить тензочувствительность подобного рода тензорезисторов.

Это достигается тем, что тензорезистор выполнен в виде монокристалла, выращенного в кристаллографическом направлении (111) посредством химических газотранспортных реакций.

Полупроводниковый тензорезистор выполнен следующим образом. Нитевидные кристаллы антимонида галлия выращивают методом химических газотранспортных реакций в закрытой ампуле. В роли транспортирующего агента испо.»ьзуют йод и бром. В кварцевую ампулу объемом примерно 60 сл загружают галлий и сурьму в стехиометрическом соотношении, йод и бром в количестве 30—

200 лг и тсллур в качестве легирующего компонента в количестве, необходимом для по»;-чения концентрации примесей 10" сл . Посл откачки до вакуума 10 — л.п рт. ст. и отпайки ампулу помещают в печь, где температура зоны источника составляет 650 — 800 С, а Teмпература зонь, кристаллизации 450 — 550 С.

При небольшом перепаде температуры из

40 — 50 лг йода вырастают кристаллы совершенной формы,с идеально гладкими гранями.

Выращенные нитевидные кристаллы имеют

10 форму правильных трехгранных призм толщиной 20 — 40 лк, длиной от 3 до 10 лл, вытянутых вдоль кристаллографического направления (111). Коэффициент тензочувствптельности нитевидны. кристаллов антимони15 да галлия и-типа с концентрацией примесей

1,4. 10" сл равен — 110.

20 Полупроводниковый тензорезистор на основе антимонида га»лия а-типа, выполненный в виде нитевидного пристал 7а, отличаюп1пася тем, что, с целью повышения тензочувствнтельности, он выполнен в виде монокрнстал25 ла, выращенного в криста.»лографич .сном направлении (111) посрсдсгвом химических г»зотранспортных реакций.

Полупроводниковый тензорезистор 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерению и контролю напряжений в конструкциях любого типа

Изобретение относится к испытательной технике и имеет целью повышение точности способа определения изгибной жесткости объектов, изготовленных из композиционных материалов

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к средствам измерения деформаций конструкций летательных аппаратов при испытаниях на прочность

Изобретение относится к области автоматизации процессов взвешивания, дозирования и испытания материалов

Изобретение относится к средствам измерения динамической деформации, измеряющим динамическое деформируемое состояние инженерных конструкций

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам, контролирующим перемещение деталей машин, и может быть использовано в системах контроля машинами и оборудованием
Изобретение относится к электрорадиотехнике, а в частности к технологии изготовления прецизионных фольговых резисторов, а также может быть использовано при изготовлении резисторов широкого применения
Наверх