Устройство для закрепления ленты на столике профилографа

 

Союз Советски

Социалистических

Республик

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено 31.Ч.1971 (№ 1662744/18-10) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 14 Ч1.1973. Бюллетень № 26

Дата опубликования описания 26.IX.1973

М. Кл. G 01b 5/28

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

УДК 531.71 7.82(088.8) Авторы изобретения

И. И. Марозас, Ю. П. Марозене и К. М. Рагульскис

Каунасский политехнический институт

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЗАКРЕПЛЕНИЯ ЛЕНТЫ

НА СТОЛИКЕ ПРОФИЛОГРАФА ней строго параллельно основанию располагают пластину 4, на которую воздействуют прижимным устройством 5.

Реологические свойства смолы таковы, что под действием давления P она деформируется, компенсируя перепады толщины ленты, в результате чего плоскость ленты устанавливается строго параллельно прижимающей ее пластине.

10 После затвердевания смолы снимают пластину 4. Закрепленный отрезок ленты, расположенный на основании 1, помещают под иглу профилографа и производят запись профиля рабочей поверхности исследуемой лен15 ты.

Устройство для закрепления ленты на столике профилографа, содержащее основание и

20 прижимное приспособление, отличающееся тем, что, с целью исключения влияния неровностей толщины ленты на результаты измерений, оно снабжено прижимной пластиной, распол ага емой параллельно основанию, и

25 пластичным телом, причем отрезок исследуемой ленты и пластичное тело размещены одно над другим на основании.

Изобретение относится к области приборостроения и может найти применение в устройствах для исследования свойств магнитной ленты, в частности для снятия профилограмм рабочей поверхности ленты.

Известны устройства для закрепления ленты на столике профилографа, в которых магнитная лента закреплена путем приклеивания ее в двух точках к основанию рабочего столика профилографа.

Однако такое закрепление ленты не дает возможности получить данные высокой точности из-за неодинаковой толщины ленты.

Для увеличения точности измерений путем ,исключения влияния неровностей толщины ленты предлагаемое устройство снабжено прижимной пластиной, располагаемой параллельно основанию, и пластичным телом, причем отрезок исследуемой ленты и пластичное тело размещены на основаниями одно над другим.

На фиг. 1 показано описываемое устройство до прессования; на фиг. 2 — после прессования.

На основании 1 рабочего столика профилографа размещают пластичное тело 2, например смолу, и магнитную ленту 3. Над последПредмет изобретения

386230

Фиг. 1

Фиг. 2

Редактор С. Хейфиц

Заказ 2571 2 Изд. № 1681 Тираж 755 Подписное

ЦИИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, %-35, Раушская наб., д. 4i5

Типография, пр. Сапунова, 2

Я ф .Г, Д

Составитель Т. Иванова

Техред Т. Ускова

Корректоры: С. Сатагулова п Л. Новожилова

Устройство для закрепления ленты на столике профилографа Устройство для закрепления ленты на столике профилографа 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к строительству и эксплуатации автомобильных дорог и предназначено для контроля несущей способности и ровности дорожных конструкций

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для оценки несущей способности поверхностных слоев изделий из различных материалов

Изобретение относится к технике контроля, в частности к устройствам контроля формы цилиндрических обечаек

Изобретение относится к измерениям точности формы поверхности, а именно к способам и устройствам для контроля отклонений от плоскостности

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения шероховатости поверхности в заводских условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам переноса зондов в высоковакуумных комплексах между различными технологическими модулями с использованием сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ)

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим измерение в режиме непрерывного сканирования в условиях низких температур

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов
Наверх