Установка для исследования однородности зернистой структуры металлов

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 31.Х.1969 ()ч . 1372416/22-1) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет—

Опубликовано 09Х111 1971. Бюллетень ¹ 24

Дата опубликования описания 1.XI.19 1

01п 21/00

Комитет по делаю изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

5.43 (088.8) К. И. Бахтияров, А. А. Лисов, Б. А. Черепашенец, Г. М. Полуэктова, Г. Н. Овчаренко и T. М. Винникова

Авторы изобретения

Заявитель

Московский инженерно-строительный институт им. В, В. Куйбышева

УСТАНОВКА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ОДНОРОДНОСТИ

ЗЕРНИСТОЙ СТРУКТУРЫ МЕТАЛЛОВ

Изобретение относится к установкам, предназначенным для исследования структуры металлов, а именно для,п роведения автоматического анализа однородности зернистой структуры металлов по их микрошлифам.

Известна устаиовка для исследования од.но родности зернистой .структуры металлов, состоящая из оптического п роектора, фотоэлектронного ухтножителя (ФЭУ) IH предметного столика. Однако для такой установки характерна руч ная об рабютка информации, что в|носит большую субъективную ошибку.

Предложенная установка отличается тем, что на микроскопе смонтированы трансфокатор и,призма, дискретно в ращаемая мальпийским механизмом, a:âûõ îä фотоумножителя соединен со;вторичным прибором. Это позволяет автоматизировать п роцесс определения структуры металлов.

На чертеже изображена блок-:схема предложенного уст1ройства.

Установка имеет металлюпрафический микроскоп 1 (МИМ-8), трансфокатор 2, призму

8, мальтийский .механизм 4, фотоэлектронный умнюж итель (ФЭУ) 5,:вторичный цриб9р 6 (вольтметр эффективных значений В-36) вт электродвигатель 7.

Световой поток, отражясь от поверхности

IHKpolllëèôà металла (шлпф установлен на предметном столетке металлографического ,микроскопа 1), создает на выходе мпкроскопа увеличенное изображение шлифа. Это изображение .попадает на трансфокато р 2, с помощью которого изменяют масштаб изображения IH обеспечивают поступление сзетового сигнала от малого (точечного) участка поверхности микрошлифа. С помощью, призмы

3, приьодимой в движение электродвигателе;I

7 и вращающейся в подшипнике скольжения, осуществляют в р ащение изюбражен ия микрошлифа, лоэтохту на катод фотоумножителя 5 попадают последовательно все новые и новые точечные участки шлифа.

Радиус окружности, по кото рой происходит оптическое сканирование шлнфа, меняют. смещая центр фотоумножителя относительно оптической оси объектива микроскопа, Дискретное прерывистое вращение лризмы осуществляют с помощью мальпийского механизма, ловорот которого на 0,25 оборота соответствует такому перемещению призмы, чтобьr

«а катод ФЭУ попадал смежный участок изображения .микрошлифа. Электрические импульсы,с выхода ФЭУ попадают на вольтмет1р эффективных значенсий, по .показаниям которого производят количественную оценку однородносч и зернистой структуры металл а, Предмет изоб рстения

Составитель Н. Абросимов

Техред Т. П, Курилко Корректор В. ll. Федулова

Редактор Т. Фадеева

Заказ. 394/!379 Изд. М 1093 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва„Ж-35, Раушская наб., д. 4, 5

Тип, Харьк. Фил. пред, «Патент>

Установка для исследования однородносч и зернистой с врукту ры металлов, состоящая из оптического проектора, фотоэлектронного уггножителя и предметного столика, от.ги гаюи аясл тем, ITo, с целью автоматиза:tl!H liðîцссса агнализа одггородчосттг, на микроскопе смонтированы трансфокатор и призма, дпскгретно врагцаемая мальтийским мехаггизмом, а выход фотоуагно>кителя соединен со вторггчныл прибором.

Установка для исследования однородности зернистой структуры металлов Установка для исследования однородности зернистой структуры металлов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх