Ьибдиотг-наи. и. петручук

 

0 П И С А Н И Е 352234

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Сомэ ссветскиэ

Сацивлистическин

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 15Х.1970 (№ 1438808/26-9) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 21.1Х.1972. Бюллетень ¹ 28

Дата опубликования описания 17Л1.1972.Ч. Кл. G Оlг 27!02

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете й1ииистрое

СССР

УДК 621.382(088.8) Автор изобретения

ggPgC1rG H< р т ЯЯ-Т,I Iт1",j 111Ð1 вЩтЛМЯ 1ЕХА

И. И. Петручук

Заявитель

КОАКСИАЛЬНАЯ КАМЕРА о

2 1т — 1

Изобретение относится к технике измерений.

Известны коаксиальные камеры для измерения параметров эквивалентной схемы двухполюсников СВЧ, содержащие отрезок коаксиальной линии и последовательный контур, образованный емкостью измеряемого образца, индуктивностью ввода и дополнительной индуктивностью.

При использовании этих камер результаты измерений содержат стогрешности, обусловленные распределенной емкостью дополнительной индуктивности.

С целью повышения точности измерений дополнительная индуктивность выполнена в виде сменного металлического штыря, установленного в отверстии центрального проводника соосно с измеряемым образцом, укрепленным с помощью держателя во внешнем проводнике коаксиальной линии.

На чертеже показана предложенная коаксиальная камера, вид сбоку с частичным разрезом.

Коаксиальная камера состоит из корпуса 1, центрального проводника 2, разъемов 8, 4 для включения камеры в измерительный тракт, развязок 5, б по постоянному току для подачи смещения на образец 7 и последовательного контура, включающего в себя емкость образца, индуктивность ввода 8 и дополнительную индуктивность в виде сменного металлического штыря 9, установленного в центральном .проводнике соосно с измеряемым образцом.

Измерение параметров эквивалентной схеMbI различных двухполюсников, например варакторов, в СВЧ-диапазоне с помощью предложенной камеры производится следую10 щим образом.

Изменением частоты СВЧ-сигнала или смещения на измеряемом образце устанавливается резонанс последовательного контура по минимуму мощности, проходящей через ка15 меРУ .

В этом случае последовательное эквивалентное сопротивление образца R, равно: где гс — волновое сопротивление камеры;

Т вЂ” коэффициент передачи, определяемый из соотношения: Т =

Р,, где P — мощность

Р2 в нагрузке прп отсутствии образца в линии, P. — мощность в нагрузке при условии последовательного резонанса контура с образ30 цозк

Ьибдиотг-наи. и. петручук 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике электрических измерений и предназначено для профилактических испытаний изоляции крупных электрических машин и аппаратов, имеющих большую постоянную времени

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для измерения резисторов, сосредоточенных сопротивлений и сопротивления изоляции в электрических цепях
Изобретение относится к исследованию и анализу материалов с помощью электрических средств и предназначено для контроля неоднородности электропроводного изделия по толщине материала, например, при проверки возможной подделки изделия в форме слитка из драгоценного или редкого металла

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения параметров индуктивных элементов, а также исследования и оценки свойств ферромагнитных материалов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в приборостроении для построения параметрических измерительных преобразователей, инвариантных к изменениям параметров источников питания и другим влияющим величинам

Изобретение относится к электроизмерительной технике, а именно к способам определения сопротивлений, и может быть использовано при экспериментальных измерениях

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано в качестве частотно-независимой меры активного сопротивления в диапазоне 1 - 100 кОм

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в приборостроении для построения параметрических измерительных преобразователей, инвариантных к изменениям параметров источника питания

Изобретение относится к электроизмерительной технике и предназначено для контроля параметров конденсаторов, катушек индуктивностей и резисторов в процессе их производства

Изобретение относится к бесконтактным неразрушающим способам измерения удельной электропроводности плоских изделий с использованием накладных вихретоковых датчиков
Наверх