Способ измерения кривизны световой волны
. ЕС.,Ь, о
О П И CA Н И Е
ИЗОБРЕТЕНИЯ
Союз Сосетскиз
Социалистичссииз
Республик
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 0 3.т 11.1970 (№ 1455068/26-25) с присоединением заявки ¹
Приоритет
Опубликовано 23.Х.1972. Бюллетень № 32
Дата опубликования описания 2.Ш.1973
М. Кл. б 01b 9/02
Комитет по делаю ивобретениК и стнрытий при Совете Министров
СССР
УДК 535.8(088.8) Авторы изобретения
А. А. Губчик и В. С. Сухоруких
Заявитель
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КРИВИЗНЫ СВЕТОВОЙ ВОЛНЫ
К=
j — л ($ — f) Ь
f2+ Ь(8+ f) (2) 30
Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано в экспериментальной газовой динамике, при изучении прозрачных неоднородных сред, при контроле оптических деталей.
Известные теневые способы измерения кривизны световой волны состоят в измерении с помощью теневого прибора направления лучей света и в последующем дифференцировании полученной таким образом эмпирической зависимости.
Недостатком этих способов является необходимость предварительного определения промежуточной величины (направления лучей света) и малая точность результатов, что связано с дифференцированием эмпирической функции.
Изобретение позволяет с более высокой точностью непосредственно измерять кривизну световой волны путем помещения в фокальную плоскость оптической системы приемной части теневого прибора нити или системы параллельных нитей решетки. Направление нити выбирают перпендикулярным тому плоскому сечению, в котором измеряется кривизна световой волны, затем выводят нить из ф окал ьной плоскости (р асфокусируют) . P асфокусировку производят при измерении положительной кривизны (сходящаяся волна) против хода лучей, при измерении отрицательной кривизны (расходящаяся волна)— по ходу лучей. Фотографируют теневую картину от расфокусированной нити (решетки) и на полученной фотографии находят вершины теней от нитей: точки, в которых прямые, перпендикулярные нити, касательны к середине тени.
В точках, совпадающих с вершинами теней, определяют кривизну сечения поверхности
10 световой волны плоскостью, перпендикулярной нити.
Для теневого прибора с зеркально-менисковой системой (серийный теневой прибор
ИАБ-451) кривизна К определяется по фор15 муле: где f — второе фокусное расстояние зеркально-менисковой системы;
Л вЂ” расфокусировка нити (Л)0 при расфокусировке против хода лучей);
S — отрезок, определяющий положение плоскости предмета относительно первой главной плоскости.
Для теневого прибора с линзовым объекти,вом кривизна К определяется по формуле:
356452
Предмет изобретения..
Составитель С. Соколова
Техред 3. Тараненко
Редактор Н: Коляда
Корректоры; Е. Сапунов и 3, Тарасова
Заказ 395/4 Изд. Хз 1640,. Тираж 406. Додписное.
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий: при; Совете Министров, СССР
Москва, 3К-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 где f †автоp фокусное расстояние линзового объектива;
Л вЂ” расфокусировка нити (Л)0 при расфокусиро вке по ходу лучей);
S — отрезок, определяющий положение плоскости предмета относительно лервой главной плоскости.
1. Способ измерения кривизны световой волны произвольной формы с помощью теневого прибора с визуализирующей диафрагмой в виде расфокусированной нити, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, нить расфокусируют в направлении, зависящем от знака кривизны волны, фотографируют теневую картину от нити, на фотографии находят вершину тени от нити и по известным из эксперимента параметрам определяют кривизну световой волны в вершине тени.
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что
10 с помощью расфокусировки нити. получают фотографии теневых картин с различным расположением вершины тени от нити и по фотографиям определяют кривизну световой волны по всему полю.
