Датчик толщины осадка

 

О П И С А Н И Е 309229

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Сама Советских

Сацналнстическнх

Реопублнн

Зависимое от авт. свидетельства ¹.ЧПК G Olb 7!34

Заявлено 27 11,1970 (№ 1409792/25-28) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 09. 11.1971. Бюллетень № 22

Комнтет по делам наебретеннХ н аткрытнХ прн Совете Министров

СССР

УДК 531.715.2(088.8)

531.717.53 (088.8) Дата опубликования описания 13.IX,1971

Авторы изобретения В. М. Курбатов, Ф. Я. Николаев, Г. Н. Павлыгин и Ю. П. Пресняков

Заявитель

L..

ДАТЧИК ТОЛЩИНЫ ОСАДКА

Известны датчики толщины осадка, содержащие электроды, погружаемые в сосуд с жидкостью, включенные в схему измерения емкости между этими электродами. Однако точность контроля тонких слоев осадка этими датчиками недостаточная.

Предлагаемый датчик отличается от известных тем, что, с целью повышения точности и чувствительности при контроле тонких слоев диэлектрических осадков, электроды выпал- 10 иены в виде плоских гребенок, нанесенных на плоское диэлектрическое основание, устанавливаемое на дне сосуда.

Для повышения точности и надежности кон- 15 троля датчик снабжен вторым диэлектрическим основанием с нанесенными электродами, располагаемым на боковой части корпуса сосуда.

На фиг. 1 и 2 представлены соответственно 20 эскиз датчика и его компановка в сосуде с ж идкостью.

Датчик содержит плоские электроды 1 в виде плоских гребенок, нанесенных на плоское . диэлектрическое основание 2, устанавливае- 25 мое на дне сосуда 3. Кроме того, датчик имеет второе диэлектрическое основание 4 с нанесенными электродами, распологаемым на боковой части этого сосуда. Электроды 1 включены в схему 5 измерения емкости.

Датчик функционирует следующим образом.

Осадок 6, в виде тонкого слоя покрывающий основание 2, приводит к изменению емкости между электродами, нанесенными на это основание. Баланс схемы 5 измерения емкости нарушается, и на выходе ее появляется электрический сигнал, соответствующий контролируемой толщине осадка.

Предмет изобретения

1. Датчик толщины осадка, содержащий электроды, погружаемые в сосуд с жидкостью, включенные в схему измерения емкости между этими электродами, от,гичаюцийся тем, что, с целью повышения точности и чувствительности при контроле тонких слоев диэлектрических осадков, электроды выполнены в виде плоских гребенок, нанесеннblx на плоское диэлектрическое основание, устанавливаемое на дне сосуда.

2. Датчик по п. 1, от,гичаюигийсл тем, что, с целью повышения точности и надежности контроля, он снабжен вторым диэлектрическим основанием с нанесеннымн электродами, располагаемым на боковой части корпуса сосуда.

309229

Фиг.3

Фиг.2

Составитель А. Духанин

Редактор Г, К. Гончарова Техред А. А. Камышникова Корректор В. Жолудева

Заказ 2464)6 Изд. № 1008 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 7Ê-35, Раушская наб., д., 4(5

Типография, пр. Сапунова, 2

Датчик толщины осадка Датчик толщины осадка 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к средствам обнаружения движения активного устройства относительно поверхности для управления работой этого устройства при обработке поверхности

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано при активном контроле шероховатости поверхности детали в процессе ее обработки преимущественно на станках токарной группы

Изобретение относится к области материаловедения, точнее к исследованию поверхностной структуры кристаллов и пленок в мезоскопическом диапазоне размеров методом атомно-силовой микроскопии и прецизионному инструментарию для научных и производственно-технологических исследований

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров и других характеристик объектов, преимущественно в биологии, с одновременным оптическим наблюдением объекта в проходящем через объект свете

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а именно к способам измерения характеристик приповерхностного магнитного поля с применением сканирующего зонда (атомно-силового микроскопа, магнитосилового микроскопа)

Изобретение относится к транспортной измерительной технике и предназначено для использования при измерении ускорения автомобиля в системе электронного управления двигателем
Наверх