Способ контроля поверхности металлизированных оснований резисторов

Авторы патента:

H01C17 - Способы и устройства, специально предназначенные для изготовления резисторов (для заполнения корпусов или оболочек H01C 1/02; уменьшение изоляции вокруг резистора путем заполнения порошком H01C 1/03; изготовление терморегулируемых резисторов H01C 7/02, H01C 7/04)

G01N21/21 - свойства, влияющие на поляризацию (G01N 21/19 имеет преимущество)

ОГ1ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹â€”

Заявлено 08.IV.1969 (№ 1319813/26-9) с присоединением заявки ¹â€”

Приоритет

Опубликовано 10Х111.1972. Бюллетень № 24

Дата опубликования описания 23Х111.1972

М. Кл. Н Olc 17/00

G 01г 31/11 комитет по делам изобретений и открытий при Совете министров

СССР

УДК 621.396.69(088.8) Авторы изобретения

Я. А. Склярский, О. М. Тесеоглу и М, П. Чулок

Заявитель

СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПОВЕРХНОСТИ

МЕТАЛЛИЗИРОВАННЫХ ОСНОВАНИЙ РЕЗИСТОРОВ

Предмет изобретения

Изобретение относится к электронике и может быть использовало в производстве резисторов.

Известные способы контроля поверхности металлизированных оснований резисторов, основанные на использовании поляризованного света, имеют недостаточную точность контроля и не предоставляют возможности их авгоматизации.

Предлагаемый способ не имеет этих недостатков и отличается от известных тем, что производят поляризационный анализ интенсивности луча, отраженного от контролируемой поверхности, причем фазовые сдвиги компонентов луча сводят к минимуму.

Предлагаемый способ заключается в том, что поверхность исследуемой детали с помощью спиральной развертки освещают точечным лучом, диаметр которого соизмерим с размерами минимальных дефектов. Отраженный луч подается на фотоприемник. На пути падающего и отраженного лучей установлены соответственно поляризатор и анализатор поляризованого света, плоскости которых скрещены, При этом места с оголеной керамикой будут белыми на фоне черного проводящего слоя.

Световой поток, проходя через поляризатор, становится линейно поляризованным. Отражаясь от проводящего слоя, линейно поляризованный световой поток становится эллипти5 чески поляризованным, и, проходя через анализатор, плоскость которого скрещена с плоскостью поляризатора, гаснет. Отражаясь же от поверхности керамического основания, поляризованный световой поток дополяризуется

10 вследствие того, что керамика обладает сильным диффузным рассеянием. Диффузно рассеивающая поверхность имеет свойство дополяризовывать свет любой поляризации, поэтому световой поток, отраженный от поверхно15 сти керамики, нс изменяет своей интенсивности, проходя через анализатор.

20 Способ контроля поверхности металлизированных оснований резисторов, основанный на использовании поляризованного света, оглачаюи1айся тем, что, с целью повышения точности контроля и возможности его автоматиза25 ции, производят поляризационный анализ интенсивности луча, отраженного от контролируемой поверхности, причем фазовые сдвиги компонентов луча сводят к минимуму,