Образец строительного материала для испытаний

 

3IOI56

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено 26.V1.1969 (№ 1342386/29-33) МПК G 01п 1/28 с присоединением заявки ¹

Приоритет

Комитет по делам иаобретений и открытий при Совете Министров

СССР

ЪДК 620.11(088.81Опубликовано 26.V11.1971. Бюллетень ¹ 23

Дата опубликования описания 20.Х.1971

Автор изобретения

И. А. Рохлин

Научно-исследовательский институт строительных конструкций

Заявитель

ОБРАЗЕЦ СТРОИТЕЛЬНОГО МАТЕРИАЛА ДЛЯ ИСПЪ|ТАНИЙ

1=h — — а/g .

3 где /т — высота образца, а — толщина образца, Известен испытуемый образец строительного материала в виде прямоугольной призмы с держателями индикаторов.

Цель изобретения — повысить точность измерения продольных и поперечных деформаций.

Достигается это тем, что держатели расположены в плоскостях, проходящих через центры тяжести пирамид сдвижения по вертикальной оси каждой грани образца с базой t, равной h — т/з a tg n, и по горизонтали — на уровне центров тяжести пирамид сдвижения симметрично относительно вертикальной оси образца с базой а;, равной 5/6 а, и расстоянием от каждой опорной поверхности образца Х., равным — fgn, причем каждый держатель

6 индикатора прикреплен к образцу при помощи штыря, введенного для измерения продольных деформаций в тело образца на глубину, равную /> а, и заделанного быстротвердеющим раствором на длину, равную

1/о а, а штыри для измерения поперечных деформаций введены в тело образца на глубину, равную от /э до / а, и заделаны быстротвердеющим раствором на всю длину, n — угол, образуемый опорной поверхностью образца и стороной пирамиды движения.

На чертеже представлен испытуемый образец и приняты следующие обозначения:

1 — места крепления держателей индикаторов и упорных площадок; 2 — штырь; 8 — быстротвердеющий раствор. Пунктиром указаны пирамиды сдвижения.

1о Отношение высоты образца h к толщине а в зависимости от маркп материала равно: для марок

35 — 50 г . 1

75 — 200 3:1

15 300 †6 4:1

700 †10 5:1

Измерение продольных деформаций производится на базе, располагаемой на вертикальной оси каждой грани образца и равной

20 расстоянию между центрами тяжести пирамид сдвижения

25 Измерение поперечных деформаций производится по горизонтали на уровне положения центра тяжести пирамиды сдвижения со стороны каждой грани. Расстояние центра тяжести от каждой опорной площадки приниЗО мается равным:

310156

5 а =- — а, l

Составитель A. Акимова

Текред Т. П, Курплко

Коррек; оры. В. П -трона и Е. Ласточкина

Редактор 3. Н. Шибаева

Заказ 2536)2 Изд. № 1076 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр, Сапунова, 2 х,= — tg., 6 а величина базы измерения, располагаемой симметрично относительно вертикальной оси, принимается равной

Крепление к образцу держателей индикаторов и упорных площадок для измерения продольных деформаций производится при помощи штырей, закладываемых в отверстия, высверленные в теле образца на глубину, равную /з а.

Заделка штырей осуществляется на быстротвердеющем высокопрочном растворе или клее, только в глубине отверстия на расстоянии 1/< а от внутреннего конца штыря, Внешняя часть штыря на длину, равную /в а, остается свободной и должна иметь возможность свободного перемещения на 1 — 2 мм, при деформировании образца в пределах пирамиды сдвижения.

Крепление штырей для измерения поперечных деформаций осуществляется с заделкой на всю глубину отверстия от /а до / а.

Предмет изобретения

Образец строительного материала для испытаний, например, керамики в виде прямоугольной призмы с держателями для индикаторов, отличаюи ийся тем, что, с целью повышения точности измерения продольных и поперечных деформаций, держатели располо5 жены в плоскостях, проходящих через центры тяжести пирамид сдвижения по вертикальной оси каждой грани образца с базой 1, равной h — /в а tgcc, и по горизонтали на уровне центров тяжести пирамид сдвижения

10 симметрично относительно вертикальной оси образца с базой ав равной /.- а, и расстоянием от каждой опорной поверхности образца Х„ равным — tgn, причем каждый держатель

15 индикатора прикреплен к образцу при помощи штыря, введенного для измерения продольных деформаций в тело образца на глубину, равную /в а, и заделанного быстротвер20 деющим раствором на длину, равную /< а, а штыри для измерения поперечных деформаций введены в тело образца на глубину, равную от /а до / а, и заделаны быстротвердеющим раствором на всю длину, 25 где h — высота образца, а — толщина образца, а — угол, образуемый опорной поверхностью образца и стороной пирамиды

30 сдвижения.