Икроструктуркого исследования материалов

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства Л

М. Кл. G 01п 1/32

Заявлс»о 25,V1.1970 (№ 1452998/22-1) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 07.1.1972. Бюллетень ¹ 3

Дата опубликования описания 24.11,1972

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 620.18.4(088.8) Авторы изобретения

М. Г. Лозинский, А. И. Тананов и В, К. Кузищев

Институт машиноведения

Заявитель

СПОСОБ МИКРОСТРУКТУРНОГО ИССЛЕДОВАНИЯ

МАТЕРИАЛОВ рат рпую р:".бт|ую камеру типа сосуда Дьюар а, =оде1>ж ащу|о еж»же»ный Газ (aзот, ap— гон, воздух и т. д.). После прекращения интенсивного кипения, сжиженного газа (при выравнивании температур образца, деталей механизма нагруже»ия и хладагента) производят механическое нагруженпе и через прозрачный слой жидкого газа и схтотро вые стекла осуществляют непосредственное наблюдение (фотографирование илп киносьемку полированной поверхности образца с помощью металлографического микроскопа).

С Iocoo микростр (KTvp»oi исследования материалов при,низк|ох температурах, отлиисиои|ийся тем, что, с целью получения прямых экспериментальных данных о отинети ке изменения строения .материало в при деформирован»и, их помещают в среду сжиженного газа и наблюдение за разви вающпхося на поверхности рельефом ведут непосредствен»о через прозрачный слой этого газа, Известен способ микроструктур»ого исследования»»зкотсхо»сратурной металлографии материалов при низких температурах. Однако он не позволяет осуществлять прямое наблюдение за .кипетикой изменения строения. материалов.

Для лолучения прямых экспериментальных данных о кинетике изменения строения материалов |при деформировании их помещают в среду сниженного газа и наблюдение за раз- Io ви вающимея iHB поверхности рельефом ведут непосредственно через прозрачный слой этого газа.

Способ позволяет изучать особенности»еханизма деформации, фазовых и структурных 15 превращений IB,металлах и,сплавах при различных температурах, определяемых выбором хладагента (сжиженного газа).

Исследуемый образец с приготовленным на нем металлографичеоким шлифом укрепляют 20

/шлифом вниз) в горизонтально расположенных захватах нагружающего устройства, позволяющего, например, проводить одноосное растя>кение, и погружают в низкотемпеПредмет изобретения

Икроструктуркого исследования материалов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к медицине, а именно к анатомии, топографической анатомии, патологической анатомии и может быть использовано для изучения лимфоидных узелков в тотальных анатомических препаратах макромикроскопическом поле видения в норме, в возрастном аспекте, в эксперименте и патологии

Изобретение относится к анализу экологического состояния и мониторинга окружающей среды, в частности воздушного бассейна

Изобретение относится к технике отбора проб сжатых газов и воздуха при контроле в них содержания примесей масла, влаги, окиси углерода, двуокиси углерода и других примесей преимущественно линейно-колористическим методом с использованием индикаторных трубок

Изобретение относится к медицине, а именно к нейрогистологическим методам исследования

Изобретение относится к медицине, а именно к нейрогистологическим методам исследования
Изобретение относится к медицине, точнее к технике изготовления гистологических образцов различных тканей, и может быть использовано при дифференциальной диагностике патологических состояний организма

Изобретение относится к цитологии
Наверх